一种光电集成微系统3D封装结构及其制作方法

    公开(公告)号:CN119364886A

    公开(公告)日:2025-01-24

    申请号:CN202411492165.5

    申请日:2024-10-24

    Abstract: 本发明属于微系统技术领域,尤其涉及一种光电集成微系统3D封装结构及其制作方法。包括自上而下层叠设置的光电探测模组、信号调理模组和运算处理模组,光电探测模组、信号调理模组和运算处理模组均独立封装,相邻两模组间电学互连,光电探测模组上具有可视光窗。本发明不同模组相对独立,形状尺寸相互匹配,然后采用垂直互连的方式将多个功能模组立体堆叠,封装密度高,且封装投影面积小,封装投影形状为圆形或正多边形,适用于小直径空间设备的光学探测及信号处理;各个模组均独立封装,封装尺寸小,且可独立制造和测试,可维护性好。

    一种提高LTCC导体焊接性能的工艺方法

    公开(公告)号:CN115611652A

    公开(公告)日:2023-01-17

    申请号:CN202211405585.6

    申请日:2022-11-10

    Abstract: 本发明公开了一种提高LTCC导体焊接性能的工艺方法,包括:通过磨砂橡皮打磨LTCC基板表面,去除表面氧化物层;通过离子风枪吹扫打磨后的LTCC基板表面,去除表面打磨颗粒以及灰尘;通过酒精棉球擦拭吹扫后的LTCC基板表面,去除表面油脂及污垢;通过加热台加热擦拭后的LTCC基板;通过稀盐酸腐蚀加热后的LTCC基板表面,去除表面玻璃相;通过纯水浸泡腐蚀后的LTCC基板,去除表面稀盐酸;通过离子风枪吹干浸泡后的LTCC基板表面,去除表面纯水;通过烘箱烘干吹干后的LTCC基板,去除内部纯水;本发明能够去除LTCC导体表层玻璃相,增加焊料和LTCC导体的接触面积,提高LTCC导体的焊接性能。

    一种基于LTCC基板的BGA一体化封装装置

    公开(公告)号:CN106229276A

    公开(公告)日:2016-12-14

    申请号:CN201610639298.X

    申请日:2016-08-08

    Inventor: 杜松 陈锋 高亮

    CPC classification number: H01L21/67121 H01L21/67126 H01L2221/67

    Abstract: 本发明涉及一种基于LTCC基板的BGA一体化封装装置,其特征在于:包括LTCC基板(1),在LTCC基板(1)一侧设有一组电子元器件(3)、另一侧设有一组BGA锡球(5),在电子元器件(3)外侧的LTCC基板(1)上连接环形的围板(2),在围板2)上设有用于密封的盖板(4)。本发明的优点:本装置通过钎焊金属围板和平行封焊工艺,简化工艺,提高组装密度,降低成本,解决了气密性封装的技术问题,通过BGA代替PGA,采用表面组装工艺装配,便于组件组装,提高电路组装的可靠性,立体组装减小组装面积,提高组装效率。

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