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公开(公告)号：CN209372128U
公开(公告)日：2019-09-10
申请号：CN201822075178.9
申请日：2018-12-11
Applicant: 上海精密计量测试研究所 , 上海航天信息研究所
Abstract: 本实用新型的基于多参数测试校准的虚拟仪器系统包括传感器、信号调理与采集模块和PC机；信号调理与采集模块是采用SC Express模块。本实用新型采用PXI先进总线架构，将诸多物理参数的测试功能集而合之，采用模块化层次结构设计，使得系统软硬件可扩展、可裁剪、可重用。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN209522366U
公开(公告)日：2019-10-22
申请号：CN201822074437.6
申请日：2018-12-11
Applicant: 上海精密计量测试研究所 , 上海航天信息研究所
IPC: B65H35/07
Abstract: 本实用新型提供了一种防静电胶带切割器，通过在切割器上安装带阻尼作用的齿轮传动装置，控制防静电胶带剥离时的速度，产生较少的电压，另外，切割胶带时由于通过接地可使产生的静电荷缓慢泄放，避免了使用防静电胶带封装元器件时仍然存在的静电损害风险及普通绝缘切割器受剥离起电影响带电从而二次放电危害元器件的可能。
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公开(公告)号：CN209521885U
公开(公告)日：2019-10-22
申请号：CN201822109943.4
申请日：2018-12-17
Applicant: 上海精密计量测试研究所 , 上海航天信息研究所
IPC: B64F5/60
Abstract: 本实用新型的飞行控制模拟器拉压载荷试验系统现场校准装置包括结构框架、加载机构、标准测量单元、上位机和微调机构；所述加载机构、标准测量单元和被校力传感器依次连接后安装在所述结构框架上；所述微调机构支撑所述加载机构，通过微调所述加载机构的位置使所述加载机构、标准测量单元和被校力传感器处于同一直线上；所述标准测量单元与所述上位机无线连接；被校力传感器与飞行控制模拟器连接。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN209371911U
公开(公告)日：2019-09-10
申请号：CN201822074420.0
申请日：2018-12-11
Applicant: 上海精密计量测试研究所 , 上海航天信息研究所
IPC: G01B3/18
Abstract: 本实用新型提供了一种千分尺量块专用固定工装，为了解决千分尺计量检定过程中测量准确性、可靠性、高效性三者间的矛盾，具体包括多个依次连接的阶梯平台，各阶梯平台上开设有不同宽度的方孔，所述方孔用于容纳不同中心长度的量块，其中，所述方孔的尺寸略大于待容纳的量块的尺寸，所述方孔的孔深略小于待容纳的量块1/2高度。其优点在于一方面，满足人体工学要求，便于快速测量千分尺的多个被测点示值误差，大大提高了工作效率。另一方面，不再需要操作人员手持量块避免了温度的影响，工装材料与量块材质相同更消除了两者间线膨胀系数差对溯源结果的影响，确保了测量准确性与可靠性。
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公开(公告)号：CN117870959A
公开(公告)日：2024-04-12
申请号：CN202311736902.7
申请日：2023-12-15
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种转位机构性能测试系统大惯量原位校准装置，其特征在于，包括：测试系统实物惯量原位校准装置、力矩测量单元、高精度转速测量单元、上位机；其中，所述力矩测量单元获取转位机构性能测试系统惯量模拟器模拟转动惯量状态下产生的摩擦力矩和输出力矩；所述高精度测角单元获取转位机构性能测试系统惯量模拟器的输入输出端的转速，计算真实传动比的值；所述实物惯量原位校准装置获取实物转动惯量；通过摩擦力矩和输出力矩、真实传动比的值以及实物转动惯量得到转位机构性能测试系统惯量模拟器模拟大量级转动惯量的值。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117890081A
公开(公告)日：2024-04-16
申请号：CN202311727038.4
申请日：2023-12-15
