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公开(公告)号：CN102692596B
公开(公告)日：2016-12-14
申请号：CN201210079180.8
申请日：2012-03-23
Applicant: 飞思卡尔半导体公司
Inventor： W·E·爱德华兹
IPC: H03K17/22
CPC classification number: G01R31/3004 , G01R31/30
Abstract: 一种低压测试电路(125)，系统(100和200)，以及用于在集成电路封装(104和204)中执行电路(127)的低压测试的方法，该集成电路封装包括可选择阈值复位电路(125)，其包括产生电源电压的一部分电压的分压梯(320)，比较该部分和参考电压的比较器(310)，控制分压梯拓扑从而改变该部分的值的开关(350)，开关由来自产品测试器(102和202)的信号控制，该信号导致可选择阈值复位电路的复位阈值降低到低于正常复位阈值以允许电路在低于正常复位阈值的电源电压处测试。
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公开(公告)号：CN103064021B
公开(公告)日：2015-12-09
申请号：CN201110317304.7
申请日：2011-10-18
Applicant: 台达电子企业管理(上海)有限公司
CPC classification number: G01R31/34 , G01R31/30 , G01R31/343
Abstract: 本发明实施例公开了一种感应电机励磁参数的测量装置和方法，属于电机控制领域。该方法包括：保持感应电机静止，向感应电机测试相输入测试电流；依据感应电机测试相的电压，计算测试电流幅值对应的感应电机测试相的定子磁链。本发明实施例的技术方案可以方便且精确地测量感应电机的励磁参数。
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公开(公告)号：CN101809455B
公开(公告)日：2013-12-11
申请号：CN200880105950.3
申请日：2008-09-05
Applicant: 欧洲航空防务及航天公司EADS法国
IPC: G01R31/28 , G01R31/311 , G01R31/30
CPC classification number: G01R31/2881 , G01R31/002 , G01R31/2849 , G01R31/2853 , G01R31/30 , G01R31/311
Abstract: 本发明涉及一种表征电子元件限制其对能量相互作用敏感性的使用条件的方法。测量承受脉冲激光辐射的元件的性能。通过检测元件运行的暂时或持久故障，确定这个元件对哪个偏置值、频率值和温度值(或者其他的使用条件)敏感。如果必要，在检测时，产生的寄生电流被阻止损害被检测的元件。从而推断出元件对能量相互作用的敏感性和这个元件运行的最优条件。
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公开(公告)号：CN1331207C
公开(公告)日：2007-08-08
申请号：CN200510001833.0
申请日：2005-01-13
Applicant: 瑞萨科技有限公司
CPC classification number: G01R31/31816 , G01R31/002 , G01R31/2849 , G01R31/2881 , G01R31/30
Abstract: 在对半导体器件的由宇宙射线中子引起的错误的抵抗能力进行评价的场合，在评价装置的存储部，存储具有各自不同的频谱形状的多个白色中子的频谱数据和用该多个频谱数据各自进行的由白色法所得到的多个SEE(SingleEvent Effect)数；而后，演算部从存储部读出频谱数据，分割成多个能量群，对于上述多个频谱数据各自进行计算并存储各能量群的总通量的处理。而且，从存储部读出上述多个频谱数据各自的SEE数和各能量群的总通量，并代入表示多个频谱数据各自的各能量群的总通量的矩阵元素和表示各能量群的SEE截面积的矢量之积、表示上述多个频谱数据各自的SEE数的联立方程式，算出各能量群的SEE截面积。而后，为由多个频谱和近似函数的积分所得到的错误数的计算值与实际测量值充分一致，演算部，计算决定作为能量函数的SEE截面积的近似函数的形式的参数。通过进行这样的处理，就能进行不依赖于加速器、使用了白色中子的半导体器件的错误评价。
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公开(公告)号：CN1869724A
公开(公告)日：2006-11-29
申请号：CN200610089918.3
申请日：2006-05-26
Applicant: 株式会社电装
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/30 , G01R31/3004
Abstract: 一种用于检查电子电路的方法，所述电子电路包括在电路板(10)上形成的第一集成电路(11)和第二集成电路(12)。第一集成电路(11)具有第一电源(13)、一个输入电路(14)和信号输出部件(24)，而第二集成电路具有第二电源(18)、一个输出电路(15)和信号输入部件(32)。所述方法包括如下步骤：改变第一电源(13)的电压电平；把测试信号施加到所述信号输入部件(32)；检测所述信号输出部件(24)的输出信号；通过比较所述测试信号和所述输出信号来审查在电子电路中是否存在足够的余量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1095246C
