一种球面波干涉体全息光栅角度放大器

    公开(公告)号:CN118732111A

    公开(公告)日:2024-10-01

    申请号:CN202410998742.1

    申请日:2024-07-24

    摘要: 一种基于球面波干涉体全息光栅结构的角度放大器,所述的球面波干涉体全息光栅的光栅矢量在通光面上不同的位置有着不同的大小和方向,并且满足特定的表达式。本发明采用球面波干涉体全息光栅作为光束角度放大器件,结构简单,无需堆叠或复用即可实现偏转角度的连续放大,且具有低损耗、偏振无关、无源工作的特性。本发明可以与多种光束偏转器配合使用以提升角度偏转的能力,且对多种全息记录材料都有良好的兼容性,是理想的非机械式角度放大器件,在激光光束偏转技术领域具有良好的实用前景。

    一种大占宽比亚波长周期光栅的制备方法

    公开(公告)号:CN114815025A

    公开(公告)日:2022-07-29

    申请号:CN202210596749.1

    申请日:2022-05-17

    IPC分类号: G02B5/18 G03F7/00 G03F7/42

    摘要: 一种大占宽比亚波长周期光栅结构制备方法,采用Bosch刻蚀技术在硅衬底上制备出侧壁带有锯齿状结构的光栅母版,使用纳米压印技术将光栅母版结构转移到压印胶中,然后采用镀膜技术沉积一层薄膜材料作为掩膜,最后通过lift‑off工艺将压印胶图形剥离并形成大占宽比光栅结构。本发明利用Bosch刻蚀技术形成的光栅侧面锯齿状结构替代传统负性光刻胶的倒梯形结构,避免了因镀膜过程中薄膜材料对光栅结构的包裹导致的lift‑off剥离困难问题,并解决了因负性光刻胶光刻胶分辨率不足导致的大占宽比、亚波长周期光栅结构制备难题,为大占宽比、亚波长周期光栅结构的制备提供了一种新的思路。

    高效主动换热光谱合束光栅集成化模块及其制备方法

    公开(公告)号:CN111854291A

    公开(公告)日:2020-10-30

    申请号:CN202010704210.4

    申请日:2020-07-21

    IPC分类号: F25D17/02 F25D29/00

    摘要: 一种高效主动换热光谱合束光栅集成化模块及其制备方法,整个模块包括光栅结构层、光栅基板、微通道冷却层、导流层、密封板和冷却液进出口部分组成,首先利用高热导、低膨胀材料制备光栅基板、微通道冷却层和密封板,然后利用共晶焊料在真空焊炉中将所有部件焊接在一起并进行退火处理,随后对光栅基板再次抛光修正其面形,并最终在其表面完成合束光栅结构制备。本发明解决了传统的冷却方案因冷却模块和合束光栅相互独立而导致的整个光栅冷却模块装配复杂、体积大、重量重、冷却效果不理想的问题,十分有利于高功率光谱合束系统的小型化、轻量化。

    基于等效温度的光学元件弱吸收测试装置及方法

    公开(公告)号:CN109900737B

    公开(公告)日:2020-06-30

    申请号:CN201910167946.X

    申请日:2019-03-06

    IPC分类号: G01N25/20 G01K17/00 G01J5/00

    摘要: 本发明提出一种基于等效温度的光学元件弱吸收测试装置及方法,首先利用泵浦激光辐照样品,达到稳态后利用红外热像仪记录样品表面最高温度,并利用泵浦光功率计测试样品的反射和透射功率;第二步,利用探测激光器(CO2激光器,光斑尺寸与泵浦激光光斑大小相同)辐照样品表面,一般CO2对于介质膜等光学元件吸收率为1,逐渐增加探测激光功率使得样品表面温度达到第一次测试的温度,此时读取探测光功率计中的功率;最后利用探测光功率计的读数比上样品的反射与透射功率之和,即为样品表面的弱吸收率。本发明主要利用一般光学元件对CO2激光的吸收率为1,样品在泵浦光辐照下的温度特性来测试表面的弱吸收率,相比现有的技术测试不仅精度高而且操作更加简单、方便,不需要后期数据处理。

    一种基于光热折变玻璃的反射式体光栅制备方法

    公开(公告)号:CN110879433A

    公开(公告)日:2020-03-13

    申请号:CN201911167157.2

    申请日:2019-11-25

    IPC分类号: G02B5/18

    摘要: 一种基于光热折变玻璃的反射式体光栅制备方法,包括步骤:(1)曝光面进行精抛光;采用双束紫外平行光形成的干涉条纹对PTR玻璃进行曝光;采用450-550℃的温度进行热显影;沿垂直于曝光入射面方向切割;对切割面精抛光处理后镀上对使用波长λ使透过率大于99.5%的全介质减反膜,完成反射式体光栅的制备。本发明通过调节曝光角度θ可实现对使用波长的调控,通过对曝光时长、热处理温度和时长实现对反射式体光栅的衍射效率(10%~99%)进行调控,通过切割厚度(0.3mm~30mm)调控实现对光谱半高宽(0.02nm~1nm)进行调控。通过工艺参数调节实现自由调控,且有利于实现规模化量产。

    基于等效温度的光学元件弱吸收测试装置及方法

    公开(公告)号:CN109900737A

    公开(公告)日:2019-06-18

    申请号:CN201910167946.X

    申请日:2019-03-06

    IPC分类号: G01N25/20 G01K17/00 G01J5/00

    摘要: 本发明提出一种基于等效温度的光学元件弱吸收测试装置及方法,首先利用泵浦激光辐照样品,达到稳态后利用红外热像仪记录样品表面最高温度,并利用泵浦光功率计测试样品的反射和透射功率;第二步,利用探测激光器(CO2激光器,光斑尺寸与泵浦激光光斑大小相同)辐照样品表面,一般CO2对于介质膜等光学元件吸收率为1,逐渐增加探测激光功率使得样品表面温度达到第一次测试的温度,此时读取探测光功率计中的功率;最后利用探测光功率计的读数比上样品的反射与透射功率之和,即为样品表面的弱吸收率。本发明主要利用一般光学元件对CO2激光的吸收率为1,样品在泵浦光辐照下的温度特性来测试表面的弱吸收率,相比现有的技术测试不仅精度高而且操作更加简单、方便,不需要后期数据处理。