孔位置精密测量及评定方法及系统

    公开(公告)号:CN112033282A

    公开(公告)日:2020-12-04

    申请号:CN202010774117.0

    申请日:2020-08-04

    Abstract: 本发明提供一种孔位置精密测量及评定方法及系统,包括:可用于点、划线位置找准的专用点测量工装设计;点测量工装适用的几种测量情景及其使用方法;端面对接孔位置偏差的测量和计算评定方法。本发明提供的测量方法,可实现对点、划线的高效测量;使用测量得到的点、线、孔等要素构造坐标系,并根据不同要求,评定孔位的实际值与理论值的偏差,当只考虑端面对接情况时,可通过转动及平移,依据特定的判定准则,得到各对接孔位置度的最佳匹配值,避免由于测量造成的质量错判。

    舱体测量工作站、舱体非接触测量方法及系统

    公开(公告)号:CN111879253A

    公开(公告)日:2020-11-03

    申请号:CN202010574299.7

    申请日:2020-06-22

    Abstract: 本发明专利提供了一种舱体测量工作站、舱体非接触测量方法及系统,建立舱体测量工作站,包括立柱、工业测量相机、地轨、O型环、激光扫描仪、L型支撑、控制台。具体步骤为1)多相机系统定向、2)相机测量坐标系与扫描仪测量坐标系统一、3)完成数据采集、4)开展数据分析、5)测量工作结束,系统复位。本发明为自动化非接触测量,避免了人员素质因素对测量结果的影响,显著提升了测量准确性、提升了测量效率,具有较高的推广使用价值。

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