一种微小型封装电路老炼夹具

    公开(公告)号:CN112345845A

    公开(公告)日:2021-02-09

    申请号:CN202011024190.2

    申请日:2020-09-25

    Abstract: 本发明提供一种微小型封装电路老炼夹具,它包括底座(1),其特征在于:所述的底座(1)为导电材料制成,在底座(1)上表面上设有电路放置槽(3),在底座(1)上设有对应配合的盖板(4),所述盖板(4)由绝缘材料制成,在盖板(4)上还设有插接有导电条(2)。本发明具有器件接触稳定可靠,散热效果快,装载方式简单,操作实用性强,夹具强度好不易损坏等优点。

    一种微小型封装电路老炼夹具

    公开(公告)号:CN112345845B

    公开(公告)日:2023-04-14

    申请号:CN202011024190.2

    申请日:2020-09-25

    Abstract: 本发明提供一种微小型封装电路老炼夹具,它包括底座(1),其特征在于:所述的底座(1)为导电材料制成,在底座(1)上表面上设有电路放置槽(3),在底座(1)上设有对应配合的盖板(4),所述盖板(4)由绝缘材料制成,在盖板(4)上还设有插接有导电条(2)。本发明具有器件接触稳定可靠,散热效果快,装载方式简单,操作实用性强,夹具强度好不易损坏等优点。

    绝缘电阻测试夹具
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102914670B

    公开(公告)日:2015-07-29

    申请号:CN201210409155.1

    申请日:2012-10-24

    Abstract: 本发明涉及一种绝缘电阻测试夹具,其特征在于:底板(5)中部设有两个通用双列直插插座;底板(5)上设有两个开关组,每个开关组中分别设有一组拨动开关X1…X30,Y1…Y30,每个拨动开关的一端分别与相应的通用双列直插插座上的夹片X1…X30,Y1…Y30对应连接;每个拨动开关的另一端与总导线(6)相连,总导线(6)的输出端通过电阻R与输出插座(7)连接。本发明通过每个输出端的小拨动开关,这样可以更简洁、方便、快速的测试出绝缘电阻,本发明相比现在的测试方式大大提高了测试效率,通过更换不同型号的插座可对不同种类的金属管壳进行绝缘电阻测试,具有多样性和通用性。

    绝缘电阻测试夹具
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102914670A

    公开(公告)日:2013-02-06

    申请号:CN201210409155.1

    申请日:2012-10-24

    Abstract: 本发明涉及一种绝缘电阻测试夹具,其特征在于:底板(5)中部设有两个通用双列直插插座;底板(5)上设有两个开关组,每个开关组中分别设有一组拨动开关X1…X30,Y1…Y30,每个拨动开关的一端分别与相应的通用双列直插插座上的夹片X1…X30,Y1…Y30对应连接;每个拨动开关的另一端与总导线(6)相连,总导线(6)的输出端通过电阻R与输出插座(7)连接。本发明通过每个输出端的小拨动开关,这样可以更简洁、方便、快速的测试出绝缘电阻,本发明相比现在的测试方式大大提高了测试效率,通过更换不同型号的插座可对不同种类的金属管壳进行绝缘电阻测试,具有多样性和通用性。

    一种贴片式电阻器和电容器可焊性夹具

    公开(公告)号:CN112304810A

    公开(公告)日:2021-02-02

    申请号:CN202011024219.7

    申请日:2020-09-25

    Abstract: 本发明提供一种贴片式电阻器和电容器可焊性夹具,它包括锡炉(1),其特征在在于:在锡炉(1)两侧分别设有升降架(2),在每个升降架(2)上均设有可移动悬臂(3),在悬臂(3)一端设有对应连接有夹体(4),每个夹体(4)上均夹持有一个基片插槽(5),在两个基片插槽(5)之间插接有一组基片(6),在基片(6)两侧均设有夹槽(6a)。本发明结构简单、使用方便,精确控制浸渍的高度,保证了试验的精确度,提高了工作效率,节约了生产成本。

    一种基于多应力耦合下电子设备可靠性评估方法

    公开(公告)号:CN110705139A

    公开(公告)日:2020-01-17

    申请号:CN201910793525.8

    申请日:2019-08-27

    Abstract: 本发明公开一种基于多应力耦合下电子设备可靠性评估方法,包括以下步骤:S1、确定电-热-力场耦合下电子设备的失效模式与失效机理;S2、根据步骤S1确定的电子设备失效模式与失效机理,建立多应力耦合下电子设备可靠性物理模型;S3、根据可靠性物理模型,对电子设备进行可靠性仿真分析;S4、根据步骤S3确定的可靠性薄弱环节,对电子设备的可靠性指标进行评估;本方法并不依托可靠性寿命数据,而是从电子设备的工艺参数信息、结构材料信息、工作和使用环境应力情况出发进行分析,可有效避免寿命数据不足的难点,减少成本;可相对准确地找出电子设备的可靠性薄弱环节,进而得到与实际情况更为符合的分析结果。

    电路机械冲击试验固定装置

    公开(公告)号:CN105269484A

    公开(公告)日:2016-01-27

    申请号:CN201510664522.6

    申请日:2015-10-14

    CPC classification number: B25B11/00 G01M7/08

    Abstract: 本发明涉及电路机械冲击试验固定装置,其特征在于:包括支撑板(1)和压板(2),在支撑板(1)的上设有一个凹槽(1a),在凹槽(1a)内设有下引脚插孔(1b),在支撑板(1)上均布四个下安装通孔(1c),在压板(2)上设有与支撑板(1)的下引脚插孔(1b)一一对应配合引上脚插孔(2b),在压板(2)上均布四个上安装通孔(2a),上安装通孔(2a)与支撑板(1)的下安装通孔(1c)一一对应连通,支撑板(1)与压板(2)通过配合在对应的上安装通孔(2a)与下安装通孔(1c)的螺母螺栓(4)紧固配合。本发明的优点:本装置结构简单,安装方便,不损伤电路,准确度高,使用的普遍性大。

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