烤箱
    1.
    发明授权
    烤箱 有权

    公开(公告)号:CN111263869B

    公开(公告)日:2023-01-24

    申请号:CN201880069673.9

    申请日:2018-10-18

    Abstract: 提供一种具有改进的结构以改善烹饪性能的烤箱。该烤箱包括:主体;布置在主体内部的烹饪室,该烹饪室包括敞开的前部;门,布置为打开或关闭烹饪室的前部;循环风扇,布置为使烹饪室中的空气循环;吸入口,形成在烹饪室的面对循环风扇的壁上;转盘,布置在烹饪室的底板上,该转盘绕旋转轴可旋转;以及排出口,形成在烹饪室的底板上,该排出口用于将已经通过吸入口的空气排放到烹饪室中,该排出口位于转盘下面。

    半导体裸片的缺陷检测结构、半导体装置和缺陷检测方法

    公开(公告)号:CN110911386B

    公开(公告)日:2024-03-19

    申请号:CN201910402840.3

    申请日:2019-05-15

    Abstract: 提供了一种半导体裸片的缺陷检测结构、半导体装置和缺陷检测方法。所述半导体装置包括半导体裸片、缺陷检测结构和输入输出电路。半导体裸片包括中心区域和围绕中心区域的外围区域。外围区域包括左下角区域、左上角区域、右上角区域和右下角区域。缺陷检测结构形成在外围区域中。缺陷检测结构包括位于左下角区域中的第一导电回路、位于右下角区域中的第二导电回路、位于左下角区域和左上角区域中的第三导电回路以及位于右下角区域和右上角区域中的第四导电回路。输入输出电路电连接到第一导电回路、第二导电回路、第三导电回路和第四导电回路中的端节点。

    缺陷检测结构及检测半导体管芯中的缺陷的方法

    公开(公告)号:CN113496909A

    公开(公告)日:2021-10-12

    申请号:CN202011533167.6

    申请日:2020-12-22

    Abstract: 一种半导体器件包括:半导体管芯、缺陷检测结构和输入输出电路。半导体管芯包括:中心区域和包围中心区域的外围区域。外围区域包括左下角区域、左上角区域、右上角区域和右下角区域。缺陷检测结构形成在外围区域中。所述缺陷检测结构包括:穿过左下角区域的第一导电回路、穿过右下角区域的第二导电回路、穿过左下角区域和左上角区域的第三导电回路、穿过右下角区域和右上角区域的第四导电回路以及用于屏蔽所述第一导电回路至所述第四导电回路之间的电干扰的屏蔽回路。输入输出电路电连接到第一导电回路、第二导电回路、第三导电回路和第四导电回路的端节点。

    半导体裸片的缺陷检测结构、半导体装置和缺陷检测方法

    公开(公告)号:CN110911386A

    公开(公告)日:2020-03-24

    申请号:CN201910402840.3

    申请日:2019-05-15

    Abstract: 提供了一种半导体裸片的缺陷检测结构、半导体装置和缺陷检测方法。所述半导体装置包括半导体裸片、缺陷检测结构和输入输出电路。半导体裸片包括中心区域和围绕中心区域的外围区域。外围区域包括左下角区域、左上角区域、右上角区域和右下角区域。缺陷检测结构形成在外围区域中。缺陷检测结构包括位于左下角区域中的第一导电回路、位于右下角区域中的第二导电回路、位于左下角区域和左上角区域中的第三导电回路以及位于右下角区域和右上角区域中的第四导电回路。输入输出电路电连接到第一导电回路、第二导电回路、第三导电回路和第四导电回路中的端节点。

    烹饪设备
    5.
    发明公开
    烹饪设备 审中-实审

    公开(公告)号:CN116783428A

    公开(公告)日:2023-09-19

    申请号:CN202280009635.0

    申请日:2022-01-13

    Inventor: 郑志镐 李民宰

    Abstract: 根据本公开的一实施例的烹饪设备可以包括:壳体;烹饪室,形成在所述内体内;加热器,布置在所述烹饪室的一侧;门,以打开和关闭所述烹饪室的方式结合到所述壳体,包括形成外观的门体;把手,在所述门体的外表面凹陷;以及冷却板,与所述门体的对应于所述把手的内表面相邻地位于,以分散由所述加热器产生并向所述把手传递的热量。

    非易失性存储器芯片和包括其的半导体封装

    公开(公告)号:CN114551397A

    公开(公告)日:2022-05-27

    申请号:CN202111346238.6

    申请日:2021-11-15

    Abstract: 一种非易失性存储器芯片,包括:单元区域,该单元区域包括第一表面、与第一表面相对的第二表面、第一单元结构以及与第一单元结构间隔开的第二单元结构;在单元区域的第一表面上的外围电路区域,外围电路区域包括连接到第一单元结构的第一外围电路、连接到第二单元结构的第二外围电路以及在第一外围电路和第二外围电路之间的连接电路;通孔,该通孔在第一单元结构和第二单元结构之间并从单元区域的第二表面延伸到外围电路区域的连接电路;重分布层,该重分布层覆盖单元区域的第二表面上的通孔、连接到通孔并沿着第二表面延伸;和芯片焊盘,该芯片焊盘连接到重分布层。

    烤箱
    7.
    发明公开
    烤箱 有权

    公开(公告)号:CN111263869A

    公开(公告)日:2020-06-09

    申请号:CN201880069673.9

    申请日:2018-10-18

    Abstract: 提供一种具有改进的结构以改善烹饪性能的烤箱。该烤箱包括:主体;布置在主体内部的烹饪室,该烹饪室包括敞开的前部;门,布置为打开或关闭烹饪室的前部;循环风扇,布置为使烹饪室中的空气循环;吸入口,形成在烹饪室的面对循环风扇的壁上;转盘,布置在烹饪室的底板上,该转盘绕旋转轴可旋转;以及排出口,形成在烹饪室的底板上,该排出口用于将已经通过吸入口的空气排放到烹饪室中,该排出口位于转盘下面。

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