一种轴向跨尺度的精密三维显微测量方法

    公开(公告)号:CN115031659B

    公开(公告)日:2024-06-25

    申请号:CN202210641105.X

    申请日:2022-06-08

    Abstract: 本发明提供了一种轴向跨尺度的精密三维显微测量方法,包括如下步骤:步骤1:在显微成像装置中,根据一定步进层扫获取一定数量的图像序列;步骤2:对层扫获得的图像序列分析其局部清晰区域提取并分割;步骤3:根据所分割的局部清晰区域,利用轴向差动原理,还原该序号图像上清晰区域的三维信息;步骤4:对不同序号所还原的清晰区域轴向三维信息,通过所述的层扫步进叠加进行融合,实现三维测量。上述的轴向跨尺度的精密三维显微测量方法,能够解决高精度下,实现轴向量程拓展。

    一种双目窄带多波段共焦成像系统

    公开(公告)号:CN115685530A

    公开(公告)日:2023-02-03

    申请号:CN202211360745.X

    申请日:2022-11-02

    Applicant: 华侨大学

    Abstract: 本发明实施例公开了双目窄带多波段共焦成像系统,涉及共焦成像技术领域。照明单元产生复色光;准直透镜将复色光准直为复色光束;数字微镜器件将复色光束形成点光阵列;色散管镜将第一反射点光阵列进行色散得到单色点光阵列;第一分光透镜对点光阵列进行透射和反射;第一分光透镜还对入射的成像光进行透射和反射;第二分光透镜对第二透射点光阵列进行透射和反射;第一滤光转盘和第二滤光转盘分别承载多个滤光片,并能够切换任一滤光片至第三透射点光阵列的光路上;第一聚焦透镜和第二聚焦透镜进行聚焦;第一成像单元和第二成像单元形成成像结果。本发明实现了在成像过程中更换滤光片,提高成像效率。

    一种再模糊的共焦差动轴向有效区域提取的三维还原方法

    公开(公告)号:CN115096211A

    公开(公告)日:2022-09-23

    申请号:CN202210710316.4

    申请日:2022-06-22

    Applicant: 华侨大学

    Abstract: 一种再模糊的共焦差动轴向有效区域提取的三维还原方法,包括拍摄焦面图像、焦前图像、焦后图像三张图像;对焦面图像进行模糊处理,提取焦面图像内的轮廓边缘区域,并提取再模糊图像中的轮廓边缘区域对应区域;分别计算边缘梯度,将边缘灰度梯度和再模糊边缘灰度梯度进行比值运算,并计算离焦深度;提取焦面图像区域深度小于等于焦前图像、焦后图像离焦距离的区域;根据焦前、焦后分别提取的有效区域,进行作差,利用共焦差动轴向响应曲线还原视场内有效测量区域三维形貌;本发明实现了共聚焦差动测量有效测量区域的提取,提供了一种实现共焦差动测量的三维形貌的准确还原新方法,且可应用于不同共聚焦测量系统,具有一定的普适性。

    一种轴向跨尺度的精密三维显微测量方法

    公开(公告)号:CN115031659A

    公开(公告)日:2022-09-09

    申请号:CN202210641105.X

    申请日:2022-06-08

    Abstract: 本发明提供了一种轴向跨尺度的精密三维显微测量方法,包括如下步骤:步骤1:在显微成像装置中,根据一定步进层扫获取一定数量的图像序列;步骤2:对层扫获得的图像序列分析其局部清晰区域提取并分割;步骤3:根据所分割的局部清晰区域,利用轴向差动原理,还原该序号图像上清晰区域的三维信息;步骤4:对不同序号所还原的清晰区域轴向三维信息,通过所述的层扫步进叠加进行融合,实现三维测量。上述的轴向跨尺度的精密三维显微测量方法,能够解决高精度下,实现轴向量程拓展。

