公开(公告)号：CN1309299A

公开(公告)日：2001-08-22

申请号：CN00137378.1

申请日：2000-10-20

Applicant: 索福特林克公司

Inventor： 菲利浦·列尤恩

IPC: G01R31/00 ,  G01R31/28 ,  G11C29/00

CPC classification number: G01R31/318335 ,  G01R31/318328 ,  G11C16/04 ,  G11C29/50

Abstract: 一种检验电子元件(1)的方法,其中将一个信号(S1)传送到元件的一个单元(3)中并且研究该电子元件的输出信号(S2),以便确定是否接受该电子元件。如果接受该元件,则根据本方法重新进行检验,发送一个与第一信号类似的信号(S1’),但持续时间(T2)较短。将输出信号(S2’)与期望的压缩模式进行比较。如果快速完成的检验有效,则可以对后面的检验元件使用该快速检验的输入信号。

公开(公告)号：CN1144233C

公开(公告)日：2004-03-31

申请号：CN00137378.1

申请日：2000-10-20

Applicant: 索福特林克公司

Inventor： 菲利浦·列尤恩

IPC: G11C29/00 ,  G01R31/28

CPC classification number: G01R31/318335 ,  G01R31/318328 ,  G11C16/04 ,  G11C29/50

Abstract: 一种检验电子元件(1)的方法，其中将一个信号(S1)传送到元件的一个单元(3)中并且研究该电子元件的输出信号(S2)，以便确定是否接受该电子元件。如果接受该元件，则根据本方法重新进行检验，发送一个与第一信号类似的信号(S1’)，但持续时间(T2)较短。将输出信号(S2’)与期望的压缩模式进行比较。如果快速完成的检验有效，则可以对后面的检验元件使用该快速检验的输入信号。