一种自动清除料盘残留设备及清除方法

    公开(公告)号:CN114275444B

    公开(公告)日:2024-12-24

    申请号:CN202210053379.7

    申请日:2022-01-18

    Abstract: 本发明提供了一种自动清除料盘残留设备及清除方法,一种自动清除料盘残留设备包括上料台、和收料台,所述上料台和收料台之间设置传送组件,传送组件上设有清除装置,所述上料台用于将料盘推送至传送组件,所述料盘经所述传送组件传送至所述收料台,所述清除装置用于将所述料盘上的残留芯片清除。本发明能够解决目前芯片在加工生产过程中,需要料盘进行输送,料盘需循环使用,在料盘再次使用前需人工目检其正反面有无芯片残留,由于是人工目检容易出现漏检现象导致混料的技术问题。

    六行TO263框架及其加工方法

    公开(公告)号:CN118099123B

    公开(公告)日:2024-08-06

    申请号:CN202410457869.2

    申请日:2024-04-17

    Abstract: 本发明提供了一种六行TO263框架及其加工方法,涉及芯片封装技术领域,包括框架本体,框架本体上设置有三行打凹区,相邻两行打凹区之间连接有引脚区一,打凹区包括两行基岛区和一行散热区,散热区设置于两行基岛区之间,基岛区包括有若干横向设置的基岛,散热区包括有若干横向设置的散热片,引脚区一包括有若干横向设置的引脚件,上下侧的打凹区相互远离的一侧设置有框架边框。本发明通过设置有三行打凹区,以及每一个打凹区内设置有两行基岛区,即形成了六行基岛区,从而增加了框架上芯片的安装数量,提高了框架的利用率,单次的加工效率得到了显著提升,实用性及经济性强。

    高稳定性的MEMS封装产品及其制造方法

    公开(公告)号:CN114084866B

    公开(公告)日:2024-08-06

    申请号:CN202111210616.8

    申请日:2021-10-18

    Abstract: 本发明提供了一种高稳定性的MEMS封装产品及其制造方法,产品包括基板、ASIC芯片和SENSOR芯片,所述ASIC芯片和SENSOR芯片安装在基板上,所述基板设有真空空间,所述真空空间位于ASIC芯片和SENSOR芯片的安装位置下端。制造方法包括:在基板上的ASIC芯片和SENSOR芯片的安装位置下端设置真空空间;将ASIC芯片安装在基板上的对应位置;将SENSOR芯片安装在基板上的对应位置;进行封装。本发明通过在ASIC芯片和SENSOR芯片的安装位置下的基板内设计真空空间,虽然在经过封装加工及烘烤后还会出现形变,但真空空间的存在使得形变不会对产品性能造成影响,即产品到客户端上板时不会出现感度离散、感度漂移等现象,实现了MEMS封装产品的优化,提高了MEMS封装产品的质量。

    六行TO263框架及其加工方法

    公开(公告)号:CN118099123A

    公开(公告)日:2024-05-28

    申请号:CN202410457869.2

    申请日:2024-04-17

    Abstract: 本发明提供了一种六行TO263框架及其加工方法,涉及芯片封装技术领域,包括框架本体,框架本体上设置有三行打凹区,相邻两行打凹区之间连接有引脚区一,打凹区包括两行基岛区和一行散热区,散热区设置于两行基岛区之间,基岛区包括有若干横向设置的基岛,散热区包括有若干横向设置的散热片,引脚区一包括有若干横向设置的引脚件,上下侧的打凹区相互远离的一侧设置有框架边框。本发明通过设置有三行打凹区,以及每一个打凹区内设置有两行基岛区,即形成了六行基岛区,从而增加了框架上芯片的安装数量,提高了框架的利用率,单次的加工效率得到了显著提升,实用性及经济性强。

    一种GaN芯片的封装结构
    6.
    发明授权

    公开(公告)号:CN116230702B

    公开(公告)日:2024-04-26

    申请号:CN202310507410.4

    申请日:2023-05-08

    Abstract: 本发明涉及一种GaN芯片的封装结构,包括框架基岛、框架引脚、GaN芯片、控制芯片和塑封体,GaN芯片为场效应管,GaN芯片正装固定在框架基岛上,控制芯片上的控制引脚以铜柱的方式引出,控制芯片倒装地设置在框架引脚和GaN芯片上,控制芯片上的多个控制引脚分别与GaN芯片的G极、框架基岛和框架引脚直接焊接固定。本发明用了创新型的3D堆叠结构,先把控制芯片上的控制引脚以铜柱的方式引出,然后将控制芯片倒装地设置在框架引脚和GaN芯片上,控制芯片上的控制引脚与GaN芯片的G极连通距离大幅缩短,而且铜柱的导电面积大,产生的自感电感极小,对GaN芯片开关速度影响大幅减小,从而使GaN芯片充分发挥效能。

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