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公开(公告)号：CN114396870A
公开(公告)日：2022-04-26
申请号：CN202111505865.X
申请日：2021-12-10
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明公开了一种激光影像扫描系统测试验证方法，包括：现场测量验证空间、激光扫描式测量系统、测量靶标、激光跟踪仪、标准球杆、四面体核查标准器、标准孔杆、计算机及分析软件。通过与激光跟踪仪比对验证空间坐标测量精度，利用测量标准球杆验证测长精度，利用四面体核查标准器验证拼接精度，利用标准孔杆验证几何要素测量精度。本发明采用现场测试验证方法，通过构建空间测量场及测量要素，实现激光影像扫描系统的长度测量精度、多站拼接精度、几何要素探测精度等验证，形成一套完整的测试验证方案。本发明具有简单快速、可扩展性强等特征，采用的技术方法可以运用到其他大尺寸测量设备、多系统组网测试系统的现场快速测试验证、自校验中。
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公开(公告)号：CN112798179A
公开(公告)日：2021-05-14
申请号：CN202011550155.4
申请日：2020-12-24
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明提供压力仪表检定视觉采集装置，包括：装置主体架构；控制显示一体机，内嵌于所述前面板，包括：显示屏和采集控制器；分别沿X、Y、Z三个方向的相机位置调节滑轨；工业相机，设置在相机位置调节滑轨上；调节电机，与采集控制器连接，调节电机包括三个直线电机，分别驱动相机位置调节滑轨沿X、Y、Z三个方向运动。本发明的压力仪表检定视觉采集装置利用机器视觉技术，集控制、显示于一体，无需外接控制器或工控机，使用操作方便；可以同时对多个仪表进行采集，大大提高了压力仪表检定的效率。可应用在其他数字式、指针式仪表的自动识别中。
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公开(公告)号：CN112797894A
公开(公告)日：2021-05-14
申请号：CN202011534846.5
申请日：2020-12-22
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种用于视觉系统校准的工装支架及其校准方法，本发明的工装支架具有开放式接口安装不同夹具，如此就能分别固定标准球、标准球棒及量块等不同标准器具，支架转动机构上标有刻度和锁紧装置可实现竖直方向90°及碳纤维承力筒可自由上下调节高度和360°旋转从而实现标准器的不同位姿摆放。碳纤维材料制成的承力筒、铝合金三脚架与可自由活动的支撑脚可以使得工装支架在任何复杂环境中稳固摆放的同时受力变形微乎其微，从而将支架自身对测量结果的影响降到最低。
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公开(公告)号：CN112797914B
公开(公告)日：2023-06-13
申请号：CN202011530335.6
申请日：2020-12-22
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明提供一种光学轮廓扫描仪的校准方法，包括：将标准球按放置于指定的5个位置，通过光学轮廓扫描仪分别对标准球进行扫描，以获取所述标准球的测量圆度值和测量直径值；将测量圆度值和标准球的上级标定的圆度值之差作为扫描仪的形状探测误差；将测量直径值和标准球的上级标定的直径值之差作为尺寸探测误差；对光学轮廓扫描仪进行球心距长度校准；将标准球杆放置于指定的7个位置，光学轮廓扫描仪分别进行扫描标准球杆，以获取标准球杆的测量球心距长度；将测量球心距长度和球杆上级标定的球心距长度之差，作为扫描仪的球心距测量示值误差。本发明采用实物标准球和球杆对光学轮廓扫描仪进行形貌校准，从而实现光学轮廓扫描仪扫描精度的校准。
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公开(公告)号：CN115655101A
公开(公告)日：2023-01-31
申请号：CN202211230506.2
申请日：2022-10-08
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明提供了一种火箭筒段基准刻线偏扭测量方法，其特征在于，包括下述步骤：将左侧激光雷达(1)、右侧激光雷达(2)置于将被测量的火箭筒段(6)的左右两侧；将被测量的火箭筒段(6)的置于测量区域内，将基准刻线测量引导装置(3)装在火箭筒段法兰盘(7)上，并使基准刻线测量引导装置(3)对齐基准刻线(5)；安装标准靶球(4)；获得火箭筒段(6)标准靶球(4)坐标；测量获取的标准靶球(4)点坐标进行空间点坐标换算，从而实现对基准刻线偏扭的测量。本发明能够使得火箭筒段的基准刻线偏扭得到准确测量，该测量方法具有操作简单、通用性强、测量准确度高、测量稳定性高、工作可靠等优点，实用性与经济效益显著。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112798015A
