基于低压智能断路器的多业务应用程序运维管理方法及系统

    公开(公告)号:CN119938074A

    公开(公告)日:2025-05-06

    申请号:CN202510007257.8

    申请日:2025-01-03

    Abstract: 本发明公开了一种基于低压智能断路器的多业务应用程序运维管理方法及系统,包括:接收智能设备发送的新增的应用程序的注册申请;若注册申请评估通过,对新增的应用程序进行资源分配,将分配的资源信息反馈给智能设备;接收智能设备发送的新增的应用程序的安装包,根据安装包安装新增的应用程序,将新增的应用程序的状态设置为隔离运行状态;接收新增的应用程序上报的激活申请,根据注册申请对激活申请进行校验,若校验通过,解除新增的应用程序的隔离运行状态,为新增的应用程序分配管道密钥,以进行应用程序之间的安全数据交互。解决了低压智能断路器中多APP无法统一调度管理的问题,对应用程序进行统一管理,提高安全性和效率。

    高速电平转换电路以及芯片
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119906415A

    公开(公告)日:2025-04-29

    申请号:CN202510388952.3

    申请日:2025-03-31

    Abstract: 本发明涉及集成电路领域,公开一种高速电平转换电路以及芯片,所述电路包括:同反相信号输出电路,用于在输入信号上升沿期间,输出同相的第一输出信号及反相的第二输出信号;电平升压电路,用于响应于第一、第二输出信号,进入充电状态及将第一输出信号抬升VBS;衬底电压调节电路,用于响应于第一、第二输出信号,产生正向脉冲微分波形以使转换电路的第一NMOS管快速开启及产生负向脉冲微分波形以使第二NMOS管快速关闭;转换电路,用于响应于第一、第二NMOS管动作,将输出电压拉向低电平;反相输出缓冲器电路,用于对其输出电压进行反相以将低电平转换为目标电平。本发明的电平转换电路可实现高速、宽电平转换范围。

    通信网络卫星间切换方法、装置、存储介质和电子设备

    公开(公告)号:CN119865222A

    公开(公告)日:2025-04-22

    申请号:CN202411700121.7

    申请日:2024-11-26

    Abstract: 本申请涉及通信技术领域,具体公开了一种通信网络卫星间切换方法、装置、存储介质和电子设备,所述方法包括:根据终端设备的业务类型信息对多个卫星覆盖边界的终端设备进行切换方式划分,得到不同切换方式的终端设备队列;获取目标卫星为不同切换方式的终端设备队列预留的网络资源;在终端设备触发所处队列对应的卫星切换条件的情况下,基于该终端设备所处的终端设备队列的网络资源控制该终端设备接入目标卫星;获取不同切换方式的终端设备队列的网络资源利用率;在目标卫星的总网络资源不变的情况下,根据不同切换方式的网络资源利用率对预留的网络资源进行动态调整。该方法大大减少了相关技术方案中切换时延高、切换失败概率高等问题。

    N型半导体器件、半导体器件及其制造方法、芯片和电子设备

    公开(公告)号:CN119815904A

    公开(公告)日:2025-04-11

    申请号:CN202411934978.5

    申请日:2024-12-26

    Abstract: 本公开涉及半导体制造技术领域,具体涉及一种N型半导体器件、半导体器件及其制造方法、芯片和电子设备,所述N型半导体器件的制造方法,包括:提供形成有栅极结构的衬底;对所述栅极结构两侧的衬底进行多次预非晶化注入;其中,除最后一次预非晶化注入外,每一次预非晶化注入后进行一次低温退火处理;在最后一次预非晶化注入后对所述栅极结构两侧的衬底进行源漏注入,形成源极和漏极。上述技术方案利用对栅极结构两侧的衬底进行多次预非晶化注入,后续在退火的过程中,源漏区的衬底由非晶态向晶态转变时发生体积膨胀对沟道产生应力作用,从而提升了沟道的张应力,进而能够提升电子迁移率。

    测试结构、栅极线宽粗糙度测试方法

    公开(公告)号:CN119725324A

    公开(公告)日:2025-03-28

    申请号:CN202411772651.2

    申请日:2024-12-04

    Abstract: 本发明涉及半导体制造技术领域,提供一种测试结构、栅极线宽粗糙度测试方法。所述测试结构包括:测试有源区以及位于测试有源区上的测试栅极;所述测试有源区包括测试源极和测试漏极,测试源极和测试漏极分别位于所述测试栅极的两侧;测试栅极具有相对应的栅极设计图形,栅极设计图形沿第一方向延伸,栅极设计图形沿第二方向具有不同的宽度尺寸。本发明的测试结构的栅极设计图形具有不同的宽度尺寸,可以通过对栅极设计图形局部的宽度尺寸进行放缩处理,在保证测试栅极的整体平均线宽一定的前提下,单一变量的调整测试栅极的线宽粗糙度,为栅极的制造工艺提供依据。

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