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公开(公告)号：CN115115689A
公开(公告)日：2022-09-27
申请号：CN202210640198.4
申请日：2022-06-08
申请人： 华侨大学 , 宁波五维检测科技有限公司
摘要： 本发明提供了一种多波段光谱的深度估计方法，包括如下步骤：步骤1：用相机拍摄不同波段的原始图像P0(x,y)、P1(x,y)、···、Pi(x,y)，其中i表示不同波段；步骤2：以单一波段原始图为输入，以h(x,y)为卷积核，根据图像卷积公式P'(x,y)＝P(x,y)*h(x,y)，得到卷积后的模糊图像P'(x,y)；步骤3：分别计算原始图像P(x,y)和模糊图像P'(x,y)的边缘，根据得到边缘区域计算原始边缘梯度PE_G(x,y)和模糊边缘梯度P'E_G(x,y)；步骤4：将原始图像边缘PE_G(x,y)除以模糊边缘梯度P'E_G(x,y)，得原始图像和边缘图像的模糊比值σ(x,y)；步骤5：根据所得模糊比值σ(x,y)根据透镜成像公式计算稀疏深度；步骤6：对后续的波段原始图像分别再重复上述2‑5的步骤，并结合每个波段的聚焦位置，实现图像中的真实结构位置约束。
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公开(公告)号：CN115406368B
公开(公告)日：2024-07-12
申请号：CN202210935692.3
申请日：2022-08-04
申请人： 华侨大学 , 宁波五维检测科技有限公司
IPC分类号： G01B11/12 , G06T7/136 , G06T3/4038
摘要： 本发明提供一种大范围曲面圆孔测量方法，确定轴向扫描次数、X向扫描最小次数以及Y向扫描最小次数，采用横向扫描采图外加纵向扫描采图的扫描方法，并采用图像中单位范围内环形分割加环形拼接，多阈值分层式计算直径；测量速度快，测量精度高，可以达到工业快速检测的要求，且测量方法鲁棒性强，可以大批量测出大变化范围孔径。
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公开(公告)号：CN115200508B
公开(公告)日：2024-06-25
申请号：CN202210898541.5
申请日：2022-07-28
申请人： 华侨大学 , 宁波五维检测科技有限公司
摘要： 本发明提供一种面阵式超精密彩色共聚焦显微镜三维测量装置，包括面阵式多焦点多窄带波段复合照明光源模块、纵向色散增强型光学显微成像模块、多窄带波段图像获取模块、图像分析与系统控制模块；来自面阵式多焦点多窄带波段复合照明光源模块的光照射到待测样品上，从待测样本反射的光经过纵向色散增强型光学显微成像模块后进入多窄带波段图像获取模块，所述多窄带波段图像获取模块获取的图像信息进入到图像分析与系统控制模块。本发明提供的方法，能够实现高精度、大范围、高效率的微观三维形貌检测。
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公开(公告)号：CN115200507B
公开(公告)日：2024-06-25
申请号：CN202210898540.0
申请日：2022-07-28
申请人： 华侨大学 , 宁波五维检测科技有限公司
摘要： 本发明提供一种多波段差动共聚焦显微3D测量方法，包括：系统开机、样本放置以及超精密三维显微闪测步骤，首先在多窄带波段成像模块中的黑白相机形成波段为相应波段的多光谱共聚焦图像，其次构建差动信号步骤,将N个多光谱共聚焦图像相邻波段两两做差构建N‑1个差动信号，采用实际测量获得的N‑1个差动信号强度并对应预先刻度所获得的差动信号强度与高度线性关系曲线，获得样本表面高度；实现精密乃至超精密且超快的显微3D测量，且能够进行高精度、大范围、高效率的微观三维形貌检测。
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公开(公告)号：CN115015200B
公开(公告)日：2024-06-25
申请号：CN202210662325.0
申请日：2022-06-13
申请人： 华侨大学 , 宁波五维检测科技有限公司
摘要： 本发明提供一种基于空间光调制的纳米精度荧光成像装置，其特征在于，所述基于空间光调制的纳米精度荧光成像装置包括激发模块、激活模块、成像模块，其中激发模块、激活模块含有单个微元可调的空间光调制器，激发模块整形出射的激发光线与激活模块整形出射的激活光线合并，得到合并光线，合并光线经放大后以纳米尺寸照射到样品上并通过成像模块进行成像；本发明提供的装置实现无机械运动、无激光扫描的新型激光光斑调制，能够分辨单个荧光分子或者亚细胞精细结构，大幅降低了荧光成像装置的复杂度，提高了定位和成像效率。
