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公开(公告)号：CN104395735B
公开(公告)日：2019-07-30
申请号：CN201380032520.4
申请日：2013-06-18
申请人： 欧德富有限公司
发明人： 如弟格·库比则克
CPC分类号： G01B11/303 , G01B11/02 , G01B2210/56 , G01N21/4788
摘要： 本发明涉及一种用于对表面纹理化的单晶硅晶片(1)上的角锥(2)进行光学测量的方法，其中通过使用至少一个光源(4)和至少一个光接收器(5)，在角锥上弯曲的光(7)被接收用于确定角锥的几何特征。在向前方向上散射的光(9)选择性地通过另一光接收器(8)测量并且确定硅晶片的表面通过角锥覆盖的程度。
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公开(公告)号：CN108458674A
公开(公告)日：2018-08-28
申请号：CN201810442031.0
申请日：2018-05-10
申请人： 来安县隆华摩擦材料有限公司
发明人： 薛正宇
CPC分类号： G01B11/303 , G01N3/02 , G01N3/56
摘要： 本发明公开了一种汽车离合器摩擦片的加工检测方法，包括如下步骤：S1、选取离合器摩擦片成品，在100件中随机挑选50件，50件离合器摩擦片依次用激光照射模块经由离合器摩擦片的表面水平照射，当感光模块感应到固定的激光照射模块照射出的激光时，与感光模块电性连接的数据处理模块计数一次，并将与其电性连接的高度感应模块的感应高度记下；S2、数据处理模块将感光模块上的高度感应模块感应高度H1与激光照射模块上的高度感应模块感应高度H2进行处理，获得h=H1-H2，当h的绝对值处于预定范围内时，即离合器摩擦片初步合格；使用温度数据、速度数据和时间数据三组数据作为考量，提高了对产品质量的要求。
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公开(公告)号：CN108398106A
公开(公告)日：2018-08-14
申请号：CN201710064846.5
申请日：2017-02-05
申请人： 钱浙滨
发明人： 钱浙滨
CPC分类号： G01B11/303 , B61K9/08
摘要： 本发明给出一种轨道偏移测量基准设定方法、装置及系统，所述方法包括：在第一位置处设定轨道偏移测量用第一基准点，在第二位置处设定轨道偏移测量用第二基准点；所述第一基准点和第二基准点分别与行驶轨保持确定的位置对应关系，和/或使用轨道面控制点确定所述第一基准点和第二基准点的位置坐标；通过所述第一基准点向所述第二基准点发送第一激光束，该第一激光束用作轨道偏移测量的第一基准线，该第一激光束被位于其光路上的光耦和器分离出部分光能量用于轨道偏移测量。成本低、效率高、误差小，具有实用性。
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公开(公告)号：CN108351310A
公开(公告)日：2018-07-31
申请号：CN201680061392.X
申请日：2016-10-26
申请人： 日本碍子株式会社
CPC分类号： G01B11/303 , G01B11/30 , G01N21/95 , G06T7/0008 , G06T7/001 , G06T2207/10152
摘要： 本发明提供能够检测蜂窝结构体的端面的隔壁的裂纹的端面检查方法以及端面检查装置。具备以第二端面(2b)作为载置面(3)而配置蜂窝结构体(1)的配置工序，并且一边向蜂窝结构体(1)的第一端面(2a)照射在与蜂窝结构体(1)的相对于载置面(3)为垂直方向的轴(a)之间形成的角度(k)为40°以上的光(12)，一边获得第一端面(2a)的第一处理用图像数据。另外，一边照射上述的角度(k)小于40°的光(12)，一边获得第一端面(2a)的第二处理用图像数据。将第一处理用图像数据与第二处理用图像数据进行比较而检测裂纹，从而进行蜂窝结构体(1)的端面检查。
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公开(公告)号：CN107787263A
公开(公告)日：2018-03-09
申请号：CN201580081055.2
申请日：2015-07-03
申请人： 爱思开矽得荣株式会社
发明人： 郑硕镇
IPC分类号： B24B37/005 , B24B49/12 , H01L21/304 , H01L21/67
CPC分类号： B24B37/00 , G01B11/303 , G01B11/306 , B24B37/005 , B24B49/12 , H01L21/304 , H01L21/67253
摘要： 扫描设备的一实施例可以包括：引导框架；移动部，该移动部沿着引导框架的纵向移动；支架，该支架在其一侧联接到移动单元；感测单元，该感测单元联接到支架的另一侧，并且对沿竖直方向放置的物体的表面状态进行感测，该竖直方向与引导框架的纵向相垂直；以及一对支承部，该对支承部联接到引导框架的两侧。
