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公开(公告)号:CN108885963A
公开(公告)日:2018-11-23
申请号:CN201680084244.X
申请日:2016-08-22
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: H01J37/295 , H01J37/22 , H01J37/26
Abstract: 对试样照射电子束来进行观察的电子显微镜具备:边缘元件,其配置在从上述试样未受到衍射而透射的非衍射波会聚的衍射面或与衍射面等效的面内;以及控制装置,其控制上述电子束或上述边缘元件。上述边缘元件具有遮断上述电子束的屏蔽部以及使上述电子束透射的开口,上述开口由上述屏蔽部的边缘构成,使得在上述衍射面内包围上述非衍射波会聚的点。上述控制装置将上述非衍射波会聚的点与上述边缘的距离保持为预定间隔,使上述非衍射波会聚的点沿着上述边缘相对于上述边缘使位置相对地变化,由此使观察图像的对比度变化。
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公开(公告)号:CN108885963B
公开(公告)日:2020-02-18
申请号:CN201680084244.X
申请日:2016-08-22
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: H01J37/295 , H01J37/22 , H01J37/26
Abstract: 对试样照射电子束来进行观察的电子显微镜具备:边缘元件,其配置在从上述试样未受到衍射而透射的非衍射波会聚的衍射面或与衍射面等效的面内;以及控制装置,其控制上述电子束或上述边缘元件。上述边缘元件具有遮断上述电子束的屏蔽部以及使上述电子束透射的开口,上述开口由上述屏蔽部的边缘构成,使得在上述衍射面内包围上述非衍射波会聚的点。上述控制装置将上述非衍射波会聚的点与上述边缘的距离保持为预定间隔,使上述非衍射波会聚的点沿着上述边缘相对于上述边缘使位置相对地变化,由此使观察图像的对比度变化。
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公开(公告)号:CN105531793B
公开(公告)日:2017-07-14
申请号:CN201480047309.4
申请日:2014-05-16
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: H01J37/295 , G01N23/04 , H01J37/09 , H01J37/147 , H01J37/153 , H01J37/24 , H01J37/244 , H01J37/26 , H01J37/28
CPC classification number: H01J37/10 , G01N23/20058 , G01N2223/418 , H01J37/04 , H01J37/05 , H01J37/09 , H01J37/147 , H01J37/1472 , H01J37/153 , H01J37/24 , H01J37/244 , H01J37/26 , H01J37/261 , H01J37/28 , H01J37/285 , H01J37/295 , H01J2237/21 , H01J2237/2614
Abstract: 本发明提供一种电子显微镜,其特征在于,在通过关闭透射电子显微镜的物镜(5),使电子束的交叉(11、13)与限制视场光阑(65)一致,并使第一成像透镜(61)的焦距变化,来进行试样的像观察模式与试样的衍射图案观察模式的切换的无透镜傅科法中,在第一成像透镜(61)的后段配置偏转器(81),在确定成像光学系统的条件后能够固定照射光学系统(4)的条件。由此,在不安装磁屏蔽透镜的通常的通用型透射电子显微镜中,也能够对操作者没有负担地实施无透镜傅科法。
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公开(公告)号:CN105531793A
公开(公告)日:2016-04-27
申请号:CN201480047309.4
申请日:2014-05-16
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: H01J37/295 , G01N23/04 , H01J37/09 , H01J37/147 , H01J37/153 , H01J37/24 , H01J37/244 , H01J37/26 , H01J37/28
CPC classification number: H01J37/10 , G01N23/20058 , G01N2223/418 , H01J37/04 , H01J37/05 , H01J37/09 , H01J37/147 , H01J37/1472 , H01J37/153 , H01J37/24 , H01J37/244 , H01J37/26 , H01J37/261 , H01J37/28 , H01J37/285 , H01J37/295 , H01J2237/21 , H01J2237/2614
Abstract: 本发明提供一种电子显微镜,其特征在于,在通过关闭透射电子显微镜的物镜(5),使电子束的交叉(11、13)与限制视场光阑(65)一致,并使第一成像透镜(61)的焦距变化,来进行试样的像观察模式与试样的衍射图案观察模式的切换的无透镜傅科法中,在第一成像透镜(61)的后段配置偏转器(81),在确定成像光学系统的条件后能够固定照射光学系统(4)的条件。由此,在不安装磁屏蔽透镜的通常的通用型透射电子显微镜中,也能够对操作者没有负担地实施无透镜傅科法。
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