半导体器件
    11.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110060969B

    公开(公告)日:2021-07-27

    申请号:CN201910049167.X

    申请日:2019-01-18

    Abstract: 一种半导体器件包括:半导体衬底,具有芯片区域和边缘区域;多个连接结构,提供在边缘区域的下绝缘层中并在第一方向上以第一间隔布置;覆盖连接结构的上绝缘层;以及多个再分配焊盘,设置在上绝缘层上并分别连接到连接结构。每个再分配焊盘包括提供在芯片区域上的焊盘部分。当在平面图中观看时,再分配焊盘的焊盘部分在与第一方向相交的第二方向上与连接结构间隔开第一距离。

    半导体装置
    12.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110690192B

    公开(公告)日:2024-12-20

    申请号:CN201910603873.4

    申请日:2019-07-05

    Abstract: 提供了一种半导体装置,所述半导体装置可以包括半导体基底和位于半导体基底上的连接基体柱。绝缘层可以位于半导体基底上,绝缘层可以包括位于绝缘层中的开口,连接基体柱穿过开口延伸,其中,绝缘层的限定开口的侧壁包括位于比连接基体柱的最上部分低的水平处的水平台阶。

    包括导电图案的半导体器件及其制造方法

    公开(公告)号:CN110021581B

    公开(公告)日:2024-07-12

    申请号:CN201811387764.5

    申请日:2018-11-20

    Inventor: 申硕浩

    Abstract: 一种半导体器件包括衬底,衬底包括沿第一方向布置的第一区域和第二区域。第一导电图案在第一区域中在第一方向上延伸。第二导电图案在第一区域中在第一方向上延伸。第二导电图案与第一导电图案间隔开。第一间隔物沿着第一导电图案的侧壁、第二导电图案的侧壁以及第一区域与第二区域之间的边界在第一导电图案与第二导电图案之间延伸。第一导电图案与第二区域之间的距离小于第二导电图案与第二区域之间的距离。

    半导体存储器件
    15.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117956790A

    公开(公告)日:2024-04-30

    申请号:CN202311391879.2

    申请日:2023-10-25

    Abstract: 一种半导体存储器件可以包括:衬底,包括单元阵列区和连接区;位线,提供在衬底上并在第一方向上延伸;第一有源图案和第二有源图案,在每条位线上沿第一方向交替地布置;背栅电极,设置在第一有源图案和第二有源图案中的相邻的第一有源图案和第二有源图案之间,并在第二方向上延伸以与位线交叉;第一字线和第二字线,分别与第一有源图案和第二有源图案相邻设置并在第二方向上延伸;以及屏蔽导电图案,包括分别设置在位线中的相邻位线之间的线部分和共同连接到线部分的板部分。屏蔽导电图案的线部分在第一方向上的长度可以比位线在第一方向上的长度短。

    半导体存储器件
    16.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114171520A

    公开(公告)日:2022-03-11

    申请号:CN202110938165.3

    申请日:2021-08-16

    Abstract: 一种半导体存储器件包括:衬底;半导体图案,在所述衬底上在第一水平方向上延伸;位线,在所述衬底上在垂直于所述第一水平方向的第二水平方向上延伸,所述位线位于所述半导体图案的第一端;字线,在所述半导体图案的侧部在所述衬底上在垂直方向上延伸;电容器结构,位于所述半导体图案的在所述第一水平方向上与所述第一端相对的第二端,所述电容器结构包括连接到所述半导体图案的下电极、与所述下电极间隔开的上电极以及位于所述下电极和所述上电极之间的电容器电介质层;以及电容器接触层,位于所述半导体图案的所述第二端和所述下电极之间,并且包括与所述半导体图案接触的成对的凸表面。

    包括导电图案的半导体器件及其制造方法

    公开(公告)号:CN110021581A

    公开(公告)日:2019-07-16

    申请号:CN201811387764.5

    申请日:2018-11-20

    Inventor: 申硕浩

    Abstract: 一种半导体器件包括衬底,衬底包括沿第一方向布置的第一区域和第二区域。第一导电图案在第一区域中在第一方向上延伸。第二导电图案在第一区域中在第一方向上延伸。第二导电图案与第一导电图案间隔开。第一间隔物沿着第一导电图案的侧壁、第二导电图案的侧壁以及第一区域与第二区域之间的边界在第一导电图案与第二导电图案之间延伸。第一导电图案与第二区域之间的距离小于第二导电图案与第二区域之间的距离。

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