公开(公告)日：2002-11-27
申请号：CN95115019.7
申请日：1995-07-12
Applicant: 通用仪器公司
Inventor： C·L·霍昂
IPC: H03K17/22
CPC classification number: H03K17/223 , G01R31/30 , G01R31/40
Abstract: 断电复位电路包括基准电压和电流发生器，以发生基本上与使用温度范围内的温度变化无关的基准电压和基准电流；延迟/截止电路；过压和欠压检测器和输出逻辑电路。该电路检测供电电压源(+VDD)的电压电平何时超出预定界限。与硅带隙电压相关的基准电压同每个电压检测器的比较器的第一输入端相连。从硅带隙电压所获得的基准电流同每个检测器的电流源相连。
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公开(公告)号：CN1090325C
公开(公告)日：2002-09-04
申请号：CN97195009.1
申请日：1997-05-23
Applicant: 索福特林克公司
Inventor： 菲利蒲·里吉恩
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/30 , G01R31/2834 , G01R35/04
Abstract: 一种装置(1)包括处理装置(13)，它能够控制检验机(2)执行至少一些其步骤的，每次减少至少一个持续时间直到满足一个考虑由该装置在每个减少的持续时间值测量的电量的分布的终止标准，并设置至多等于企初始值的一个新的持续时间，所测量的电量分布满足一个所选择的分布条件。它还包括一个函数发生器(14)，它能提供应用于至少一个在一个所述步骤期间执行的比较的一个函数，使得所述函数在新的周期的测量上操作。
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公开(公告)号：CN108693419A
公开(公告)日：2018-10-23
申请号：CN201810295442.1
申请日：2018-03-30
Applicant: 罗德施瓦兹两合股份有限公司
Inventor： 马库斯·弗赖德霍夫
CPC classification number: G01R31/31903 , G01R13/02 , G01R13/0254 , G01R31/2839 , G01R31/2879 , G01R31/30 , G01R31/31721 , G01R31/40 , G01R31/00
Abstract: 描述了一种测量设备(10)，其包括被配置为在应用用于执行测量的至少一个测量参数时执行对被测试设备(12)的电信号的测量的测量单元(16)。测量设备(10)具有被配置为为被测试设备(12)供电的集成直流电源(26)。测量设备(10)还包括被配置为监测直流电源(26)的至少一个监测参数的监测单元(22)。测量设备(10)具有被配置为控制测量参数的控制单元(24)。此外，描述了一种用于测量被测试设备(12)的方法。
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公开(公告)号：CN103064021A
公开(公告)日：2013-04-24
申请号：CN201110317304.7
申请日：2011-10-18
Applicant: 台达电子企业管理(上海)有限公司
CPC classification number: G01R31/34 , G01R31/30 , G01R31/343
Abstract: 本发明实施例公开了一种感应电机励磁参数的测量装置和方法，属于电机控制领域。该方法包括：保持感应电机静止，向感应电机测试相输入测试电流；依据感应电机测试相的电压，计算测试电流幅值对应的感应电机测试相的定子磁链。本发明实施例的技术方案可以方便且精确地测量感应电机的励磁参数。
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公开(公告)号：CN101809455A
公开(公告)日：2010-08-18
申请号：CN200880105950.3
申请日：2008-09-05
Applicant: 欧洲航空防务及航天公司EADS法国
IPC: G01R31/28 , G01R31/311 , G01R31/30
CPC classification number: G01R31/2881 , G01R31/002 , G01R31/2849 , G01R31/2853 , G01R31/30 , G01R31/311
Abstract: 本发明涉及一种表征电子元件限制其对能量相互作用敏感性的使用条件的方法。测量承受脉冲激光辐射的元件的性能。通过检测元件运行的暂时或持久故障，确定这个元件对哪个偏置值、频率值和温度值(或者其他的使用条件)敏感。如果必要，在检测时，产生的寄生电流被阻止损害被检测的元件。从而推断出元件对能量相互作用的敏感性和这个元件运行的最优条件。
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