射频信号解调方法、装置、电子设备、存储介质及芯片

    公开(公告)号:CN115102815A

    公开(公告)日:2022-09-23

    申请号:CN202211022635.2

    申请日:2022-08-25

    IPC分类号: H04L27/00 H04B5/00

    摘要: 本公开涉及信号处理技术领域,具体涉及公开了一种射频信号解调方法、装置、电子设备、存储介质及芯片,该方法包括:对接收的射频信号进行处理,得到处理后的同相信号和处理后的正交信号;基于所述处理后的同相信号和所述处理后的正交信号,得到信道相位估计值;基于所述信道相位估计值,对第一复信号进行相位补偿,得到第二复信号,所述第一复信号为所述射频信号对应的复信号;对所述第二复信号中的实部信号进行解调,得到解调信息。该技术方案可以提高解调灵敏度,降低资源消耗,主要用于解调RFID信号。

    测温芯片的测温校准方法、装置、电子设备、介质及芯片

    公开(公告)号:CN115406561A

    公开(公告)日:2022-11-29

    申请号:CN202211187693.0

    申请日:2022-09-28

    IPC分类号: G01K15/00 H01L21/66

    摘要: 本公开涉及芯片校准技术领域,具体涉及公开了一种测温芯片的测温校准方法、装置、电子设备、介质及芯片,该方法包括:将待测区域划分为多个网格区域,每个网格区域内放置多个测温芯片;针对每个网格区域,获取所述网格区域内各测温芯片测量的测量温度;基于所述网格区域内各测温芯片测量的测量温度,计算得到所述网格区域的均值温度;根据所述网格区域内各测温芯片测量的测量温度与所述网格区域的均值温度,对所述网格区域内各测温芯片进行测温校准。该技术方案可以准确地对各测温芯片进行测温校准且校准成本低,主要用于批量对具有测温功能的芯片进行测温校准。

    基于射频门的读写器天线调试方法及读写器天线调试装置

    公开(公告)号:CN112306865B

    公开(公告)日:2022-01-14

    申请号:CN202011148013.5

    申请日:2020-10-23

    IPC分类号: G06F11/36 G06K19/077

    摘要: 本发明涉及射频测试技术领域,提供一种基于射频门的读写器天线调试方法及装置,射频门内部设置有多个电子标签和读写器天线,读写器天线连接至预先设置的读写器;所述方法包括:读写器在预设功率范围内以预设功率步长读取多个电子标签,获得每个功率点下所读到的电子标签的标识;其中,读写器在预设功率范围的最小值下读取不到任何电子标签,且读写器的预设实际工作功率位于预设功率范围内;根据每个功率点下所读到的电子标签的标识,获得多个电子标签中每个电子标签所在位置的射频能量值;根据多个电子标签中每个电子标签所在位置的射频能量值对读写器天线进行调试。本发明提供的技术方案,能够准确、快速地调试读写器天线,从而提高工作效率。