电子元件的测试方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1281991A

    公开(公告)日:2001-01-31

    申请号:CN00118979.4

    申请日:2000-07-05

    CPC classification number: G01R31/2831 G01R31/01 G01R31/2834 G01R31/2846

    Abstract: 一种测试电子元件的方法包括驱动测试装置的界面。该界面可以根据测试确定参数。该测试方法提出一个第一和唯一的学习阶段,在该阶段中确定一个可能最早的时间作为测量时间。然后该方法包括执行调整阶段,来确定在应用阶段中使用的调整测量时间。该调整阶段短、快和精确,并且用来最优化测试的总的进行时间,和同时也最优化产品的收益性,事实上,根据总和数据确定测量时间。

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