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公开(公告)号：CN111541853A
公开(公告)日：2020-08-14
申请号：CN202010385562.8
申请日：2020-05-09
Applicant: 中国科学院新疆理化技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种基于通道分离的大面阵彩色CMOS图像传感器辐照后暗电流评估方法，该方法涉及装置是由静电试验平台、三维样品调整台、样品测试板、大面阵彩色CMOS图像传感器样品、直流电源和计算机组成，在暗场条件下，选定积分时间，利用经过辐照后的图像传感器获取暗场图像并保存，根据坐标将图像传感器不同像素单元的相应数据归类放入R、GB、GR或B通道的灰度值矩阵中，再改变积分时间，最后画出暗场下各通道的曲线，该曲线拟合直线的斜率除以图像传感器的转换增益即分别为各通道的暗电流。本发明操作方便简单，可以直观的看出辐照引起器件各通道暗电流退化的情况。从而为大面阵彩色CMOS图像传感器在空间应用时的抗辐射设计提供理论依据和技术支撑。
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公开(公告)号：CN110361618A
公开(公告)日：2019-10-22
申请号：CN201910724249.X
申请日：2019-08-07
Applicant: 中国科学院新疆理化技术研究所
Abstract: 本发明提供了一种用于CMOS图像传感器单粒子闩锁效应测试方法，该方法是由被测CMOS图像传感器、CMOS图像传感器测试板、FPGA、PC机、电流电压监测板和电源的测试系统组成，所述方法能够实现评估CMOS图像传感器不同电路模块的单粒子敏感性，从电路层面分析发生闩锁的具体原因；在地面模拟空间环境辐照试验中，在线实时采集不同电路单元电流电压值，同时采集暗场图像；依据发生闩锁时获得的暗场图像和不同电路单元电流电压变化，分析发生单粒子闩锁的具体位置和电路模块；本发明实时性强，方法简单快速，可以实时监测CMOS图像传感器单粒子闩锁效应，同时保护CMOS图像传感器发生闩锁后依然能够恢复正常工作，更加准确定位CMOS图像传感器发生单粒子闩锁的电路模块。
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公开(公告)号：CN108537809A
公开(公告)日：2018-09-14
申请号：CN201810336271.2
申请日：2018-04-16
Applicant: 中国科学院新疆理化技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种基于递归算法的图像传感器单粒子效应瞬态亮斑识别方法。该方法通过对图像传感器单粒子效应试验中采集的二维图像建立像素灰度值的二维数组，设置灰度值阈值并在灰度值的二维数组中识别图像背景，将图像背景和瞬态亮斑按灰度值阈值进行二值化，并建立二值化的二维数组；在二值化后的二维数组中逐行查找瞬态亮斑中的亮像素，以首个亮像素为基础，采用递归算法查找瞬态亮斑覆盖的所有像素，准确获得瞬态亮斑覆盖的像素数量。该方法相比于现有的图像传感器单粒子效应瞬态亮斑分析方法，提出了快速准确识别瞬态亮斑数量和瞬态亮斑覆盖像素数量的新方法，可增加提取图像传感器单粒子效应规律特征参数的能力，其推广应用具有重要的应用价值。本发明使用方便，识别结果准确。
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公开(公告)号：CN106932174A
公开(公告)日：2017-07-07
申请号：CN201710130429.6
申请日：2017-03-07
Applicant: 中国科学院新疆理化技术研究所
IPC: G01M11/02
CPC classification number: G01M11/00
Abstract: 本发明涉及一种用于焦平面成像器件绝对光谱响应的通用快速测量方法，该方法通过整幅图像输出来计算相对光谱响应，结合校准过的参考探测器，实现焦平面成像器件绝对光谱响应的测量；并以光阑对照射到参考探测器及焦平面成像器件上的光斑进行约束，使测量结果不受光斑形状、对称性、均匀性的影响。该方法相比于现有测量方法，解决了单色光均匀化后光强小、测量适用性差等问题，避免了焦平面局部缺陷对测量结果的影响，并且对测量设备的要求较低。作为一种焦平面绝对光谱响应测量的通用方法，可大大降低测量成本、显著缩短测量时间，其推广应用具有重要的经济效益与应用价值。
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公开(公告)号：CN120044332A
公开(公告)日：2025-05-27
申请号：CN202510187422.2
申请日：2025-02-20
Applicant: 中国科学院新疆理化技术研究所
IPC: G01R31/00 , G01R31/327 , G01R29/02 , G01J1/00
Abstract: 本发明涉及一种光导开关辐射损伤的测试方法，该方法涉及的测试装置是由皮秒脉冲激光器、扩束镜、偏转镜、聚焦镜、光能量计、光导开关测试板、高压直流电源、衰减器、示波器、第一同轴电缆、夹具台、高压电缆、第三同轴电缆、光学狭缝、第二同轴电缆组成，光导开关测试板采用同轴型结构，同时精简电路结构，使得电学回路电磁干扰小、信号传输损伤低。调整聚焦镜或光学狭缝能够改变脉冲激光的光能量强度和光斑大小，并用光能量计监控脉冲激光的光能量强度，实现对光路的精确控制。示波器采集衰减器上的脉冲信号，通过计算可得到导通电阻、上升时间、下降时间、半峰宽和负载峰值功率等光导开关的关键性能参数。满足光导开关辐照损伤效应试验的要求。克服了光导开关测试重复性差、精度低等现有测试问题。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119291435A