    归一化光强的共焦差动测量有效区域的三维形貌还原方法

    公开(公告)号:CN115031660B

    公开(公告)日:2024-06-25

    申请号:CN202210711460.X

    申请日:2022-06-22

    Applicant: 华侨大学

    Abstract: 本发明提供归一化光强的共焦差动测量有效区域的三维形貌还原方法,包括:采用相机拍摄焦面图像、焦前图像和焦后图像;对焦面图像的灰度值进行归一化处理,得到归一化图像;提取归一化图像与共聚焦轴向响应曲线对应的有效测量区域,得到有效测量模板,将有效测量模板分别与焦前图像、焦后图像进行掩膜提取,得到有效焦前图像、有效焦后图像;将有效焦前图像、有效焦后图像进行作差,利用差动共焦测量曲线,实现共聚焦差动测量有效测量区域三维还原;本发明方法将共聚焦成像轴向光强曲线和共聚焦差动曲线进行结合,有效的解决了视场中隶属于差动测量范围内的区域提取,实现了真实三维信息的还原。

    一种差动共聚焦轴向量程拓展测量装置、系统及方法

    公开(公告)号:CN116222394A

    公开(公告)日:2023-06-06

    申请号:CN202310080544.2

    申请日:2023-02-08

    Applicant: 华侨大学

    Abstract: 本发明公开一种差动共聚焦轴向量程拓展测量装置、系统及方法,属于共聚焦显微测量领域。载物台带动被测样品沿轴向方向上下移动,实现层扫,并结合照明单元、准直透镜、数字微镜器件、分光透镜、物镜、聚焦透镜使用的差动共聚焦显微测量技术,并且根据测量系统所使用物镜倍数调整参考平面的轴向间距,同时根据每个参考平面中其有效测量区域对焦前离焦图像和焦后离焦图像进行交集运算,确定每一个参考平面中能够还原的图像区域,通过差动共聚焦测量方法与层扫相结合,扩展了差动共聚焦轴向测量量程,实现了轴向大量程测量,还保证了轴向测量精度。

    一种单目窄带多波段共焦成像系统

    公开(公告)号:CN115524842A

    公开(公告)日:2022-12-27

    申请号:CN202211360742.6

    申请日:2022-11-02

    Applicant: 华侨大学

    Abstract: 本发明实施例公开了一种单目窄带多波段共焦成像系统,涉及共焦成像技术领域。照明单元产生复色光;准直透镜将复色光准直为复色光束;滤光转盘承载多个滤光片,并且,能够切换任一滤光片至复色光束的光路上;位于光路上的滤光片能够过滤复色光束形成窄带光;数字微镜器件将窄带光形成点光阵列;照明单元的中心以及数字微镜器件的中心位于准直透镜的光轴上;载物模块承载待成像物体;物镜、分光透镜、聚焦透镜和成像模块的中心共线;数字微镜器件的中心与分光透镜的中心共线;成像模块收集来自聚焦透镜的点光阵列,并形成成像结果。本发明实现了在成像过程中更换滤光片,提高了成像效率。

    一种再模糊理论的双模态聚焦分析方法

    公开(公告)号:CN114972141B

    公开(公告)日:2024-12-17

    申请号:CN202210519790.9

    申请日:2022-05-13

    Applicant: 华侨大学

    Abstract: 本发明提供一种再模糊理论的模态聚焦分析方法,包括:对待分析的灰度图像利用卷积进行模糊化,对待分析图像和模糊图像分别进行小波变换,提取待分析图像和模糊图像空域边缘,计算得到待分析图像的边缘图和模糊图像的边缘图;采用均值矩阵的滑动窗口计算所提取的待分析图像的低频纹理、模糊图像的低频纹理、待分析图像的高频边缘、模糊图像的高频边缘、待分析图像的边缘图和模糊图像的边缘图的方差矩阵;方差差值矩阵,均值方差差值,最终计算聚焦度得分;根据聚焦度得分,获取图像的聚焦位置,本发明采用再模糊理论,实现无参考图像的自比较,降低评价方法对应用场景和测量样本的实际要求,提高聚焦评价方法的普适性。

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