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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1309299A
公开(公告)日：2001-08-22
申请号：CN00137378.1
申请日：2000-10-20
Applicant: 索福特林克公司
Inventor： 菲利浦·列尤恩
CPC classification number: G01R31/318335 , G01R31/318328 , G11C16/04 , G11C29/50
Abstract: 一种检验电子元件(1)的方法,其中将一个信号(S1)传送到元件的一个单元(3)中并且研究该电子元件的输出信号(S2),以便确定是否接受该电子元件。如果接受该元件,则根据本方法重新进行检验,发送一个与第一信号类似的信号(S1’),但持续时间(T2)较短。将输出信号(S2’)与期望的压缩模式进行比较。如果快速完成的检验有效,则可以对后面的检验元件使用该快速检验的输入信号。
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公开(公告)号：CN1220008A
公开(公告)日：1999-06-16
申请号：CN97195009.1
申请日：1997-05-23
Applicant: 索福特林克公司
Inventor： 菲利蒲·里吉恩
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/30 , G01R31/2834 , G01R35/04
Abstract: 一种装置(1)包括处理装置(13),它能够控制检验机(2)执行至少一些其步骤的,每次减少至少一个持续时间直到满足一个考虑由该装置在每个减少的持续时间值测量的电量的分布的终止标准,并设置至多等于企初始值的一个新的持续时间,所测量的电量分布满足一个所选择的分布条件。它还包括一个函数发生器(14),它能提供应用于至少一个在一个所述步骤期间执行的比较的一个函数,使得所述函数在新的周期的测量上操作。
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公开(公告)号：CN1144233C
公开(公告)日：2004-03-31
申请号：CN00137378.1
申请日：2000-10-20
Applicant: 索福特林克公司
Inventor： 菲利浦·列尤恩
CPC classification number: G01R31/318335 , G01R31/318328 , G11C16/04 , G11C29/50
Abstract: 一种检验电子元件(1)的方法，其中将一个信号(S1)传送到元件的一个单元(3)中并且研究该电子元件的输出信号(S2)，以便确定是否接受该电子元件。如果接受该元件，则根据本方法重新进行检验，发送一个与第一信号类似的信号(S1’)，但持续时间(T2)较短。将输出信号(S2’)与期望的压缩模式进行比较。如果快速完成的检验有效，则可以对后面的检验元件使用该快速检验的输入信号。
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公开(公告)号：CN1090325C
公开(公告)日：2002-09-04
申请号：CN97195009.1
申请日：1997-05-23
Applicant: 索福特林克公司
Inventor： 菲利蒲·里吉恩
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/30 , G01R31/2834 , G01R35/04
Abstract: 一种装置(1)包括处理装置(13)，它能够控制检验机(2)执行至少一些其步骤的，每次减少至少一个持续时间直到满足一个考虑由该装置在每个减少的持续时间值测量的电量的分布的终止标准，并设置至多等于企初始值的一个新的持续时间，所测量的电量分布满足一个所选择的分布条件。它还包括一个函数发生器(14)，它能提供应用于至少一个在一个所述步骤期间执行的比较的一个函数，使得所述函数在新的周期的测量上操作。
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公开(公告)号：CN1281991A
公开(公告)日：2001-01-31
申请号：CN00118979.4
申请日：2000-07-05
Applicant: 索福特林克公司
Inventor： 菲利普·勒尤内
CPC classification number: G01R31/2831 , G01R31/01 , G01R31/2834 , G01R31/2846
Abstract: 一种测试电子元件的方法包括驱动测试装置的界面。该界面可以根据测试确定参数。该测试方法提出一个第一和唯一的学习阶段,在该阶段中确定一个可能最早的时间作为测量时间。然后该方法包括执行调整阶段,来确定在应用阶段中使用的调整测量时间。该调整阶段短、快和精确,并且用来最优化测试的总的进行时间,和同时也最优化产品的收益性,事实上,根据总和数据确定测量时间。
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