氮化物半导体装置
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN111902920B

    公开(公告)日:2024-10-01

    申请号:CN201980021326.3

    申请日:2019-02-19

    Abstract: 氮化物半导体装置(10)具备依次被设置的基板(12);漂移层(14);第1基础层(16);到达漂移层(14)的栅极开口部(22);沿着栅极开口部(22)的内表面设置的电子传输层(24)和电子供给层(26);以覆盖栅极开口部(22)的方式设置的栅极电极(30);延伸到第1基础层(16)的源极开口部(32);被设置在源极开口部(32)并且与第1基础层(16)连接的源极电极(34);被设置在基板(12)的背面侧的漏极电极(36);在基板(12)的最外周部(48),贯通电子传输层(24)和电子供给层(26)并延伸到第1基础层(16)的外周开口部(38);被设置在外周开口部(38),与第1基础层(16)连接,不与电子传输层(24)和电子供给层(26)接触的电位固定电极(40)。

    半导体装置
    7.
    发明公开
    半导体装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN118511285A

    公开(公告)日:2024-08-16

    申请号:CN202280087494.4

    申请日:2022-12-26

    Inventor: 巽泰三

    Abstract: 半导体装置具备:基板;源电极,在第一方向延伸,设于基板上;漏电极,在第一方向延伸,设于基板上;第一栅电极,在第一方向延伸,设于源电极与漏电极之间的基板上;第二栅电极,在第一方向延伸,设于源电极与漏电极之间的第一栅电极的第一方向上的基板上;栅极焊盘,被设置为使第一栅电极配置于栅极焊盘与第二栅电极之间,所述栅极焊盘与第一栅电极电连接;栅极布线,设于源电极的与基板相反的一侧的上方,在第一方向延伸,将栅极焊盘与第二栅电极电连接;以及屏蔽金属层,设于栅极布线与漏电极之间,在第一方向延伸,所述屏蔽金属层的至少一部分设于源电极的上方,并且所述屏蔽金属层与源电极电连接。

    半导体装置的制造方法
    8.
    发明授权

    公开(公告)号:CN112335023B

    公开(公告)日:2024-07-09

    申请号:CN201880094716.9

    申请日:2018-06-27

    Inventor: 角野翼

    Abstract: 本发明在半导体基板(1)之上涂覆抗蚀剂(4),在抗蚀剂(4)形成第1开口(5)和宽度比第1开口(5)窄的第2开口(6)。使用抗蚀剂(4)作为掩膜来对半导体基板(1)进行湿蚀刻而在第1开口(5)和第2开口(6)之下形成连续的一个凹陷(7)。在形成凹陷(7)后,使收缩材料(8)与抗蚀剂(4)进行交联反应,而使得第1开口(5)没有被封堵而第2开口(6)被封堵。在封堵第2开口(6)后,经由第1开口(5)在凹陷(7)形成栅电极(11)。

    垂直HEMT、电路和用于生产垂直HEMT的方法

    公开(公告)号:CN118284980A

    公开(公告)日:2024-07-02

    申请号:CN202280077519.2

    申请日:2022-11-23

    Abstract: 垂直高电子迁移率晶体管HEMT(100),包括:基板(310);漏极接触部(410),该漏极接触部是穿过所述基板的金属接触通孔;柱层(500),该柱层(500)布置在漏极接触部(410)上方并且包括至少一个垂直柱(510)和横向包围至少一个垂直柱(510)的支承材料(520);布置在柱层(500)上的异质结构台面(600),该异质结构台面(600)包括一起形成异质结(630)的AlGaN层(610)和GaN层(620);电连接至异质结构台面(600)的至少一个源极接触部(420a,420b);栅极接触部(430),该栅极接触部(430)布置在所述异质结构台面(600)上并且在至少一个垂直柱(510)上方;其中,至少一个垂直柱(510)在漏极接触部(410)与异质结(630)之间形成电子传输通道。

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