公开(公告)号：CN104360510B

公开(公告)日：2018-02-16

申请号：CN201410686133.9

申请日：2014-11-24

申请人： 合肥鑫晟光电科技有限公司 ,  京东方科技集团股份有限公司

发明人： 盛化鹏 ,  吴松 ,  张林 ,  韦传兵 ,  田林山

IPC分类号： G02F1/13 ,  G01R1/067

CPC分类号： G09G3/006 ,  G01R1/067 ,  G01R1/07307 ,  G09G3/36

摘要： 本发明的实施例提供一种检测用探针块及其检测装置，涉及显示技术领域，解决了现有的探针块用于检测显示面板时会出现探针之间发生短路的问题，避免无法检测出显示面板的不良的情况出现，提高了显示面板的不良检出率，保证了显示面板的画面的显示质量，进而，避免对生产材料的浪费，降低了生产成本。该探针块包括：应用于显示面板的检测中，探针块上包括有探针，探针块上具有与显示面板中的引线对应的第一探针区域，其中：第一探针区域中的探针设置在与显示面板中相连引线中的第一引线对应的位置处，且，与第一引线相邻的引线对应的位置未设置探针；其中，第一引线为相连引线中的任意一根引线。本发明应用于显示面板的检测中。

公开(公告)号：CN103630713B

公开(公告)日：2017-12-19

申请号：CN201310372770.4

申请日：2013-08-23

申请人： 特克特朗尼克公司

发明人： J.E.斯皮纳 ,  K.A.格里斯特

IPC分类号： G01R1/067

CPC分类号： G01D11/24 ,  G01D11/30 ,  G01R1/067 ,  G01R1/06788

摘要： 本发明提供一种用于信号处理仪器的模块化探针组件，具有从探针组件的第一模块延伸的细长构件和在探针组件的第二模块中凹陷的腔。第二模块的腔被结构化为用以接纳第一模块的细长构件。用于探针组件的模块可具有安置于模块的外壳一端处的第一铰接的细长构件。从探针组件的第一模块延伸的细长构件可插入于在第二模块中凹陷的腔内，并且第一模块可被可移除地接合到第二模块。

公开(公告)号：CN106847720A

公开(公告)日：2017-06-13

申请号：CN201611099779.2

申请日：2016-12-02

申请人： 瑞萨电子株式会社

发明人： 鵜口福巳

IPC分类号： H01L21/66 ,  G01R1/067

CPC分类号： G01R3/00 ,  G01R1/0466 ,  G01R1/067 ,  G01R1/06716 ,  G01R1/06722 ,  G01R1/07314 ,  H01L22/14 ,  H01L22/26

摘要： 本发明涉及一种半导体装置的制造方法。在半导体装置的测试步骤中可重现且稳定地测量半导体装置的电气特性。探针引脚包括第一柱塞、第二柱塞、清洁轴、第一线圈弹簧和第二线圈弹簧。通过第二线圈弹簧允许容纳在第一柱塞的内部的清洁轴进出通过第一柱塞的接触部的尖端，由此去除附着到接触部的尖端的焊料刮屑。第一柱塞由缠绕在第一柱塞的外侧面上和在第二柱塞的外侧面上的第一线圈弹簧电耦接到第二柱塞。

公开(公告)号：CN104335289B

公开(公告)日：2017-03-22

申请号：CN201380029414.0

申请日：2013-06-10

申请人： 西屋电气有限责任公司

发明人： P·J·霍金斯 ,  L·J·彼得罗斯基

IPC分类号： G21C17/017

CPC分类号： G01R1/067 ,  G01M3/005 ,  G01N27/902

摘要： 一种用于将非破坏性检测传感器传递穿过管件的探头，其采用轮以减小摩擦。通过凸轮和在管件直径过渡部分处使探头居中的轴向往复柱塞装置将轮的径向行进机械联接。内部线材弯折被最小化，动态密封件被设置以协助在探头处的插入力，并且减小或消除由探头携载的柔性线缆的压缩载荷弯曲。与轮装置一样，密封节段的径向行进被机械联接以提供探头居中。

公开(公告)号：CN103782453B

公开(公告)日：2017-03-01

申请号：CN201280041014.7

申请日：2012-03-15

申请人： 欧姆龙株式会社

发明人： 酒井贵浩 ,  逸见幸伸

IPC分类号： H01R13/24 ,  H01R33/76

CPC分类号： G01R1/067 ,  G01R1/06722 ,  H01R13/2428 ,  H01R2201/20

摘要： 本发明提供一种即便为细长的触头也不会发生加工歪曲、寿命长并且制造成本低廉的触头及使用其的探测器。为此，通过电铸法将波纹体20）、连接于所述波纹体（20）的一端部（21）的固定部（30）、及连接于所述波纹体（20）的另一端部22）的可动部（40）一体成形。并且，通过按压所述可动部（40）而压缩所述波纹体（20），从而使所述波纹体（20）的相邻的圆弧部（24、24）相互接触而短路。

公开(公告)号：CN103543302B

公开(公告)日：2016-12-28

申请号：CN201310202946.1

申请日：2013-05-28

申请人： 本田技研工业株式会社

发明人： 赤堀重人 ,  山岸弘幸 ,  长谷川聪志 ,  山路阳子 ,  神原将郎 ,  平山心祐

IPC分类号： G01R1/067 ,  G01R3/00

CPC分类号： G01R1/067 ,  G01R1/07314 ,  G01R3/00 ,  G01R31/2891

摘要： 本发明提供一种电流施加装置，其能够使与被检查体面接触的接触体均一地接触被检查体的表面，从接触体向被检查体良好地施加电流，并且能够只更换该接触体。电流施加装置（1）与功率半导体（H）压力接触并施加电流，电流施加装置（1）具备：接触体（2），其与功率半导体（H）面接触；以及多个导电性2阶弹簧（31），它们将接触体（2）按压到功率半导体（H），接触体（2）和多个导电性2阶弹簧（31）以分体的方式构成，多个导电性2阶弹簧（31）对接触体（2）的多个区域分别施加按压力（F），并且对接触体（2）通电。

