半导体元件的制造方法
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN113454758B

    公开(公告)日:2024-04-26

    申请号:CN201980091663.X

    申请日:2019-02-25

    Abstract: 目的在于提供能够抑制半导体元件的不良的技术。半导体装置的制造方法具备:形成层叠体的工序,该层叠体在半导体基板的第1主面上依次配设有粘接保护层、粘接层、剥离层、支撑基板;去除形成有多个电路元件的部分以外的半导体基板的工序;将形成有电路元件的部分接合到转印基板的工序;去除剥离层、支撑基板及粘接层的工序;通过化学处理去除粘接保护层的工序;以及分割多个电路元件的工序。

    半导体基板的制造方法和半导体装置的制造方法

    公开(公告)号:CN113841223A

    公开(公告)日:2021-12-24

    申请号:CN201980096547.7

    申请日:2019-05-23

    Abstract: 本发明涉及半导体基板的制造方法,其具备:工序(a),准备在生长基板的第一主面形成有氮化物半导体层的外延基板和第一支承基板,在生长基板的第一主面与第一支承基板的第一主面之间形成树脂粘接层,将外延基板与第一支承基板贴合;工序(b),在工序(a)之后,使生长基板的第二主面薄板化;工序(c),在工序(b)之后,从经薄板化的生长基板的第二主面到树脂粘接层的侧面,形成第一保护薄膜层;工序(d),在工序(b)之后,从第一支承基板的第二主面到树脂粘接层的侧面,形成第二保护薄膜层;工序(e),在工序(c)和(d)之后,将经薄板化的生长基板除去;工序(f),在工序(e)之后,在氮化物半导体层上贴合第二支承基板;和工序(g),在工序(f)之后,将第一支承基板和树脂粘接层除去。

    半导体基板的制造方法及半导体装置的制造方法

    公开(公告)号:CN116868309A

    公开(公告)日:2023-10-10

    申请号:CN202180092263.8

    申请日:2021-02-04

    Abstract: 本发明涉及半导体基板的制造方法及半导体装置的制造方法。将生长基板(3)上形成的氮化物半导体层(1)经由可逆性粘接层(4)与支承基板(5)贴合。其次,除去生长基板(3),将新的基板(2)接合于露出的氮化物半导体层(1),然后,将可逆性粘接层(4)和支承基板(5)除去。其结果,将氮化物半导体层(1)从生长基板(3)上转移到新的基板(2)上。在将氮化物半导体层(1)与新的基板(2)接合的工序中,进行使氮化物半导体层(1)与新的基板(2)加压接触的工序、使可逆性粘接层(4)软化的工序、和使可逆性粘接层(4)再固化的工序。

    氮化物半导体装置及其制造方法
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115298807A

    公开(公告)日:2022-11-04

    申请号:CN202080098651.2

    申请日:2020-03-23

    Abstract: 本发明涉及氮化物半导体装置,其具备:金刚石基板;设置在金刚石基板上的第一石墨烯层;设置在第一石墨烯层上的第二石墨烯层;设置在所述第二石墨烯层上的氮化物半导体层;和设置在所述氮化物半导体层上的具有电极的氮化物半导体元件,其中,所述第一石墨烯层和第二石墨烯层作为金刚石基板和氮化物半导体层的界面层而设置。

    半导体基板的制造方法和半导体装置的制造方法

    公开(公告)号:CN113841223B

    公开(公告)日:2024-02-06

    申请号:CN201980096547.7

    申请日:2019-05-23

    Abstract: 后,将第一支承基板和树脂粘接层除去。本发明涉及半导体基板的制造方法,其具备:工序(a),准备在生长基板的第一主面形成有氮化物半导体层的外延基板和第一支承基板,在生长基板的第一主面与第一支承基板的第一主面之间形成树脂粘接层,将外延基板与第一支承基板贴合;工序(b),在工序(a)之后,使生长基板的第二主面薄板化;工序(c),在工序(b)之后,从经薄板化的生长基板的第二主面到树脂粘接层的侧面,形成第一保护薄膜层;工序(d),在工序(b)之后,从第一支承基板的第二主面到树脂粘接层的侧面,形成第二保护薄膜层;工序(e),在(56)对比文件JP 2005141090 A,2005.06.02KR 101207412 B1,2012.12.04KR 20010100375 A,2001.11.14TW 586136 B,2004.05.01US 2002127791 A1,2002.09.12梁李敏;刘彩池;解新建;王清周.高质量GaN薄膜生长工艺的研究进展.材料导报.2010,(第07期),全文.

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