半导体装置的制造方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110663105A

    公开(公告)日:2020-01-07

    申请号:CN201780090465.2

    申请日:2017-05-31

    Abstract: 提供在使用氮化半导体的场效应型晶体管中,得到充分的大小的漏极电流的技术。在半导体基板(1)的上表面,形成作为Alx1Iny1Ga1-x1-y1N的沟道层(3),在沟道层(3)的上表面,形成具有比沟道层(3)的带隙大的带隙的作为Alx2Iny2Ga1-x2-y2N的势垒层(4)。然后,在势垒层(4)的上表面,至少部分性地形成具有比势垒层(4)大的带隙的、作为绝缘体或者半导体的栅极绝缘膜(9),在栅极绝缘膜(9)的上表面,形成栅电极(10)。然后,一边对栅电极(10)施加正的电压,一边进行热处理。

    半导体装置及其制造方法
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114930509A

    公开(公告)日:2022-08-19

    申请号:CN202080091781.3

    申请日:2020-01-10

    Abstract: 半导体装置具备形成于基板(10)上的氮化物半导体层叠构造(100)、形成于氮化物半导体层叠构造(100)上的源电极(104)、漏电极(105)及栅电极(106)、和覆盖在氮化物半导体层叠构造(100)上的表面保护膜(110)。氮化物半导体层叠构造(100)包括形成于基板(10)上的第1氮化物半导体层(101)和形成于第1氮化物半导体层(101)上且组成与第1氮化物半导体层(101)不同的第2氮化物半导体层(102)。表面保护膜(110)包括以与栅电极(106)相接的方式形成的第1绝缘膜(111)以及以与第1绝缘膜(111)邻接的方式形成且具有比第1绝缘膜(111)高的碳浓度的第2绝缘膜(112)。

    半导体装置的制造方法
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110663105B

    公开(公告)日:2023-06-06

    申请号:CN201780090465.2

    申请日:2017-05-31

    Abstract: 提供在使用氮化半导体的场效应型晶体管中,得到充分的大小的漏极电流的技术。在半导体基板(1)的上表面,形成作为Alx1Iny1Ga1‑x1‑y1N的沟道层(3),在沟道层(3)的上表面,形成具有比沟道层(3)的带隙大的带隙的作为Alx2Iny2Ga1‑x2‑y2N的势垒层(4)。然后,在势垒层(4)的上表面,至少部分性地形成具有比势垒层(4)大的带隙的、作为绝缘体或者半导体的栅极绝缘膜(9),在栅极绝缘膜(9)的上表面,形成栅电极(10)。然后,一边对栅电极(10)施加正的电压,一边进行热处理。

    半导体装置及其制造方法
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113939918A

    公开(公告)日:2022-01-14

    申请号:CN201980097305.X

    申请日:2019-06-18

    Abstract: 本发明的目的在于提供具有高的散热性能的半导体装置。半导体装置(1001)具备:金刚石基板(23),在上表面(109)形成有凹部(17);氮化物半导体层(2、3),形成于金刚石基板(23)的上表面(109)的凹部(17)的内部;以及电极(101、102、106),形成于氮化物半导体层(2、3)上,氮化物半导体层(2、3)和电极(101、102、106)构成场效应晶体管,在金刚石基板(23)形成在厚度方向上贯通金刚石基板(23)而使源极电极(101)露出的源极通道孔(501),该半导体装置还具备覆盖源极通道孔(501)的内壁和金刚石基板(23)的下表面的通道金属(502)。

Patent Agency Ranking