处理半导体晶圆的方法与晶圆制造系统

    公开(公告)号:CN113380602B

    公开(公告)日:2025-01-10

    申请号:CN202110031638.1

    申请日:2021-01-11

    Abstract: 提供一种处理半导体晶圆的方法与晶圆制造系统,用于处理半导体晶圆的方法包括在一晶圆承载台的一顶表面上装载一半导体晶圆。该方法亦包括经由一第一气体入口端口及一第二气体入口端口在该半导体晶圆与该晶圆承载台的该顶表面之间供应一气态材料,该第一气体入口端口及该第二气体入口端口位于该顶表面的一扇状区段下方。该方法进一步包括将一流体介质供应至该晶圆承载台的一流体入口端口且引导来自该流体入口端口的该流体介质以流经位于该顶表面的该扇状区段下方的许多弧状通道。另外,该方法包括在该半导体晶圆上方供应一电浆气体。

    储存装置
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110834820A

    公开(公告)日:2020-02-25

    申请号:CN201910202168.3

    申请日:2019-03-18

    Abstract: 一种湿度控制储存装置包含多个平板,这些平板配置以形成一密闭容积(Enclosed Volume)。这些平板中的第一平板包含进气口与出气口。储存装置还包含净化系统,此净化(Purge)系统具有进气管路、气体供应系统、以及气体抽出系统。进气管路包含喷嘴与耦合于进气口的圆筒部。气体供应系统配置以供应净化气体给进气管路。进气管路配置沿一方向将净化气体输出至密闭容积中,而在密闭容积内形成圆形或椭圆形的气流图案。气体抽出系统耦合于出气口,且配置以将净化气体从密闭容积中抽出。

    处理半导体晶圆的方法与晶圆制造系统

    公开(公告)号:CN113380602A

    公开(公告)日:2021-09-10

    申请号:CN202110031638.1

    申请日:2021-01-11

    Abstract: 提供一种处理半导体晶圆的方法与晶圆制造系统,用于处理半导体晶圆的方法包括在一晶圆承载台的一顶表面上装载一半导体晶圆。该方法亦包括经由一第一气体入口端口及一第二气体入口端口在该半导体晶圆与该晶圆承载台的该顶表面之间供应一气态材料,该第一气体入口端口及该第二气体入口端口位于该顶表面的一扇状区段下方。该方法进一步包括将一流体介质供应至该晶圆承载台的一流体入口端口且引导来自该流体入口端口的该流体介质以流经位于该顶表面的该扇状区段下方的许多弧状通道。另外,该方法包括在该半导体晶圆上方供应一电浆气体。

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