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种立方镜角值偏差的校准装置，其特征在于，包括：多齿分度台，二维摆台，和光电自准直仪；其中，所述立方镜放置于所述多齿分度台上；所述多齿分度台用于旋转90度标准角度；所述二维摆台用于调整立方镜“塔差”，确保立方镜底面法线与所述多齿分度台旋转轴绝对平行；所述光电自准直仪用于读取小角度量值进行立方镜偏差计算。
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公开(公告)号：CN116222482A
公开(公告)日：2023-06-06
申请号：CN202211632577.5
申请日：2022-12-19
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G01B21/22 , G06N3/0464 , G06N3/08
Abstract: 本发明公开了一种基于人工智能的转角原位校准装置和方法。该装置的特征在于，其包括加载机构(1)、调节机构(2)、校准连接件(3)、待校准轴(4)、待校准角度传感器(5)，调节机构(2)上下端分别为加载机构(1)和校准连接件(3)，加载机构(1)分别与调节机构(2)和校准连接件(3)连接，校准连接件(3)与待校准轴(4)连接，待校准轴(4)上固定有待校准角度传感器(5)。该方法的特征在于，包括构建双向长短时记忆网络BLSTM模型；生成损失函数；优化模型；得到函数关系。本发明的装置方法能消除在线校准干扰因子的影响，并解决无法对传感器进行直接校准的问题，具有高精度，易操作的优点。
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公开(公告)号：CN110893619A
公开(公告)日：2020-03-20
申请号：CN201911163153.7
申请日：2019-11-25
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: B25J9/16
Abstract: 本发明的一种基于激光跟踪仪的工业机器人位姿校准装置，采用激光跟踪仪加专用工装夹具通过多点跟踪测量实现机器人空间位姿的解算，从而实现机器人位姿的校准。该装置包括：激光跟踪仪、跟踪仪自校设备和检测专用工装夹具；激光跟踪仪是基于角度测量和长度测量相结合的坐标测量系统，可以同时获取被测量物体的坐标信息；跟踪仪自校设备为一根长度800mm的球型标杆，主要用于在校准前对跟踪仪进行自校，以确保跟踪仪测量可靠；检测专用工装夹具提供工面的4个测量点，从而实现空间位姿的解算。
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公开(公告)号：CN117704918A
公开(公告)日：2024-03-15
申请号：CN202311679407.7
申请日：2023-12-08
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G01B3/46
Abstract: 本发明提供了一种塞尺全自动检定装置及检定方法。该检定装置特征在于，其包括底板、高精度光栅测量系统(1)、翻转定位轴(2)、三轴运动平台机构(3)、上料架(4)和上位机，所述底板一侧为“凹”型，所述上料架(4)跨接架设于三轴运动平台机构(3)，用于放置塞尺，所述底板另一侧架设有翻转定位轴(2)，工作时，所述三轴运动平台机构(3)将指定塞尺移至高精度光栅测量系统(1)进行量值检定，所述翻转定位轴(2)带动所述高精度光栅测量系统(1)翻转，所述上位机用于记载和显示数据。本发明不但能完成塞尺中心厚度测量，还可以测量塞尺各点局部厚度和其弯曲度，满足实验室检定人员一键式自动测量，大大节约了检定时间。
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公开(公告)号：CN105758510A
公开(公告)日：2016-07-13
申请号：CN201610120513.5
申请日：2016-03-03
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种异步电动振动试验系统现场校准装置，本发明通过研制工装夹具实现了试验系统的非接触测量，采用的差分式多普勒激光测振系统实现了振动速度和位移的直接测量，并且由于是非接触测量，台面的振动不会对校准装置的输出信号产生影响，提高了试验系统振动速度和位移的测量准确度，将激光入射方向调整到所需的测量方向即可获得该方向的振动幅值，不受台面在振动过程中倾斜的影响，即本发明可获得确定方向的振动幅值，设计的工装夹具可以进行激光探头测量位置的粗调和微调，从而可以使激光能够精确地入射到所需测量的位置，从而实现异步电动振动试验系统的量值准确溯源。
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