公开(公告)日：2021-05-14
申请号：CN202011534838.0
申请日：2020-12-22
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G01C25/00
Abstract: 本发明提供了一种动态角校准装置，包括：通用转接板、多自由度微动调节台、圆光栅轴套工装、精密圆光栅盘、光栅读数头及读数头调整工具、读数头安装调节座和上位机等，本发明针对国防军工型号产品生产测试中作为专用测试设备的多轴转台，本发明设计了一种结构紧凑、安装方便、测量准确度高的转台角运动参数校准的在线校准装置。
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公开(公告)号：CN112797914A
公开(公告)日：2021-05-14
申请号：CN202011530335.6
申请日：2020-12-22
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明提供一种光学轮廓扫描仪的校准方法，包括：将标准球按放置于指定的5个位置，通过光学轮廓扫描仪分别对标准球进行扫描，以获取所述标准球的测量圆度值和测量直径值；将测量圆度值和标准球的上级标定的圆度值之差作为扫描仪的形状探测误差；将测量直径值和标准球的上级标定的直径值之差作为尺寸探测误差；对光学轮廓扫描仪进行球心距长度校准；将标准球杆放置于指定的7个位置，光学轮廓扫描仪分别进行扫描标准球杆，以获取标准球杆的测量球心距长度；将测量球心距长度和球杆上级标定的球心距长度之差，作为扫描仪的球心距测量示值误差。本发明采用实物标准球和球杆对光学轮廓扫描仪进行形貌校准，从而实现光学轮廓扫描仪扫描精度的校准。
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公开(公告)号：CN109573099A
公开(公告)日：2019-04-05
申请号：CN201811539164.6
申请日：2018-12-17
Applicant: 上海精密计量测试研究所 , 上海航天信息研究所
IPC: B64F5/60
Abstract: 本发明的飞行控制模拟器拉压载荷试验系统现场校准装置包括结构框架、加载机构、标准测量单元、上位机和微调机构；所述加载机构、标准测量单元和被校力传感器依次连接后安装在所述结构框架上；所述微调机构支撑所述加载机构，通过微调所述加载机构的位置使所述加载机构、标准测量单元和被校力传感器处于同一直线上；所述标准测量单元与所述上位机无线连接；被校力传感器与飞行控制模拟器连接。
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公开(公告)号：CN109443438A
公开(公告)日：2019-03-08
申请号：CN201811512981.2
申请日：2018-12-11
Applicant: 上海精密计量测试研究所 , 上海航天信息研究所
Abstract: 本发明的基于多参数测试校准的虚拟仪器系统包括传感器、信号调理与采集模块、PC机和测试校准系统软件；信号调理与采集模块是采用SC Express模块；测试校准系统软件采用模块化结构设计：针对SC Express模块包含的板卡，对每个板卡分别设计该板卡对应的测试功能模块和校准功能模块；针对SC Express模块包含的板卡，各板卡测试和校准结果显示中可共用的功能部分采用一个功能模块，每个板卡测试和校准结果显示中特殊功能部分分别设计特殊显示功能模块；各功能模块之间相对独立，增加或删减任意模块不影响系统总体性能。本发明采用PXI先进总线架构，将诸多物理参数的测试功能集而合之，采用模块化层次结构设计，使得系统软硬件可扩展、可裁剪、可重用。
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公开(公告)号：CN109341841A
公开(公告)日：2019-02-15
申请号：CN201811436462.2
申请日：2018-11-28
Applicant: 上海精密计量测试研究所 , 上海航天信息研究所
Abstract: 本发明提供单轴双台共台面振动试验系统旋转振动角度校准装置，包括：差分式激光振动测量系统，激光头工装夹具，包括：支架；导轨，通过减震垫与所述支架连接；滑块，装配在导轨上；位移微调机构，安装在滑块上；激光探头固定夹具，安装在位移微调机构上；位移传感器，固定在导轨上；定位板，放置在单轴双台共台面振动试验系统的振动台面上。本发明还提供对应的校准方法，本发明通过研制工装夹具实现了试验系统的非接触测量，采用差分式激光振动测量系统实现振动位移差的直接测量，提高试验系统测量准确度，工装夹具进行激光头测量位置的粗调和微调，使激光能够精确地入射到所需测量的位置，实现单轴双台共台面振动试验系统耦合振动角度的量值溯源。
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