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公开(公告)号：CN1965372A
公开(公告)日：2007-05-16
申请号：CN200580019040.X
申请日：2005-06-08
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G06F11/267
Abstract: 本发明提供了使安装在存储器系统上的存储器模块或安装在存储器模块上的数个存储器进入测试模式的方法，和引入了执行该方法的第一寄存器和第二寄存器。每个存储器制造者提供了相互不同的使存储器进入测试模式的MRS代码和相互不同的使存储器进入测试模式的方法。因此，将测试MRS的个数存储在控制存储器的第一寄存器中，和将测试MRS代码编程到第二寄存器中。另外，用于确定测试MRS的个数的存储在第一寄存器中的每个位分别对应于存储相应测试MRS代码的每个第二寄存器。
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公开(公告)号：CN1744228A
公开(公告)日：2006-03-08
申请号：CN200510081930.5
申请日：2005-07-08
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11C5/04 , G06F13/1689 , G11C7/22 , G11C7/222 , G11C8/18 , G11C11/401 , G11C29/12015 , G11C29/14
Abstract: 一种利用非周期性时钟的存储器模块、存储器单元和集线器以及使用它们的方法。一种示例性的存储器模块可以包括：锁相环，用于接收外部周期性时钟和产生一个或多个内部周期性时钟；以及多个存储器单元，用于接收内部周期性时钟之一或来自外部源的非周期性时钟。
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公开(公告)号：CN102681868A
公开(公告)日：2012-09-19
申请号：CN201110456338.4
申请日：2011-12-30
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G06F11/2284 , G06F9/4401 , G06F11/2289
Abstract: 一种对包括在引导操作期间被选择性地测试的易失性存储器器件的信息处理系统进行引导的方法，该方法包含：从信息处理系统读取当前系统配置信息的步骤；把当前系统配置信息与非易失存储器器件中相应的预先存储的系统配置信息进行比较的步骤；以及根据比较结果选择性地执行对易失性存储器器件的测试的步骤。一种信息处理系统包含：电路板；安装在电路板上的处理器；安装在电路板上并耦合到处理器的易失性存储器器件；以及被配置成存储电路板、处理器和易失性存储器器件的序列号的非易失性存储器器件，其中，处理器被配置成用于监视测试易失性存储器器件的触发条件，并被配置成选择性地执行用于检查易失性存储器器件中的存储器单元的测试和用于优化连接在易失性存储器器件和处理器之间的信道的信号完整性的训练。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1722306A
公开(公告)日：2006-01-18
申请号：CN200510077886.0
申请日：2005-06-13
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11C29/08 , G11C5/04 , G11C2029/5602
Abstract: 一种测试存储器模块的方法，该方法包括：将存储器模块的中心单元转换至透明模式；将对应于第一地址的第一数据提供给存储器模块的中心单元；将存储器模块的中心单元的第一数据提供给存储器的第一地址；将第一期望数据提供给存储器模块的中心单元；向存储器模块的中心单元输出存储在存储器的第一地址处的第二数据；以及将第二数据与第一期望数据进行比较。
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公开(公告)号：CN1965372B
公开(公告)日：2012-03-21
申请号：CN200580019040.X
申请日：2005-06-08
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G06F11/267
Abstract: 本发明提供了使安装在存储器系统上的存储器模块或安装在存储器模块上的数个存储器进入测试模式的方法，和引入了执行该方法的第一寄存器和第二寄存器。每个存储器制造者提供了相互不同的使存储器进入测试模式的MRS代码和相互不同的使存储器进入测试模式的方法。因此，将测试MRS的个数存储在控制存储器的第一寄存器中，和将测试MRS代码编程到第二寄存器中。另外，用于确定测试MRS的个数的存储在第一寄存器中的每个位分别对应于存储相应测试MRS代码的每个第二寄存器。
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公开(公告)号：CN1722306B
公开(公告)日：2011-01-26
申请号：CN200510077886.0
申请日：2005-06-13
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11C29/08 , G11C5/04 , G11C2029/5602
Abstract: 一种测试存储器模块的方法，该方法包括：将存储器模块的中心单元转换至透明模式；将对应于第一地址的第一数据提供给存储器模块的中心单元；将存储器模块的中心单元的第一数据提供给存储器的第一地址；将第一期望数据提供给存储器模块的中心单元；向存储器模块的中心单元输出存储在存储器的第一地址处的第二数据；以及将第二数据与第一期望数据进行比较。
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公开(公告)号：CN100474545C
公开(公告)日：2009-04-01
申请号：CN200510068906.8
申请日：2005-04-27
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G01R31/2889 , G01R1/07378
Abstract: 本发明公开了一种用于高频系统级测试的测试板。该测试板包括具有用导电材料填充的通孔的主板。这些孔可以位于主板上已经去除了原有的模块插座的一部分上。接口板具有在其前表面和后表面上的表面安装器件(SMD)焊盘。在接口板的前表面上的SMD焊盘与在其后表面上的SMD焊盘通过在接口板内的交叉连接线路连接，用于管脚交换。主板的通孔与接口板的后表面上的SMD焊盘通过在导向器处固定的铁芯连接。在接口板的前表面上的SMD焊盘的表面上安装测试模块插座。
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公开(公告)号：CN1700437A
公开(公告)日：2005-11-23
申请号：CN200510068906.8
申请日：2005-04-27
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G01R31/2889 , G01R1/07378
Abstract: 本发明公开了一种用于高频系统级测试的测试板。该测试板包括具有用导电材料填充的通孔的主板。这些孔可以位于主板上已经去除了原有的模块插座的一部分上。接口板具有在其前表面和后表面上的表面安装器件(SMD)焊盘。在接口板的前表面上的SMD焊盘与在其后表面上的SMD焊盘通过在接口板内的交叉连接线路连接，用于管脚交换。主板的通孔与接口板的后表面上的SMD焊盘通过在导向器处固定的铁芯连接。在接口板的前表面上的SMD焊盘的表面上安装测试模块插座。
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