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公开(公告)号：CN107747904A
公开(公告)日：2018-03-02
申请号：CN201710891089.9
申请日：2017-09-27
申请人： 北京信息科技大学
发明人： 马彬
CPC分类号： G01B11/00 , G01B11/303 , G01N3/08 , G01N2203/0256
摘要： 本发明提供一种橡胶粗糙表面接触机理集成测量系统，该系统包括垂向静态与动态加载系统、水平动态加载系统、图像采集及处理、粗糙表面三维重构系统、以及数据采集和处理单元；垂向静态与动态加载系统的输出端、水平动态加载系统的输出端与数据采集及处理单元的输入端连接；图像采集及处理系统输出端与数据采集和处理单元的输入端连接；粗燥表面三维重构系统的输出端与数据采集和处理单元的输入端连接。现有测量技术存在价格昂贵，测量精度低，稳定性较差的技术问题。本发明具有系统集成度较高，实用性较强，操作简单、低消耗，多数组成部件为标准化产品，适用于大规模推广应用的优点。
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公开(公告)号：CN107726998A
公开(公告)日：2018-02-23
申请号：CN201711085461.3
申请日：2017-11-07
申请人： 中北大学
发明人： 陈振亚 , 张晋畅 , 苗鸿宾 , 辛志杰 , 其他发明人请求不公开姓名
CPC分类号： G01B11/2408 , G01B11/26 , G01B11/303
摘要： 本发明属于孔轴线圆度、锥度激光检测的技术领域，特别涉及一种锥形孔圆度、锥度检测装置，解决现有深孔检测技术不能检测微位移变动和微转角变动的问题，包括前、后定心结构、激光检测系统以及动力部分，前、后定心结构分别设置于激光检测系统两端并与之连接，前、后定心结构与孔壁保持接触适应深孔孔径变化分别实现激光检测系统前、后两端的中心线与深孔轴线重合；激光检测系统包括光电发射器、小锥透镜、大锥透镜、光电接收器以及无线信号收发器，检测装置沿轴线运动的位置信息与反射光斑的位置变化数据构成函数关系，得到沿轴向不同位置的孔形貌参数。本发明结构简单，成本低廉，使用方便，可以实现全程动态检测深孔直径随轴线位置的变化。
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公开(公告)号：CN104205159B
公开(公告)日：2018-02-02
申请号：CN201380004899.8
申请日：2013-01-04
申请人： 凯米拉公司
CPC分类号： G06T15/04 , G01B11/24 , G01B11/303 , G01N33/346 , G06T7/42 , G06T2200/04 , G06T2207/10152 , G06T2207/20056 , G06T2207/30124 , G06T2215/12
摘要： 揭示了表征起皱材料的表面的构形的方法、用于表征起皱材料的表面构形的装置、用于表征起皱材料的表面构形的计算机系统和类似物。
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公开(公告)号：CN107388994A
公开(公告)日：2017-11-24
申请号：CN201710447035.3
申请日：2017-06-14
申请人： 武汉华星光电技术有限公司
发明人： 余宏萍
IPC分类号： G01B11/30
CPC分类号： G01B11/303
摘要： 本发明提供了一种测量多晶硅粗糙度的方法及装置，所述方法操作方便，所述装置结构简单，通过将多晶硅放置于光源与积分球之间的不同位置，在积分球中测得多晶硅位于不同位置时的穿透率，根据穿透率计算出所述多晶硅的雾度，再以多晶硅雾度和粗糙度的数学关系得出多晶硅的表面粗糙度。本方案不需要对多晶硅进行切片取样，大大缩短测量时间、节约成本，并且可对多晶硅粗糙度进行实时监控。
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公开(公告)号：CN107289882A
公开(公告)日：2017-10-24
申请号：CN201710631824.2
申请日：2017-07-28
申请人： 芜湖微云机器人有限公司
发明人： 刘大鹏
CPC分类号： G01B11/303 , G01N21/95
摘要： 本发明公开了一种种植牙瑕疵和粗糙度检测方法，包括通过获取种植牙的点云信息，根据点云信息获取相对应的波动曲线，然后对波动曲线进行拉式变换，滤除低频信号，得到高频信号后在进行拉式逆变换，得到表征曲线轮廓信息的轮廓波动曲线，求取波动曲线与轮廓波动曲线的差分，得到表征瑕疵和粗糙度数据的差分曲线；将对应的固定维度的坐标以及剩下两个维度的坐标代入步骤4中的差分曲线，得到表征瑕疵和粗糙度的差分数值以及数值相对的三维坐标位置。从而实现定量的表征种植牙上每一个点对应的粗糙度和瑕疵的差分数值，从而用于定量的评判种植齿的质量；根据瑕疵点相邻是否存在瑕疵点，方便判定瑕疵程度、大小和位置。
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