一种发光二极管芯片
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106992235B

    公开(公告)日:2020-05-01

    申请号:CN201710292721.8

    申请日:2017-04-28

    Abstract: 本发明公开了一种发光二极管芯片,包括:半导体堆叠结构,半导体堆叠结构依次包括衬底、第一半导体层、多量子阱层、第二半导体层和电流扩展层,第一半导体层和第二半导体层的导电类型相反,半导体堆叠结构自电流扩展层至衬底方向具有开槽,且开槽底部裸露第一半导体层;位于开槽内、且形成于第一半导体层上的第一电极层;形成于电流扩展层背离衬底一侧的第二电极层,第二电极层包括第二电极引脚,及延伸方向相同、且垂直延伸方向排列的多个第二延伸体,第二延伸体的一端与第二电极引脚相连。本发明提供的技术方案,保证多量子阱层中的电流分布更加均匀,且被遮挡光子可以通过相邻两个第二延伸体之间的空隙出射,提高发光二极管芯片的发光亮度。

    LED芯片及其制作方法
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110534623B

    公开(公告)日:2021-06-11

    申请号:CN201910827366.9

    申请日:2019-09-03

    Abstract: 本申请实施例公开了一种LED芯片及其制作方法,所述LED芯片的外延结构中具有贯穿P型氮化镓层和有源层的凹槽,该凹槽曝露N型氮化镓层部分表面,将外延结构分成位于凹槽两侧的第一外延结构和第二外延结构,第一P型电极位于透明导电层背离第一外延结构一侧表面,第一N型电极位于第二外延结构背离衬底一侧表面,从而使得本申请实施例提供的LED芯片中,与外界结构相连的第一P型电极所在的第一外延结构和用于与外界结构相连的第一N型电极所在的第二外延结构等高,进而在焊接第一P型电极和第一N型电极时,可以避免第一P型电极和第一N型电极的高度差过大导致的LED芯片在封装打线过程中存在虚焊或焊接压力过大的问题。

    一种发光二极管芯片
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106992235A

    公开(公告)日:2017-07-28

    申请号:CN201710292721.8

    申请日:2017-04-28

    Abstract: 本发明公开了一种发光二极管芯片,包括:半导体堆叠结构,半导体堆叠结构依次包括衬底、第一半导体层、多量子阱层、第二半导体层和电流扩展层,第一半导体层和第二半导体层的导电类型相反,半导体堆叠结构自电流扩展层至衬底方向具有开槽,且开槽底部裸露第一半导体层;位于开槽内、且形成于第一半导体层上的第一电极层;形成于电流扩展层背离衬底一侧的第二电极层,第二电极层包括第二电极引脚,及延伸方向相同、且垂直延伸方向排列的多个第二延伸体,第二延伸体的一端与第二电极引脚相连。本发明提供的技术方案,保证多量子阱层中的电流分布更加均匀,且被遮挡光子可以通过相邻两个第二延伸体之间的空隙出射,提高发光二极管芯片的发光亮度。

    LED芯片及其制作方法
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110534623A

    公开(公告)日:2019-12-03

    申请号:CN201910827366.9

    申请日:2019-09-03

    Abstract: 本申请实施例公开了一种LED芯片及其制作方法,所述LED芯片的外延结构中具有贯穿P型氮化镓层和有源层的凹槽,该凹槽曝露N型氮化镓层部分表面,将外延结构分成位于凹槽两侧的第一外延结构和第二外延结构,第一P型电极位于透明导电层背离第一外延结构一侧表面,第一N型电极位于第二外延结构背离衬底一侧表面,从而使得本申请实施例提供的LED芯片中,与外界结构相连的第一P型电极所在的第一外延结构和用于与外界结构相连的第一N型电极所在的第二外延结构等高,进而在焊接第一P型电极和第一N型电极时,可以避免第一P型电极和第一N型电极的高度差过大导致的LED芯片在封装打线过程中存在虚焊或焊接压力过大的问题。

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