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公开(公告)号：CN115406368A
公开(公告)日：2022-11-29
申请号：CN202210935692.3
申请日：2022-08-04
Applicant: 华侨大学 , 宁波五维检测科技有限公司
Abstract: 本发明提供一种大范围曲面圆孔测量方法，确定轴向扫描次数、X向扫描最小次数以及Y向扫描最小次数，采用横向扫描采图外加纵向扫描采图的扫描方法，并采用图像中单位范围内环形分割加环形拼接，多阈值分层式计算直径；测量速度快，测量精度高，可以达到工业快速检测的要求，且测量方法鲁棒性强，可以大批量测出大变化范围孔径。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115406368B
公开(公告)日：2024-07-12
申请号：CN202210935692.3
申请日：2022-08-04
Applicant: 华侨大学 , 宁波五维检测科技有限公司
IPC: G01B11/12 , G06T7/136 , G06T3/4038
Abstract: 本发明提供一种大范围曲面圆孔测量方法，确定轴向扫描次数、X向扫描最小次数以及Y向扫描最小次数，采用横向扫描采图外加纵向扫描采图的扫描方法，并采用图像中单位范围内环形分割加环形拼接，多阈值分层式计算直径；测量速度快，测量精度高，可以达到工业快速检测的要求，且测量方法鲁棒性强，可以大批量测出大变化范围孔径。
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公开(公告)号：CN115420206A
公开(公告)日：2022-12-02
申请号：CN202211121561.8
申请日：2022-09-15
Applicant: 华侨大学
Abstract: 本申请涉及一种高深宽比微孔的测量装置及测量方法，该装置包括相机、多通道光源、光束调节装置及载物台，所述载物台用于放置待测微孔样品；所述相机与所述载物台沿竖直方向同轴设置，所述相机与所述载物台之间设置光束调节装置；所述多通道光源用于输出不同的单色光源，并经由所述光束调节装置实现该测量所需光束的光强与方向转折；所述相机用于获取任一两种由待测微孔样品同一位置反射出的单色光源，并发送至计算机，采用多通道光源发出不同波段的光源，DMD调制单点光进行照射微孔，通过不同波段光强做差，光强差转高度，从而进行快速求出高深宽比微孔的高度。
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公开(公告)号：CN218481698U
公开(公告)日：2023-02-14
申请号：CN202222415977.2
申请日：2022-09-13
Applicant: 华侨大学
Abstract: 本实用新型公开了一种自动快速对焦显微镜装置，包括底座、支撑杆、镜头、套筒和连接杆，底座顶端的中心位置处固定连接有支撑杆，且支撑杆的顶端固定连接有照明组件，支撑杆的表面通过套环二连接套杆，且套杆的一侧设置限位组件，在套杆远离限位组件的一侧固定连接有连接杆，套筒的底端固定连接有镜头，镜头的下方设置有防护组件。
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公开(公告)号：CN218481055U
公开(公告)日：2023-02-14
申请号：CN202222457428.1
申请日：2022-09-15
Applicant: 华侨大学
Abstract: 本申请涉及一种高深宽比微孔的测量装置，该装置包括相机、多通道光源、光束调节装置及载物台，所述载物台用于放置待测微孔样品；所述相机与所述载物台沿竖直方向同轴设置，所述相机与所述载物台之间设置光束调节装置；所述多通道光源用于输出不同的单色光源，并经由所述光束调节装置实现该测量所需光束的光强与方向转折；所述相机用于获取任一两种由待测微孔样品同一位置反射出的单色光源，并发送至计算机，采用多通道光源发出不同波段的光源，DMD调制单点光进行照射微孔，通过不同波段光强做差，光强差转高度，从而进行快速求出高深宽比微孔的高度。
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公开(公告)号：CN218034919U
公开(公告)日：2022-12-13
申请号：CN202221828165.4
申请日：2022-07-15
Applicant: 华侨大学
Abstract: 本实用新型公开了一种用于零件表面三维形貌还原及缺陷检测的装置，包括光源、均匀光透镜组、DMD投影单元、准直光透镜组、全反射棱镜、压电位移台、物镜、XYZ载物台、远心镜头、探测器以及计算机，工业零件放置于XYZ载物台之上，光源发出的光线经过均匀光透镜组后入射到DMD投影单元上并被调制，然后依次经过准直光透镜组、全反射棱镜和物镜，从而将正弦光栅条纹投影到工业零件表面，并由DMD投影单元产生同步信号触发探测器获取被工业零件调制后的变形光栅图像，将采集得到的图像传输至计算机中进行处理从而完成工业零件三维形貌重建。
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