公开(公告)号：CN115015200A

公开(公告)日：2022-09-06

申请号：CN202210662325.0

申请日：2022-06-13

Applicant: 华侨大学 ,  宁波五维检测科技有限公司

Inventor： 易定容 ,  乐炜桦 ,  周博聪 ,  袁涛 ,  吴栋梁

IPC: G01N21/64 ,  G01N21/01

Abstract: 本发明提供一种基于空间光调制的纳米精度荧光成像装置，其特征在于，所述基于空间光调制的纳米精度荧光成像装置包括激发模块、激活模块、成像模块，其中激发模块、激活模块含有单个微元可调的空间光调制器，激发模块整形出射的激发光线与激活模块整形出射的激活光线合并，得到合并光线，合并光线经放大后以纳米尺寸照射到样品上并通过成像模块进行成像；本发明提供的装置实现无机械运动、无激光扫描的新型激光光斑调制，能够分辨单个荧光分子或者亚细胞精细结构，大幅降低了荧光成像装置的复杂度，提高了定位和成像效率。

公开(公告)号：CN116912086A

公开(公告)日：2023-10-20

申请号：CN202310365225.6

申请日：2023-04-07

Applicant: 华侨大学

Inventor： 易定容 ,  乐炜桦

IPC: G06T3/40 ,  G06T5/50 ,  G06V10/25 ,  G06N3/0464 ,  G06N3/0475 ,  G06N3/08 ,  G06N3/048 ,  G06N3/094

Abstract: 本发明公开了一种基于双路径融合的图像分辨率提升方法及系统，包括：数据采集阶段，获得低分辨率细胞显微图像与高分辨率细胞显微图像；数据预处理阶段，扩充网络模型训练的数据集；网络模型设计阶段，将预处理完成的训练集数据用于DPFSRN网络模型的训练；最优参数获取阶段，由优化器根据网络模型的损失值更新生成器和鉴别器的参数获得最优参数权重；待提升图像获取阶段，获得待提升的低分辨率细胞显微图像；分辨率提升阶段，使用加载有最优参数权重的DPFSRN对待提升的低分辨率细胞显微图像进行分辨率提升处理，并由DPFSRN网络输出对应的高分辨率细胞显微图像。本发明能够提高显微图像的分辨率从而加快显微光学系统的观测效率。

公开(公告)号：CN116452446A

公开(公告)日：2023-07-18

申请号：CN202310363873.8

申请日：2023-04-07

Applicant: 华侨大学

Inventor： 易定容 ,  乐炜桦 ,  周博聪 ,  胡欢欢 ,  陈思嘉

IPC: G06T5/00 ,  G06V10/52 ,  G06T7/10 ,  G06T3/40 ,  G06N3/0464 ,  G06N3/048 ,  G06N3/045 ,  G06N3/08

Abstract: 本发明公开了一种基于多尺度信息提取的图像去噪系统及方法，包括显微图像采集装置和图像去噪装置；所述显微图像采集装置用于采集训练和调试用的显微图像数据集，还用于采集待处理样本的细胞图像；所述显微图像采集装置用于使用所述显微图像数据集对多阶段去噪网络模型进行训练和调试，获得参数最优的多阶段去噪网络模型，还用于使用该多阶段去噪网络模型对输入的待处理样本的细胞图像进行处理输出去噪后的图像。本发明能够灵活调整被测样本相对物镜的轴向距离，从而实现在不同深度进行对焦，在此基础上，使用多阶段去噪网络模型对含噪声的细胞图像进行恢复处理，在噪声去除和纹理信息保存上具有显著效果。

公开(公告)号：CN115015200B

公开(公告)日：2024-06-25

申请号：CN202210662325.0

申请日：2022-06-13

Applicant: 华侨大学 ,  宁波五维检测科技有限公司

Inventor： 易定容 ,  乐炜桦 ,  周博聪 ,  袁涛 ,  吴栋梁

IPC: G01N21/64 ,  G01N21/01

Abstract: 本发明提供一种基于空间光调制的纳米精度荧光成像装置，其特征在于，所述基于空间光调制的纳米精度荧光成像装置包括激发模块、激活模块、成像模块，其中激发模块、激活模块含有单个微元可调的空间光调制器，激发模块整形出射的激发光线与激活模块整形出射的激活光线合并，得到合并光线，合并光线经放大后以纳米尺寸照射到样品上并通过成像模块进行成像；本发明提供的装置实现无机械运动、无激光扫描的新型激光光斑调制，能够分辨单个荧光分子或者亚细胞精细结构，大幅降低了荧光成像装置的复杂度，提高了定位和成像效率。

公开(公告)号：CN218034919U

公开(公告)日：2022-12-13

申请号：CN202221828165.4

申请日：2022-07-15

Applicant: 华侨大学

Inventor： 乐炜桦 ,  易定容 ,  黄彩虹 ,  周博聪 ,  谢佳豪

IPC: G01B11/25 ,  G01N21/88

Abstract: 本实用新型公开了一种用于零件表面三维形貌还原及缺陷检测的装置，包括光源、均匀光透镜组、DMD投影单元、准直光透镜组、全反射棱镜、压电位移台、物镜、XYZ载物台、远心镜头、探测器以及计算机，工业零件放置于XYZ载物台之上，光源发出的光线经过均匀光透镜组后入射到DMD投影单元上并被调制，然后依次经过准直光透镜组、全反射棱镜和物镜，从而将正弦光栅条纹投影到工业零件表面，并由DMD投影单元产生同步信号触发探测器获取被工业零件调制后的变形光栅图像，将采集得到的图像传输至计算机中进行处理从而完成工业零件三维形貌重建。