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公开(公告)号：CN115200507A
公开(公告)日：2022-10-18
申请号：CN202210898540.0
申请日：2022-07-28
申请人： 华侨大学 , 宁波五维检测科技有限公司
摘要： 本发明提供一种多波段差动共聚焦显微3D测量方法，包括：系统开机、样本放置以及超精密三维显微闪测步骤，首先在多窄带波段成像模块中的黑白相机形成波段为相应波段的多光谱共聚焦图像，其次构建差动信号步骤,将N个多光谱共聚焦图像相邻波段两两做差构建N‑1个差动信号，采用实际测量获得的N‑1个差动信号强度并对应预先刻度所获得的差动信号强度与高度线性关系曲线，获得样本表面高度；实现精密乃至超精密且超快的显微3D测量，且能够进行高精度、大范围、高效率的微观三维形貌检测。
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公开(公告)号：CN115031659B
公开(公告)日：2024-06-25
申请号：CN202210641105.X
申请日：2022-06-08
申请人： 华侨大学 , 宁波五维检测科技有限公司
IPC分类号： G01B11/24
摘要： 本发明提供了一种轴向跨尺度的精密三维显微测量方法，包括如下步骤：步骤1：在显微成像装置中，根据一定步进层扫获取一定数量的图像序列；步骤2：对层扫获得的图像序列分析其局部清晰区域提取并分割；步骤3：根据所分割的局部清晰区域，利用轴向差动原理，还原该序号图像上清晰区域的三维信息；步骤4：对不同序号所还原的清晰区域轴向三维信息，通过所述的层扫步进叠加进行融合，实现三维测量。上述的轴向跨尺度的精密三维显微测量方法，能够解决高精度下，实现轴向量程拓展。
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公开(公告)号：CN117170082A
公开(公告)日：2023-12-05
申请号：CN202311249851.5
申请日：2023-09-26
申请人： 华侨大学 , 宁波五维检测科技有限公司
IPC分类号： G02B21/24
摘要： 本发明公开一种基于像方差动并行共聚焦原理的自动对焦系统，涉及对焦领域；该系统包括：发射模块发射并行点光阵列；分光透镜将所述并行点光阵列传输至被测样品的表面，对被测样品的反射光进行分束处理，得到第一光束和第二光束；焦前单元根据第一光束，得到第一轴向光强信息；焦后单元根据第二光束，得到第二轴向光强信息；处理单元计算得到被测样品表面高度信息，基于被测样品表面高度信息计算被测样品表面补偿信息；调节模块根据所述被测样品表面补偿信息带动所述被测样品在二维平面运动或三维空间姿态移动。本发明根据计算得到的被测样品表面高度信息对被测样品的位置进行调节，使得被测样品实现自动对焦。
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公开(公告)号：CN115031659A
公开(公告)日：2022-09-09
申请号：CN202210641105.X
申请日：2022-06-08
申请人： 华侨大学 , 宁波五维检测科技有限公司
IPC分类号： G01B11/24
摘要： 本发明提供了一种轴向跨尺度的精密三维显微测量方法，包括如下步骤：步骤1：在显微成像装置中，根据一定步进层扫获取一定数量的图像序列；步骤2：对层扫获得的图像序列分析其局部清晰区域提取并分割；步骤3：根据所分割的局部清晰区域，利用轴向差动原理，还原该序号图像上清晰区域的三维信息；步骤4：对不同序号所还原的清晰区域轴向三维信息，通过所述的层扫步进叠加进行融合，实现三维测量。上述的轴向跨尺度的精密三维显微测量方法，能够解决高精度下，实现轴向量程拓展。
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公开(公告)号：CN115406368A
公开(公告)日：2022-11-29
申请号：CN202210935692.3
申请日：2022-08-04
申请人： 华侨大学 , 宁波五维检测科技有限公司
摘要： 本发明提供一种大范围曲面圆孔测量方法，确定轴向扫描次数、X向扫描最小次数以及Y向扫描最小次数，采用横向扫描采图外加纵向扫描采图的扫描方法，并采用图像中单位范围内环形分割加环形拼接，多阈值分层式计算直径；测量速度快，测量精度高，可以达到工业快速检测的要求，且测量方法鲁棒性强，可以大批量测出大变化范围孔径。
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