公开(公告)号：CN103723817B

公开(公告)日：2016-08-31

申请号：CN201310597310.1

申请日：2007-03-08

申请人： 西门子能源公司

发明人： D.R.史密斯 ,  M.豪德舍尔 ,  L.马滕 ,  J.A.梅德尔 ,  T.J.沃尔斯特德特 ,  R.J.温塔 ,  T.温格斯 ,  J.E.齐贝克

IPC分类号： C02F3/00

CPC分类号： C02F3/34 ,  C02F1/001 ,  C02F1/283 ,  C02F1/38 ,  C02F1/44 ,  C02F1/444 ,  C02F3/00 ,  C02F3/02 ,  C02F3/12 ,  C02F3/1268 ,  C02F3/1273 ,  C02F3/30 ,  C02F9/00 ,  C02F11/08 ,  C02F2101/301 ,  C02F2101/305 ,  C02F2101/327 ,  C02F2101/366 ,  C02F2303/16 ,  G01R1/0425 ,  G01R1/0441 ,  G01R1/045 ,  G01R1/067 ,  G01R1/06738 ,  H04N1/00 ,  H04N1/00002 ,  H04N13/122 ,  H04N13/125 ,  H04N13/20 ,  H04N13/204 ,  Y02W10/15

摘要： 本发明涉及用于处理废水的方法和装置。所述废水处理系统包括含活性炭和第一生物种群的生物反应器。所述废水处理系统还可包括膜生物反应器和/或湿式氧化单元。

公开(公告)号：CN103454460B

公开(公告)日：2016-08-10

申请号：CN201310214803.2

申请日：2013-06-03

申请人： 三菱电机株式会社

发明人： 冈田章 ,  秋山肇 ,  山下钦也

IPC分类号： G01R1/06 ,  G01R31/00

CPC分类号： G01R1/06711 ,  G01R1/067 ,  G01R31/2863

摘要： 本发明以提供能够容易地抑制绝缘基板的膨胀、翘曲等的检查装置及检查方法为目的。本发明所涉及的检查装置，具备：探针（14），具有固定于绝缘基板（10）的主体部（16）、与该主体部（16）的一端连接且配置于该绝缘基板（10）的背面侧的前端部（20）、和与该主体部（16）的另一端连接且配置于该绝缘基板（10）的表面侧的连接部（22）；以及与该连接部（22）相接触的散热端子（24）。而且，使电流经由该散热端子（24）及该探针（14）流向被测定物，该散热端子（24）散发来自该探针（14）的热量。

公开(公告)号：CN105628987A

公开(公告)日：2016-06-01

申请号：CN201510836524.9

申请日：2015-11-26

申请人： 日本麦可罗尼克斯股份有限公司

发明人： 安藤博康 ,  那须美佳

IPC分类号： G01R1/073

CPC分类号： G01R31/2891 ,  G01R1/067 ,  G01R1/06716 ,  G01R1/06733 ,  G01R1/06738 ,  G01R1/07314 ,  G01R1/073 ,  G01R1/07357

摘要： [解决的问题]提供探针与接触检查装置，探针能够使探针与电路板之间的电连接稳定化，接触检查装置装配有该探针。[解决方案]一种探针，其具有第一端和第二端，所述第一端与测试对象接触和分离，所述第二端与电路板接触，以对所述测试对象执行检查，其中所述第二端设置有转动被限制部，所述转动被限制部限制所述探针绕着所述探针的轴线方向的转动。所述第一端与所述第二端之间设置有可伸缩部，所述可伸缩部能够沿所述探针的轴线方向自由伸缩并具有至少一个螺旋槽。所述第二端由管状构件形成。而且，所述第一端与所述第二端之间设置有至少两个所述可伸缩部，并且所述可伸缩部之间形成有中间部。

公开(公告)号：CN104914323A

公开(公告)日：2015-09-16

申请号：CN201510105513.3

申请日：2015-03-11

申请人： 分类测试电子系统公司

发明人： 沃克·雷克莫泽 ,  格哈德·格斯克温德博格

IPC分类号： G01R31/00

CPC分类号： G01R3/00 ,  B08B1/00 ,  G01R1/0408 ,  G01R1/0433 ,  G01R1/067 ,  G01R1/07307 ,  G01R31/31905

摘要： 本发明涉及一种用于测试电子元件(4)的装置，具有：至少一个测试插座(1)，带有测试接触部(2)，带有槽件(3)，在所述槽件中可放置至少一个电子元件(4)；及用于测试插座(1)的测试接触部(2)的至少一个清洁单元(6、7；8、9；10、7、9)，其中，通过在测试插座(1)与槽件(3)之间作为测试进程实施的相对移动，所述电子元件(4)压在测试插座(1)的测试接触部(2)上，且可再次从测试接触部上抬起。根据本发明，至少一个清洁单元(6、7；8、9；10、7、9)这样地设计，即，在每个测试进程中，测试接触部(2)与至少一个清洁单元(6、7；8、9；10、7、9)接触。