用于在高深宽比的特征结构中沉积金属的方法

    公开(公告)号:CN103180483B

    公开(公告)日:2015-09-23

    申请号:CN201180051170.7

    申请日:2011-09-06

    CPC classification number: C23C14/046 C23C14/185 C23C14/3492

    Abstract: 在此提供在高深宽比特征结构中沉积金属的方法。一些实施例中,一种处理衬底的方法包括以下步骤:施加VHF频率的RF功率至包含金属的靶材以从等离子体形成气体形成等离子体,所述靶材配置在所述PVD腔室中于所述衬底上方;使用所述等离子体从所述靶材溅射金属原子,同时在所述PVD腔室中维持第一压力,所述第一压力足以离子化溅射的所述金属原子的主要部分;将所述离子化的金属原子沉积在所述开口的底部表面上以及沉积在所述衬底的第一表面上;施加第一RF功率以从所述底部表面与上表面再分配至少一些沉积的所述金属原子至所述开口的侧壁;以及重复所述沉积工艺与所述再分配工艺,直到金属的第一层沉积在所述开口的实质上所有表面上为止。

    非接触式处理套件
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101563560A

    公开(公告)日:2009-10-21

    申请号:CN200780047073.4

    申请日:2007-12-13

    CPC classification number: C23C14/564 C23C14/50 H01L21/68735

    Abstract: 本发明提供一种适用于物理气相沉积处理室的处理套件、以及具有非接触式处理套件的物理气相沉积处理室。在一实施例中,处理套件包括大致柱形的遮蔽件,其具有大致平坦的柱形本体、由该本体向下延伸的至少一个细长柱形环、以及由该本体的上表面向上延伸的安装部。在另一实施例中,处理套件包括大致柱形的沉积环。该沉积环包括大致平坦的柱形本体、向下延伸耦接至该本体外部的至少一个U形通道、由该本体内部区域的上表面向上延伸的内壁、以及由该内壁径向向内延伸的衬底支撑突出部。

    用于在高深宽比的特征结构中沉积金属的方法

    公开(公告)号:CN103180483A

    公开(公告)日:2013-06-26

    申请号:CN201180051170.7

    申请日:2011-09-06

    CPC classification number: C23C14/046 C23C14/185 C23C14/3492

    Abstract: 在此提供在高深宽比特征结构中沉积金属的方法。一些实施例中,一种处理衬底的方法包括以下步骤:施加VHF频率的RF功率至包含金属的靶材以从等离子体形成气体形成等离子体,所述靶材配置在所述PVD腔室中于所述衬底上方;使用所述等离子体从所述靶材溅射金属原子,同时在所述PVD腔室中维持第一压力,所述第一压力足以离子化溅射的所述金属原子的主要部分;将所述离子化的金属原子沉积在所述开口的底部表面上以及沉积在所述衬底的第一表面上;施加第一RF功率以从所述底部表面与上表面再分配至少一些沉积的所述金属原子至所述开口的侧壁;以及重复所述沉积工艺与所述再分配工艺,直到金属的第一层沉积在所述开口的实质上所有表面上为止。

    非接触式处理套件
    6.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101563560B

    公开(公告)日:2012-07-18

    申请号:CN200780047073.4

    申请日:2007-12-13

    CPC classification number: C23C14/564 C23C14/50 H01L21/68735

    Abstract: 本发明提供一种适用于物理气相沉积处理室的处理套件、以及具有非接触式处理套件的物理气相沉积处理室。在一实施例中,处理套件包括大致柱形的遮蔽件,其具有大致平坦的柱形本体、由该本体向下延伸的至少一个细长柱形环、以及由该本体的上表面向上延伸的安装部。在另一实施例中,处理套件包括大致柱形的沉积环。该沉积环包括大致平坦的柱形本体、向下延伸耦接至该本体外部的至少一个U形通道、由该本体内部区域的上表面向上延伸的内壁、以及由该内壁径向向内延伸的衬底支撑突出部。

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