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公开(公告)号:CN115663006A
公开(公告)日:2023-01-31
申请号:CN202211439745.9
申请日:2017-02-10
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: H01L27/146
Abstract: 本发明的实施例公开了半导体图像传感器件及其制造方法。半导体图像传感器件包括衬底、第一像素和第二像素、以及隔离结构。第一像素和第二像素设置在衬底中,其中,第一和第二像素为相邻像素。隔离结构设置在衬底中并且介于第一和第二像素之间,其中,隔离结构包括介电层,并且介电层包括碳氧氮化硅(SiOCN)。
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公开(公告)号:CN107123658A
公开(公告)日:2017-09-01
申请号:CN201710072602.1
申请日:2017-02-10
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: H01L27/146
CPC classification number: H01L27/1463 , H01L21/02211 , H01L21/02274 , H01L21/0228 , H01L21/76224 , H01L27/1464 , H01L27/14643 , H01L27/14683
Abstract: 本发明的实施例公开了半导体图像传感器件及其制造方法。半导体图像传感器件包括衬底、第一像素和第二像素、以及隔离结构。第一像素和第二像素设置在衬底中,其中,第一和第二像素为相邻像素。隔离结构设置在衬底中并且介于第一和第二像素之间,其中,隔离结构包括介电层,并且介电层包括碳氧氮化硅(SiOCN)。
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