半导体装置及其制造方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114792723A

    公开(公告)日:2022-07-26

    申请号:CN202210049817.2

    申请日:2022-01-17

    Abstract: 本公开提供一种半导体装置及其制造方法。半导体装置包括垂直堆叠的多个第一通道构件、垂直堆叠的多个第二通道构件、包裹环绕多个第一通道构件的每一者的n型功函数层、位于n型功函数层上方并包裹环绕多个第一通道构件的每一者的第一p型功函数层、包裹环绕多个第二通道构件的每一者的第二p型功函数层、位于第二p型功函数层上方并包裹环绕多个第二通道构件的每一者的第三p型功函数层、以及位于第一p型功函数层的顶部表面与第三p型功函数层的顶部表面上方的栅极覆盖层,使得栅极覆盖层电性耦接第一p型功函数层与第三p型功函数层。

    半导体装置
    3.
    实用新型

    公开(公告)号:CN218004863U

    公开(公告)日:2022-12-09

    申请号:CN202221747365.7

    申请日:2022-07-06

    Abstract: 半导体装置包括纳米结构的堆叠,其在第一水平方向上各自延伸。上述堆叠在垂直方向上各自延伸且在第二水平方向上彼此分隔。第一栅极设置于堆叠的第一子集合上。第二栅极设置于堆叠的第二子集合上。第一导电盖层设置于第一栅极的上表面的实质上的整体上。第二导电盖层设置于第二栅极的上表面的实质上的整体上。介电结构在第二水平方向上设置于第一栅极与第二栅极之间。介电结构实体且电性分隔第一栅极与第二栅极。介电结构的上表面实质上不具有设置于其上的第一或第二导电盖层。

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