光电检测仪器可靠性评估方法和装置

    公开(公告)号:CN109059988B

    公开(公告)日:2021-04-16

    申请号:CN201810738449.6

    申请日:2018-07-06

    Abstract: 本申请涉及一种光电检测仪器可靠性评估方法包括如下步骤:获取对设定数量个光电检测仪器进行可靠性试验得到的试验数据。其中,试验数据为设定环境条件下,对光电检测仪器进行设定次数的可靠性试验得到的试验数据。设定环境条件为光电检测仪器的应用环境类别对应的试验条件。设定次数为光电检测仪器的MTBF指标对应的试验次数。根据试验数据,对各个光电检测仪器进行可靠性评估,得到可靠性指标。通过根据光电检测仪器的在应用环境类别对应的设定环境条件下,对被测的光电检测仪器开展设定次数的可靠性试验得到的试验数据,进行可靠性评估,有效、准确地试验得到光电检测仪器的可靠性指标,为光电检测仪器的生产或设计,提供产品改进的技术支撑。

    阴极寿命预测方法
    12.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112084688A

    公开(公告)日:2020-12-15

    申请号:CN202010830078.1

    申请日:2020-08-18

    Abstract: 本申请涉及电子束选区熔化增材制造技术领域,公开了一种阴极寿命预测方法。所述阴极寿命预测方法通过对所述EBSM打印设备进行打印试验,获取所述阴极在不同气压环境下,所述阴极的中毒深度与打印时间的变化关系,以建立所述阴极的中毒深度模型。在所述EBSM打印设备的实际使用过程中,通过对打印时间、电子枪内部的气压以及成形腔内部的气压进行监测,结合试验获得的所述阴极的中毒深度模型,获取所述阴极在打印过程中的中毒深度。通过中毒深度获取所述阴极的剩余寿命,以完成对所述阴极的寿命预测。本发明提供的所述阴极寿命预测方法是基于阴极的中毒失效机理来实现对实际EBSM打印过程中阴极的剩余寿命进行预测的,预测效果较为精准可靠。

    光电检测仪器可靠性评估方法和装置

    公开(公告)号:CN109059988A

    公开(公告)日:2018-12-21

    申请号:CN201810738449.6

    申请日:2018-07-06

    CPC classification number: G01D18/00

    Abstract: 本申请涉及一种光电检测仪器可靠性评估方法包括如下步骤:获取对设定数量个光电检测仪器进行可靠性试验得到的试验数据。其中,试验数据为设定环境条件下,对光电检测仪器进行设定次数的可靠性试验得到的试验数据。设定环境条件为光电检测仪器的应用环境类别对应的试验条件。设定次数为光电检测仪器的MTBF指标对应的试验次数。根据试验数据,对各个光电检测仪器进行可靠性评估,得到可靠性指标。通过根据光电检测仪器的在应用环境类别对应的设定环境条件下,对被测的光电检测仪器开展设定次数的可靠性试验得到的试验数据,进行可靠性评估,有效、准确地试验得到光电检测仪器的可靠性指标,为光电检测仪器的生产或设计,提供产品改进的技术支撑。

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