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公开(公告)号:CN118980732A
公开(公告)日:2024-11-19
申请号:CN202411200091.3
申请日:2024-08-29
申请人: 中国电子科技集团公司第二十六研究所
摘要: 本发明公开了一种微电子器件封装气氛检测工装及其使用方法,该气氛检测工装包括顶面敞口设置的腔体,腔体的顶面设有环形的密封槽,密封槽内设有第一密封圈,同时在腔体顶面可拆卸设有盖体,盖体压设固定在腔体顶面,从而将腔体顶面封闭;腔体上设有检测口,在腔体内设有伸缩密封机构,以通过伸缩密封机构的伸缩实现检测口的启闭。本发明在能对微电子器件和封装材料进行气氛检测,不需要焊接密封,可以有效提高检测效率,且所述气氛检测工装可以重复使用,不会微电子器件封装产品造成破坏。
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公开(公告)号:CN118650228A
公开(公告)日:2024-09-17
申请号:CN202410691490.8
申请日:2024-05-30
申请人: 中国电子科技集团公司第二十六研究所
摘要: 本发明属于芯片制备技术领域,尤其涉及一种芯片植球夹具装置及芯片植球方法,芯片植球夹具装置包括底座以及与底座插接的连接板组,连接板组包括沿背离底座方向依次连接的支撑板、植球网板和顶板,植球网板夹设于支撑板和顶板之间,连接板组与底座之间设置有容置空间,容置空间内可拆卸设置有托板;托板上设置有用于放置芯片的多个托板芯片位,支撑板上设置有多个支撑板芯片位,植球网板上设置有多个植球位,托板芯片位、支撑板芯片位和植球位一一对应,位于托板芯片位上的芯片穿过支撑板芯片位并向植球位延伸,且植球位与芯片之间具有间隙。本发明可实现BGA芯片的大规模植球,防止植球网板直接接触焊锡膏而影响植球质量,提高植球可操作性和成功率。
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公开(公告)号:CN118248670A
公开(公告)日:2024-06-25
申请号:CN202410413356.1
申请日:2024-04-08
申请人: 中国电子科技集团公司第二十六研究所
IPC分类号: H01L23/538 , H01L21/768
摘要: 本发明提供一种三维堆叠模组及其制备方法,该模组包括:封装基板,嵌有一个基底槽和多个焊接槽,焊接槽分布于基底槽边缘呈阶梯状,基底槽上堆叠有至少两层电路基板形成的功能电路,焊接槽包括用于传输高频信号或低频信号的第一焊盘,第一焊盘与沿堆叠方向的最底层电路基板键合连接;气密围框,设于封装基板上且围绕除最底层电路基板之外的电路基板,气密围框内侧设有与每层电路基板平行的至少一个凸台,凸台和电路基板的接地互连,在保证电路基板信号传输的射频性能的同时,提高了多层电路基板之间的信号隔离度,模组的可靠性高。
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