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公开(公告)号:CN1941352A
公开(公告)日:2007-04-04
申请号:CN200610111635.4
申请日:2006-08-18
Applicant: 三星电机株式会社
IPC: H01L23/498 , H01L21/48 , H05K1/02 , H05K3/00
CPC classification number: H01L23/49838 , H01L21/4846 , H01L23/49816 , H01L2924/0002 , H05K1/0265 , H05K3/06 , H05K3/243 , H05K3/28 , H05K3/427 , H05K2201/0352 , H05K2201/09736 , H05K2203/0369 , H01L2924/00
Abstract: 本发明公开一种半导体封装基片及其制造方法。在该半导体封装基片中,线焊焊盘一面的电路层与球形焊盘一面的电路层厚度不同,其中线焊焊盘一面受到半刻蚀。另外,构成连接通孔以在线焊焊盘一面和球形焊盘一面的电镀引线之间形成电连接,从而防止线焊焊盘一面的电镀引线被切断时电连接断开。
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公开(公告)号:CN1591839A
公开(公告)日:2005-03-09
申请号:CN200310124404.3
申请日:2003-12-24
Applicant: 三星电机株式会社
CPC classification number: H01L23/525 , H01L23/3128 , H01L23/49833 , H01L24/48 , H01L24/49 , H01L25/0657 , H01L2224/05599 , H01L2224/48091 , H01L2224/4813 , H01L2224/48227 , H01L2224/484 , H01L2224/4911 , H01L2224/85399 , H01L2225/0651 , H01L2225/06565 , H01L2924/00014 , H01L2924/01004 , H01L2924/01005 , H01L2924/01006 , H01L2924/01011 , H01L2924/01015 , H01L2924/01033 , H01L2924/01082 , H01L2924/014 , H01L2924/15184 , H01L2924/15311 , H01L2924/181 , H01L2224/45099 , H01L2924/00012
Abstract: 本发明涉及具有其上形成有边缘键合金属图形的中心键合型半导体芯片的BGA封装,其中在半导体芯片上形成晶片级的边缘键合金属图形,并且在边缘键合的形状中进行引线键合,由此叠置多个半导体芯片,由此得到高密度的存储性能,并涉及这种封装的制造方法。
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