产生集成电路单元布局图的方法

    公开(公告)号:CN110970368A

    公开(公告)日:2020-04-07

    申请号:CN201910934511.3

    申请日:2019-09-27

    Abstract: 一种产生集成电路单元布局图的方法包括在初始单元的初始集成电路(IC)布局图中邻近一对第二主动区域定位第一主动区域,以沿着单元高度方向对准第一主动区域的侧边缘与此对第二主动区域的每个第二主动区域的对应侧边缘。此方法进一步包括在第一主动区域中布置至少一个第一鳍特征,以获得具有经修改IC布局图的经修改单元。第一主动区域的侧边缘及每个第二主动区域的对应侧边缘沿着单元高度方向延伸。第一主动区域在单元高度方向上的高度尺寸小于此对第二主动区域的每个第二主动区域在单元高度方向上的高度尺寸的一半。通过处理器执行定位第一主动区域或布置至少一个第一鳍特征的至少一个。

    传输门结构、操作IC制造系统的方法和布局图生成系统

    公开(公告)号:CN110880505B

    公开(公告)日:2022-09-16

    申请号:CN201910837850.X

    申请日:2019-09-05

    Abstract: 传输门结构包括第一有源区中的第一和第二PMOS晶体管和第二有源区中的第一和第二NMOS晶体管区域。第一PMOS晶体管和第二PMOS晶体管包括第一栅极结构和第二栅极结构,第一NMOS晶体管包括耦合到第二栅极结构的第三栅极结构,并且第二NMOS晶体管包括耦合到第一栅极结构的第四栅极结构。第一金属零段位于第一有源区上面,第二金属零段从第一金属零段偏移偏移距离,第三金属零段从第二金属零段偏移偏移距离,以及第四金属零段从第三金属零段偏移偏移距离并且位于第二有源区上面。本发明的实施例还涉及操作集成电路(IC)制造系统的方法和布局图生成系统。

    集成电路及其形成方法
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113889470A

    公开(公告)日:2022-01-04

    申请号:CN202110176765.0

    申请日:2021-02-07

    Abstract: 公开了一种集成电路及其形成方法。该集成电路包括第一对电源轨、导电线组和第一组有源区,导电线组与第一对电源轨平行地被布置在第一层中。该集成电路还包括第一栅极,第一栅极在第二方向上被布置在第一对电源轨之间且穿过布局视图中的第一组有源区,其中,第一栅极被配置为由属于第一类型的第一晶体管和属于第二类型的第二晶体管共用;以及第二栅极和第三栅极,其中,第二栅极被配置为第三晶体管的控制端子,并且第三栅极被配置为第四晶体管的控制端子,第四晶体管的控制端子耦合至第三晶体管的控制端子。

    传输门结构、操作IC制造系统的方法和布局图生成系统

    公开(公告)号:CN110880505A

    公开(公告)日:2020-03-13

    申请号:CN201910837850.X

    申请日:2019-09-05

    Abstract: 传输门结构包括第一有源区中的第一和第二PMOS晶体管和第二有源区中的第一和第二NMOS晶体管区域。第一PMOS晶体管和第二PMOS晶体管包括第一栅极结构和第二栅极结构,第一NMOS晶体管包括耦合到第二栅极结构的第三栅极结构,并且第二NMOS晶体管包括耦合到第一栅极结构的第四栅极结构。第一金属零段位于第一有源区上面,第二金属零段从第一金属零段偏移偏移距离,第三金属零段从第二金属零段偏移偏移距离,以及第四金属零段从第三金属零段偏移偏移距离并且位于第二有源区上面。本发明的实施例还涉及操作集成电路(IC)制造系统的方法和布局图生成系统。

    半导体装置、其设计方法及包括其的系统

    公开(公告)号:CN119789533A

    公开(公告)日:2025-04-08

    申请号:CN202510226759.X

    申请日:2018-04-02

    Abstract: 本发明提供了一种半导体装置,包括第一布局图案,所述第一布局图案包括第一标准单元,所述第一标准单元包括:多条第一信号线,设置为相互平行并且每条第一信号线的中心位于相应的第一布线轨道上;以及两条第一电源线,平行地设置在所述多条第一信号线的相对两侧并且具有相同的宽度;以及其中,所述两条第一电源线的中心线限定为所述第一标准单元的边界。该半导体装置通过改变布线轨道,缩小标准单元,同时增加缩小的标准单元的电源线的宽度来解决布线问题和电迁移。本发明还提供了半导体装置的设计方法及包括半导体装置的系统。

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