Invention Grant
- Patent Title: 一种轴向跨尺度的精密三维显微测量方法
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Application No.: CN202210641105.XApplication Date: 2022-06-08
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Publication No.: CN115031659BPublication Date: 2024-06-25
- Inventor: 易定容 , 袁涛 , 吴栋梁 , 杨泽宇 , 林泽金
- Applicant: 华侨大学 , 宁波五维检测科技有限公司
- Applicant Address: 福建省泉州市丰泽区城东城华北路269号;
- Assignee: 华侨大学,宁波五维检测科技有限公司
- Current Assignee: 华侨大学,宁波五维检测科技有限公司
- Current Assignee Address: 福建省泉州市丰泽区城东城华北路269号;
- Agency: 厦门市首创君合专利事务所有限公司
- Agent 张迪
- Main IPC: G01B11/24
- IPC: G01B11/24

Abstract:
本发明提供了一种轴向跨尺度的精密三维显微测量方法,包括如下步骤:步骤1:在显微成像装置中,根据一定步进层扫获取一定数量的图像序列;步骤2:对层扫获得的图像序列分析其局部清晰区域提取并分割;步骤3:根据所分割的局部清晰区域,利用轴向差动原理,还原该序号图像上清晰区域的三维信息;步骤4:对不同序号所还原的清晰区域轴向三维信息,通过所述的层扫步进叠加进行融合,实现三维测量。上述的轴向跨尺度的精密三维显微测量方法,能够解决高精度下,实现轴向量程拓展。
Public/Granted literature
- CN115031659A 一种轴向跨尺度的精密三维显微测量方法 Public/Granted day:2022-09-09
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