公开(公告)号：CN119574695A

公开(公告)日：2025-03-07

申请号：CN202411488438.9

申请日：2024-10-24

Applicant: 华东光电集成器件研究所

Inventor： 曹军中 ,  万国士 ,  袁玮榕 ,  徐媛 ,  周玉婉

IPC: G01N29/04 ,  G01N29/265 ,  G01N29/26

Abstract: 本发明提供一种交错式叠层芯片缺陷检测方法，其特征在于：它包括以下步骤：选取待测叠层芯片，选择超声波换能器，水槽内加去离子水并且淹没载物台和其上放置的待测叠层芯片，除清除液面上的小水泡，去探头移到叠层芯片正上方，启动超声波换能器，在Z轴方向缓慢降低换能器探头，对测叠层芯片进行分层切片扫描，对每层密度差分界面产生的超声反射回波分别聚焦，分析波形情况，判定是否存在缺陷。本发明提供的步骤简单明了，采用分层切片扫描加分层聚焦的方法，先切片剖析样品内部的总体结构，既而对每个感兴趣的密度差界面单独聚焦检测，有效避免了层与层之间信息的干扰，可以准确识别交错式叠层芯片内部与塑封之间的瑕疵进行检测。

公开(公告)号：CN115524599B

公开(公告)日：2025-03-21

申请号：CN202211188636.4

申请日：2022-09-28

Applicant: 华东光电集成器件研究所

Inventor： 年探探 ,  王国宁 ,  于耀 ,  崔翔 ,  万国士 ,  赵磊 ,  刘小丽 ,  秦绍文 ,  郭瑾玲

IPC: G01R31/28 ,  G01R1/04 ,  G01N17/00 ,  B25B11/00

Abstract: 本发明提供一种集成电路盐雾试验样品固定装置，它包括基座（1），其特征在于在基座（1）上设有一组槽体（2），在槽体（2）内设有可活动的转板（3），在转板（3）上设有插槽（4），在基座（1）上设有与插槽（4）连通的槽体（5），在插槽（4）之间插接有试验样品插接板（6），在基座（1）上设有与其中一个转板（3）对应配合的锁紧销（7），基座（1）上设有与转板（3）连接配合的摇臂（8）。本发明结构简单，使用方便，可以快速实现试验样品的安装固定，以及试验样品在试验箱中角度的调节，可以使样品表面充分暴露在盐雾试验中，不仅可以提高工作效率简化工作过程，而且还提高试验的精确度。

公开(公告)号：CN110705139A

公开(公告)日：2020-01-17

申请号：CN201910793525.8

申请日：2019-08-27

Applicant: 华东光电集成器件研究所

Inventor： 苏亚慧 ,  秦盼 ,  王峙卫 ,  万国士 ,  赵磊

IPC: G06F30/23 ,  G06F119/14

Abstract: 本发明公开一种基于多应力耦合下电子设备可靠性评估方法，包括以下步骤：S1、确定电-热-力场耦合下电子设备的失效模式与失效机理；S2、根据步骤S1确定的电子设备失效模式与失效机理，建立多应力耦合下电子设备可靠性物理模型；S3、根据可靠性物理模型，对电子设备进行可靠性仿真分析；S4、根据步骤S3确定的可靠性薄弱环节，对电子设备的可靠性指标进行评估；本方法并不依托可靠性寿命数据，而是从电子设备的工艺参数信息、结构材料信息、工作和使用环境应力情况出发进行分析，可有效避免寿命数据不足的难点，减少成本；可相对准确地找出电子设备的可靠性薄弱环节，进而得到与实际情况更为符合的分析结果。

公开(公告)号：CN115524599A

公开(公告)日：2022-12-27

申请号：CN202211188636.4

申请日：2022-09-28

Applicant: 华东光电集成器件研究所

Inventor： 年探探 ,  王国宁 ,  于耀 ,  崔翔 ,  万国士 ,  赵磊 ,  刘小丽 ,  秦绍文 ,  郭瑾玲

IPC: G01R31/28 ,  G01R1/04 ,  G01N17/00 ,  B25B11/00

Abstract: 本发明提供一种集成电路盐雾试验样品固定装置，它包括基座（1），其特征在于在基座（1）上设有一组槽体（2），在槽体（2）内设有可活动的转板（3），在转板（3）上设有插槽（4），在基座（1）上设有与插槽（4）连通的槽体（5），在插槽（4）之间插接有试验样品插接板（6），在基座（1）上设有与其中一个转板（3）对应配合的锁紧销（7），基座（1）上设有与转板（3）连接配合的摇臂（8）。本发明结构简单，使用方便，可以快速实现试验样品的安装固定，以及试验样品在试验箱中角度的调节，可以使样品表面充分暴露在盐雾试验中，不仅可以提高工作效率简化工作过程，而且还提高试验的精确度。