公开(公告)号：CN101809455B

公开(公告)日：2013-12-11

申请号：CN200880105950.3

申请日：2008-09-05

Applicant: 欧洲航空防务及航天公司EADS法国

Inventor： N·比阿尔 ,  F·米勒 ,  P·安 ,  T·卡里埃

IPC: G01R31/28 ,  G01R31/311 ,  G01R31/30

CPC classification number: G01R31/2881 ,  G01R31/002 ,  G01R31/2849 ,  G01R31/2853 ,  G01R31/30 ,  G01R31/311

Abstract: 本发明涉及一种表征电子元件限制其对能量相互作用敏感性的使用条件的方法。测量承受脉冲激光辐射的元件的性能。通过检测元件运行的暂时或持久故障，确定这个元件对哪个偏置值、频率值和温度值(或者其他的使用条件)敏感。如果必要，在检测时，产生的寄生电流被阻止损害被检测的元件。从而推断出元件对能量相互作用的敏感性和这个元件运行的最优条件。

公开(公告)号：CN101809455A

公开(公告)日：2010-08-18

申请号：CN200880105950.3

申请日：2008-09-05

Applicant: 欧洲航空防务及航天公司EADS法国

Inventor： N·比阿尔 ,  F·米勒 ,  P·安 ,  T·卡里埃

IPC: G01R31/28 ,  G01R31/311 ,  G01R31/30

CPC classification number: G01R31/2881 ,  G01R31/002 ,  G01R31/2849 ,  G01R31/2853 ,  G01R31/30 ,  G01R31/311

Abstract: 本发明涉及一种表征电子元件限制其对能量相互作用敏感性的使用条件的方法。测量承受脉冲激光辐射的元件的性能。通过检测元件运行的暂时或持久故障，确定这个元件对哪个偏置值、频率值和温度值(或者其他的使用条件)敏感。如果必要，在检测时，产生的寄生电流被阻止损害被检测的元件。从而推断出元件对能量相互作用的敏感性和这个元件运行的最优条件。

公开(公告)号：CN101784991A

公开(公告)日：2010-07-21

申请号：CN200880104398.6

申请日：2008-06-26

Applicant: 欧洲航空防务及航天公司EADS法国

Inventor： N·比阿尔 ,  F·米勒 ,  A·布热罗尔 ,  P·安 ,  T·卡里埃

IPC: G06F11/24 ,  G01R31/308

CPC classification number: G06F11/24 ,  G01R31/2849 ,  G01R31/302 ,  G01R31/305 ,  G01R31/311

Abstract: 为了测试软件应用程序，将承载使用应用程序的器件(1)的电路板(6)经受由测试设备(17)产生的激光辐射(15)。利用在器件的复杂的操作时相期间分配的非常短的激光脉冲激励所述器件，以执行软件应用程序并观察器件和应用程序的反应。