公开(公告)日：2025-01-10
申请号：CN202411454842.4
申请日：2024-10-17
Applicant: 中国科学院新疆理化技术研究所
Abstract: 本发明提供了一种电子器件剂量率与电磁脉冲协和效应试验装置，可应用于电子器件辐射效应技术领域。该装置包括：脉冲功率辐照装置、辐照腔、测试屏蔽单元、屏蔽柜、第一测试设备、第二测试设备、电源、第一电缆以及信号输入设备，其中，脉冲功率辐照装置用于产生脉冲X射线并进入辐照腔内，以使辐照腔内产生脉冲X射线以及电磁脉冲辐照的环境；测试屏蔽单元位于辐照腔的内部，用于放置待测试的电子器件，使其处于单一的脉冲X射线辐照环境或者脉冲X射线辐照和电磁脉冲辐照环境。通过测试屏蔽单元对测试线路板进行两种不同的方式的屏蔽，实现两种环境的试验测试。本发明还提供了一种电子器件剂量率与电磁脉冲协和效应试验测试方法。
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公开(公告)号：CN112945270B
公开(公告)日：2023-12-19
申请号：CN202110108151.9
申请日：2021-01-27
Applicant: 中国科学院新疆理化技术研究所
IPC: G01C25/00
Abstract: 本发明涉及一种基于星对角距平均测量误差的星敏感器辐射损伤外场评估方法，该方法涉及装置由样品测试板、互补金属氧化物半导体有源像素传感器样品、成像镜头、直流电源、计算机和转台组成，调整转台拍摄非天顶方向星区，采取星图进行星点提取、星图匹配，再调整转台的回转角和俯仰角，使外壳结构件上的固定成像镜头能够对准天顶方向天区，得到转台在方位俯仰都是相对0度时对应的星点坐标位置，再计算出非天顶方向星图中匹配成功的任意两颗恒星对应的星敏感器测量坐标系下的方向向量，并计算其夹角，得到测量星对焦距；再计算每幅星图匹配成功的任意两颗恒星在地心赤道惯性坐标系下的夹角，得到理论星对焦距。最后计算星对角距理论值和测量值均值的差值，即为星对焦距平均测量误差。本发明可以在外场条件下快速评估星敏感器在不同累积辐射剂量下辐射损伤，方法
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公开(公告)号：CN116389925A
公开(公告)日：2023-07-04
申请号：CN202310379602.1
申请日：2023-04-10
Applicant: 中国科学院新疆理化技术研究所
Abstract: 本公开提供一种用于光电成像器件在轨运行后光电参数恢复的方法，光电成像器件在轨运行后受到高能粒子的辐射损伤，包括：S1，将所述光电成像器件置于表面覆有遮光单元的暗室腔体中；S2，利用温控系统调节所述暗室腔体至预设温度；所述温控系统至少包括信号处理电路、热敏电阻、散热元件、加热元件、模数转换器、多路模拟开关；S3，对所述光电成像器件进行预设时长的退火，记录所述退火的条件信息；S4，利用测试系统中的控制模块设定测试参数，采集所述光电成像器件在不同积分时间下的图像数据；S5，利用计算机对所述图像数据进行处理，获得关键参数数据，并根据所述退火的条件信息和所述关键参数数据对所述光电成像器件进行光电参数的恢复。
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公开(公告)号：CN111541853B
公开(公告)日：2022-03-25
申请号：CN202010385562.8
申请日：2020-05-09
Applicant: 中国科学院新疆理化技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种基于通道分离的大面阵彩色CMOS图像传感器辐照后暗电流评估方法，该方法涉及装置是由静电试验平台、三维样品调整台、样品测试板、大面阵彩色CMOS图像传感器样品、直流电源和计算机组成，在暗场条件下，选定积分时间，利用经过辐照后的图像传感器获取暗场图像并保存，根据坐标将图像传感器不同像素单元的相应数据归类放入R、GB、GR或B通道的灰度值矩阵中，再改变积分时间，最后画出暗场下各通道的曲线，该曲线拟合直线的斜率除以图像传感器的转换增益即分别为各通道的暗电流。本发明操作方便简单，可以直观的看出辐照引起器件各通道暗电流退化的情况。从而为大面阵彩色CMOS图像传感器在空间应用时的抗辐射设计提供理论依据和技术支撑。
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公开(公告)号：CN111307418B
公开(公告)日：2022-02-11
申请号：CN201911236879.9
申请日：2019-12-05
Applicant: 中国科学院新疆理化技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种基于红外探测器质子位移效应的低温辐照试验测试方法，该方法涉及装置是由计算机、低噪声直流电源、数据采集及时序控制电路、camlink数据线、GPIB转USB连接线、专用测试杜瓦瓶、温控仪、CDBA‑25Z排线、导线1和导线2组成，将装置放置在辐照室内，然后根据测试暗场或者光场的需求，选择是否在测试杜瓦瓶中安装冷屏，再利用分子泵对封装有红外探测器的测试杜瓦瓶进行排气，并灌装液氮进行制冷，检查各项功能正常后开始辐照测试，结束辐照试验后，利用已有参数，结合采集的图像计算出暗电流、输出信号、暗电流噪声、响应率、探测率和缺陷像元。本发明所述方法实现了红外探测器的低温在线辐照测试，可靠性高、装置连接简单、操作方便、方法简单易行。
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