-
公开(公告)号：CN116222482A
公开(公告)日：2023-06-06
申请号：CN202211632577.5
申请日：2022-12-19
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G01B21/22 , G06N3/0464 , G06N3/08
Abstract: 本发明公开了一种基于人工智能的转角原位校准装置和方法。该装置的特征在于，其包括加载机构(1)、调节机构(2)、校准连接件(3)、待校准轴(4)、待校准角度传感器(5)，调节机构(2)上下端分别为加载机构(1)和校准连接件(3)，加载机构(1)分别与调节机构(2)和校准连接件(3)连接，校准连接件(3)与待校准轴(4)连接，待校准轴(4)上固定有待校准角度传感器(5)。该方法的特征在于，包括构建双向长短时记忆网络BLSTM模型；生成损失函数；优化模型；得到函数关系。本发明的装置方法能消除在线校准干扰因子的影响，并解决无法对传感器进行直接校准的问题，具有高精度，易操作的优点。
-
公开(公告)号：CN116007494A
公开(公告)日：2023-04-25
申请号：CN202211611784.2
申请日：2022-12-14
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明实施例提供了一种全自动大型构造件检测装置，其特征在于，包括：激光影像扫描系统、移动升降平台系统、控制终端、靶标、围栏及测量工装；其中，所述激光影像扫描系统至于所述围栏内，用于扫描待测物体；所述移动升降平台系统用于支撑并且控制所述激光影像扫描系统的位置；所述控制终端位于围栏外侧，用于控制所述激光影像扫描系统测量和移动走位；所述靶标均匀分布于大型构造件表面，用于多站位测量拼接成像数据；所述围栏用于区分工作区域与非工作区域，且起到安全防护作用；所述测量工装用于支撑所述待测物体；所述检测软件安装于控制终端。
-
公开(公告)号：CN112798015B
公开(公告)日：2022-10-14
申请号：CN202011534838.0
申请日：2020-12-22
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G01C25/00
Abstract: 本发明提供了一种动态角校准装置，包括：通用转接板、多自由度微动调节台、圆光栅轴套工装、精密圆光栅盘、光栅读数头及读数头调整工具、读数头安装调节座和上位机等，本发明针对国防军工型号产品生产测试中作为专用测试设备的多轴转台，本发明设计了一种结构紧凑、安装方便、测量准确度高的转台角运动参数校准的在线校准装置。
-
公开(公告)号：CN109443438B
公开(公告)日：2024-07-30
申请号：CN201811512981.2
申请日：2018-12-11
Applicant: 上海精密计量测试研究所 , 上海航天信息研究所
Abstract: 本发明的基于多参数测试校准的虚拟仪器系统包括传感器、信号调理与采集模块、PC机和测试校准系统软件；信号调理与采集模块是采用SC Express模块；测试校准系统软件采用模块化结构设计：针对SC Express模块包含的板卡，对每个板卡分别设计该板卡对应的测试功能模块和校准功能模块；针对SC Express模块包含的板卡，各板卡测试和校准结果显示中可共用的功能部分采用一个功能模块，每个板卡测试和校准结果显示中特殊功能部分分别设计特殊显示功能模块；各功能模块之间相对独立，增加或删减任意模块不影响系统总体性能。本发明采用PXI先进总线架构，将诸多物理参数的测试功能集而合之，采用模块化层次结构设计，使得系统软硬件可扩展、可裁剪、可重用。
-
公开(公告)号：CN117704918A
公开(公告)日：2024-03-15
申请号：CN202311679407.7
申请日：2023-12-08
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G01B3/46
Abstract: 本发明提供了一种塞尺全自动检定装置及检定方法。该检定装置特征在于，其包括底板、高精度光栅测量系统(1)、翻转定位轴(2)、三轴运动平台机构(3)、上料架(4)和上位机，所述底板一侧为“凹”型，所述上料架(4)跨接架设于三轴运动平台机构(3)，用于放置塞尺，所述底板另一侧架设有翻转定位轴(2)，工作时，所述三轴运动平台机构(3)将指定塞尺移至高精度光栅测量系统(1)进行量值检定，所述翻转定位轴(2)带动所述高精度光栅测量系统(1)翻转，所述上位机用于记载和显示数据。本发明不但能完成塞尺中心厚度测量，还可以测量塞尺各点局部厚度和其弯曲度，满足实验室检定人员一键式自动测量，大大节约了检定时间。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117516803A
公开(公告)日：2024-02-06
申请号：CN202311532260.9
