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    一种多光源的LED芯片压降异常监测方法
    1.
    发明公开
    一种多光源的LED芯片压降异常监测方法 无效

    公开(公告)号：CN107300665A

    公开(公告)日：2017-10-27

    申请号：CN201710446553.3

    申请日：2017-06-13

    申请人： 江苏固立得精密光电有限公司

    发明人： 蒋文贤 ,  宋金华 ,  许大伟 ,  宫宵宵

    IPC分类号： G01R31/28

    CPC分类号： G01R31/2856 ,  G01R31/2879

    摘要： 本发明公开了一种多光源的LED芯片压降异常监测方法，包括以下步骤：①、对光源及光源中的每一路LED芯片进行编号；②、自动校准各光源的能量电压基准值；③、读取各光源对应的能量电压基准值；④、在各光源工作过程中，通过AD电路采集各光源的各路LED芯片的电压值；⑤、按照编号顺序依次对各光源中的各路LED芯片进行开路和短路判断，当判断为开路或者短路时显示并输出相应的报警信息。本发明按照编号顺序依次对各光源中的各路LED芯片进行开路和短路判断，能够准确判断出压降异常情况是由于哪一路LED芯片的开路或者短路原因导致的，从而便于及时维护，快速解决光源工作过程中的芯片工作异常问题。

    半导体测试夹具
    3.
    发明授权
    半导体测试夹具 有权

    公开(公告)号：CN102798738B

    公开(公告)日：2015-01-07

    申请号：CN201210068143.7

    申请日：2012-03-15

    申请人： 三菱电机株式会社

    发明人： 鹿口直斗 ,  池上雅明

    IPC分类号： G01R1/04

    CPC分类号： G01R1/04 ,  G01R1/06777 ,  G01R31/129 ,  G01R31/2879 ,  G01R31/2886 ,  G01R31/2887 ,  H01L22/14

    摘要： 本发明的目的在于提供一种在测试时能够防止在半导体的终端部的放电的半导体测试夹具。本发明的半导体测试夹具的特征在于，具备：台座（1），配设有探针（3）和以在平面视图中包围探针（3）的方式设置的绝缘物（2）；载物台（6），与台座（1）的配设有探针（3）以及绝缘物（2）的一侧的面对置地配置并且能够在台座（1）侧的面上载置被检体（4），在载物台（6）载置被检体（4）并且台座（1）和载物台（6）向接近的方向移动时，探针（3）与形成于被检体（4）的电极接触，并且，绝缘物（2）接触到被检体（4）。

    半导体器件
    6.
    发明公开
    半导体器件 无效

    公开(公告)号：CN101026156A

    公开(公告)日：2007-08-29

    申请号：CN200710004231.X

    申请日：2007-01-18

    申请人： 松下电器产业株式会社

    发明人： 太田修策 ,  濑川启明 ,  广藤政则

    IPC分类号： H01L27/02 ,  H01L23/544 ,  H01L23/522 ,  H01L23/48 ,  H01L21/66 ,  G01R31/28 ,  G01R31/30 ,  G11C29/50

    CPC分类号： G01R31/2879 ,  H01L24/06 ,  H01L2224/05554 ,  H01L2224/0603 ,  H01L2924/14 ,  H01L2924/00

    摘要： 本发明提供一种半导体器件，该半导体器件不需要增加探针的数量，能够实施高精度的老化和探针测试。分别对测试专用电源焊盘(303)提供电源电位，对测试专用接地焊盘(313)提供接地电位。提供给测试专用电源焊盘(303)的电源电位，经由测试专用电源布线(203)、由二极管元件(500、501、502)构成的电位传送电路(420、421、422)，分别传送到电源布线(200、201、202)，然后提供给电路块(100、101、102)。虽然由二极管元件(500～502)产生电压降，但通过设定二极管元件(500～502)的大小、电位传送电路(420～422)的电阻成分，以使对电源布线(200～202)分别均匀地产生电压降，由此能够不使半导体集成电路(10)内产生电压不均匀地实施晶片级老化和探针测试。

    负载试验装置、负载试验装置的帽
    8.
    发明授权
    负载试验装置、负载试验装置的帽 有权

    公开(公告)号：CN107533104B

    公开(公告)日：2018-06-12

    申请号：CN201680027138.8

    申请日：2016-02-23

    申请人： 株式会社辰巳菱机

    发明人： 近藤丰嗣

    IPC分类号： G01R31/34 ,  G01R31/00

    CPC分类号： G01R31/34 ,  G01R31/2879 ,  G01R31/40

    摘要： 提供一种负载试验装置等，能够在防止短路的同时保护电阻器的从框架突出的部分。负载试验装置包括：电阻单元，具有多个电阻器(R)和壁(框架21)，多个电阻器用于从试验对象电源接受电力供给，壁用于保持多个电阻器(R)中的每个电阻器的两端；盖(11)，安装在用于保持电阻单元的框体，用于保护电阻器(R)的端子(63)的从壁突出的部分和保护壁(框架21)；以及帽(70)，具有绝缘性，安装在电阻器(R)的端子(63)的从壁突出的部分，盖(11)由导电材料制成，帽(70)配置在盖(11)和电阻器(R)的端子(63)的从壁突出而露出的部分之间。

    一种电力电子芯片的高压检测装置
    9.
    发明公开
    一种电力电子芯片的高压检测装置 无效

    公开(公告)号：CN107436406A

    公开(公告)日：2017-12-05

    申请号：CN201710872700.3

    申请日：2017-09-25

    申请人： 广州市中潭空气净化科技有限公司

    发明人： 蒙泽喜

    IPC分类号： G01R31/28

    CPC分类号： G01R31/2879

    摘要： 本发明公开了一种电力电子芯片的高压检测装置，其结构包括机座、蜂鸣器、显示屏、检测头、导电盘、盖板、处理器、开关按钮、电源接口、指示灯；所述蜂鸣器由传感器、电路板、音圈、防尘盖、气孔组成。本发明一种电力电子芯片的高压检测装置，设有蜂鸣器，在电力电子芯片出现故障时，传感器会立即做出感应，并将故障信息传输到电路板上的音圈，使音圈响起，响起的蜂鸣声会从气孔发出，从而来提醒工作人员，让工作人员能够及时的对电力电子芯片进行检修调整，确保了变压器的正常使用，避免给用户造成经济损失。