申请日：2023-11-16
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种转动惯量一体化测试装置及测试方法。该测试装置的特征在于，其包括：载物平台(1)、气浮轴承系统(2)、支撑机构(3)、称重系统(4)、质心调整系统(5)、标准扭杆组(6)、扭杆测试系统(7)、上位机(9)、夹持机构(8)、支撑底座(10)以及结构框架(11)，标准扭杆组(6)包括多根不同规格的一组标准扭杆(61)，使用时，选择一根标准扭杆(61)垂直放置；扭杆测试系统(7)安装于载物平台(1)下方标准扭杆(61)的外侧，对标准扭杆(61)进行扭矩加载和释放并测量数据传输给上位机(9)。本发明量程可调，可实现多量程范围航天部组件转动惯量的测量，同时兼顾对质量和质心的同步一体化测量。
-
公开(公告)号：CN115655100A
公开(公告)日：2023-01-31
申请号：CN202211230041.0
申请日：2022-10-08
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明提供了一种火箭筒段基准刻线测量引导装置及方法。该装置的特征在于，其包括筒段法兰夹紧器(1)、刻线放大瞄准器(2)、同轴靶球座(3)、和双向位置调节器(4)，所述筒段法兰夹紧器(1)用于将装置固定在火箭筒段法兰盘(7)上；所述刻线放大瞄准器(2)为刻有瞄准线(21)的放大镜片，装在一个L型构件的一端；所述同轴靶球座(3)用于放置靶球，设置于所述L型构件的另一端或中间位置，所述瞄准线(21)沿L型构件的延长线与所述同轴靶球座(3)的球心处于同一轴线上；所述双向位置调节器(4)设置于位于L型构件与所述筒段法兰夹紧器(1)之间，包含了调节机构。该装置结构简单、通用性强、测量准确度高、工作可靠。
-
公开(公告)号：CN115219870A
公开(公告)日：2022-10-21
申请号：CN202210746556.X
申请日：2022-06-28
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明实施例提供了一种利用荧光胶温度计算高温老化LED芯片结温的方法，包括步骤：通过热电偶测试的LED荧光胶温度校准红外法测试的LED荧光胶温度，确定校准P系数；确定LED芯片的温度敏感参数K系数；采用热电偶P系数校准后的红外法重新测定荧光胶温度，采用瞬态热阻法测试芯片结温；单独改变恒温炉温度，确定其对校准红外法荧光胶温度‑瞬态热阻法芯片结温曲线的影响；单独改变加热电流，确定其对校准红外法荧光胶温度‑瞬态热阻法芯片结温曲线的影响；将LED接入老化电路，采用校准红外法测试荧光胶温度，结合荧光胶温度‑芯片结温曲线，计算LED芯片结温。本发明无需测试荧光胶发射率，解决了传统方法不能快速精确测定高温老化LED芯片结温的不足。
-
公开(公告)号：CN116465271A
公开(公告)日：2023-07-21
申请号：CN202310623978.2
申请日：2023-05-30
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种用于光学轴类测量仪校准的阶梯型变径标准轴规，其特征在于，其由两种不同结构式样的阶梯型变径标准轴规组成，第一种阶梯型变径标准轴规的结构式样以中间的圆柱为最大轴径，沿上下两侧轴向逐步减小轴径，直至两端为最小轴径，第二种阶梯型变径标准轴规的结构式样以靠近下端部的第二、第三或第四个圆柱为最大轴径，向上沿轴向逐步减小轴径，两端为最小轴径。本发明的用于光学轴类测量仪校准的阶梯型变径标准轴规可用于对所有的光学轴类测量仪进行校准，可同时对轴径和轴长的精度进行校准，具有通用性强、测量准确度高、工作可靠等优点，实用性显著。
-
公开(公告)号：CN115307547A
公开(公告)日：2022-11-08
申请号：CN202211050250.7
申请日：2022-08-31
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明提供了一种激光跟踪仪结合视觉系统的组网测试方法，其特征在于，其包括下述步骤：1)在测量空间布设公共点以组建组网测量网络，实现测量空间的全覆盖测量能力；2)利用激光跟踪仪完成测量网络的精密定位，建立全局测量坐标系并实现与控制网的几何关联，为全测量过程提供统一的测量基准；3)根据测量网络空间分布和被测形状整体几何特征划分测量区域并布置仪器站位，采用视觉测量系统获取多视角局部测量数据；4)采用激光跟踪仪完成视觉测量系统位姿的实时跟踪定位，同时完成测量网络的观测以实现自身站位的解算。本发明的有益效果在于提供了高精度的公共点测量，实现了高精度的坐标统一化，能够发现和控制误差较大的测量值。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
26
records
(took 0.041 seconds)
