一种自动清除料盘残留设备及清除方法

    公开(公告)号:CN114275444B

    公开(公告)日:2024-12-24

    申请号:CN202210053379.7

    申请日:2022-01-18

    Abstract: 本发明提供了一种自动清除料盘残留设备及清除方法,一种自动清除料盘残留设备包括上料台、和收料台,所述上料台和收料台之间设置传送组件,传送组件上设有清除装置,所述上料台用于将料盘推送至传送组件,所述料盘经所述传送组件传送至所述收料台,所述清除装置用于将所述料盘上的残留芯片清除。本发明能够解决目前芯片在加工生产过程中,需要料盘进行输送,料盘需循环使用,在料盘再次使用前需人工目检其正反面有无芯片残留,由于是人工目检容易出现漏检现象导致混料的技术问题。

    一种自动清除料盘残留设备及清除方法

    公开(公告)号:CN114275444A

    公开(公告)日:2022-04-05

    申请号:CN202210053379.7

    申请日:2022-01-18

    Abstract: 本发明提供了一种自动清除料盘残留设备及清除方法,一种自动清除料盘残留设备包括上料台、和收料台,所述上料台和收料台之间设置传送组件,传送组件上设有清除装置,所述上料台用于将料盘推送至传送组件,所述料盘经所述传送组件传送至所述收料台,所述清除装置用于将所述料盘上的残留芯片清除。本发明能够解决目前芯片在加工生产过程中,需要料盘进行输送,料盘需循环使用,在料盘再次使用前需人工目检其正反面有无芯片残留,由于是人工目检容易出现漏检现象导致混料的技术问题。

    一种适用于重力式分选机的压测装置

    公开(公告)号:CN114535148B

    公开(公告)日:2024-02-09

    申请号:CN202210046105.5

    申请日:2022-01-17

    Abstract: 本发明公开了一种适用于重力式分选机的压测装置,包括:压测座、驱动装置、下压装置和控制器;所述压测座设置在所述下压装置的下方,所述驱动装置设置在所述下压装置的上方,所述下压装置和所述驱动装置均与所述控制器电连接。本发明所述的适用于重力式分选机的压测装置,下压装置可以使芯片的引脚和压测座具有足够的接触面积和接触力度,压测座则使得本压测装置不会对待测产品的尺寸、型号有任何限制,只需要根据待测产品定制特定的压测座即可,由此便可以使本压测装置具有较高的利用率,不再需要单独定制压测机器,降低测试成本。

    一种高速编带自动拆带机及拆带方法

    公开(公告)号:CN114275269B

    公开(公告)日:2023-03-31

    申请号:CN202210070385.3

    申请日:2022-01-21

    Abstract: 本发明公开了一种高速编带自动拆带机及拆带方法,自动拆带机包括背板,背板上设有分隔壳,第二卷轴设于分隔壳内,第一卷轴、第三卷轴设置于分隔壳外。分隔壳上设置有第一分离口、第二分离口,分隔壳内位于第二卷轴下方两侧设置有第一压轮组、第二压轮组。把卷盘装在拆带机的第二卷轴上,从卷盘上取出尾带,并剥离出面带和载带,将剥离的面带放入第一压轮组,将剥离的载带放入第二压轮组,再将面带和载带分别穿过第一分离口、第二分离口并分别固定于第一卷轴、第三卷轴,通过卷轴、压轮的转动,并使得载带通过分离口,使得芯片从载带上被剥离下来,解决了现有拆带过程中由于人工拆带的作业方式在手法及速度上动作不一,造成产品散落遗失的问题。

    一种适用于重力式分选机的压测装置

    公开(公告)号:CN114535148A

    公开(公告)日:2022-05-27

    申请号:CN202210046105.5

    申请日:2022-01-17

    Abstract: 本发明公开了一种适用于重力式分选机的压测装置,包括:压测座、驱动装置、下压装置和控制器;所述压测座设置在所述下压装置的下方,所述驱动装置设置在所述下压装置的上方,所述下压装置和所述驱动装置均与所述控制器电连接。本发明所述的适用于重力式分选机的压测装置,下压装置可以使芯片的引脚和压测座具有足够的接触面积和接触力度,压测座则使得本压测装置不会对待测产品的尺寸、型号有任何限制,只需要根据待测产品定制特定的压测座即可,由此便可以使本压测装置具有较高的利用率,不再需要单独定制压测机器,降低测试成本。

    一种4位和8位测试座相互兼容装置

    公开(公告)号:CN114414989A

    公开(公告)日:2022-04-29

    申请号:CN202210046077.7

    申请日:2022-01-17

    Abstract: 本发明公开了一种4位和8位测试座相互兼容装置,包括:测试座、L支架和固定座,所述测试座与所述L支架和固定座中的任意一个连接,所述L支架可拆卸连接于所述测试座侧端,所述固定座可拆卸连接于所述测试座顶端。本发明在测试座侧端设置L支架,通过L支架调节测试座的水平位置,实现测试板卡的4站并测,将L支架更换为原有的固定座,实现OS产品的8站并测,操作简单,有效实现了4站和8站的兼容测试,优化了测试平台的利用率,提高了测试产能,降低设备使用成本,减少资源浪费。

    一种高速编带自动拆带机及拆带方法

    公开(公告)号:CN114275269A

    公开(公告)日:2022-04-05

    申请号:CN202210070385.3

    申请日:2022-01-21

    Abstract: 本发明公开了一种高速编带自动拆带机及拆带方法,自动拆带机包括背板,背板上设有分隔壳,第二卷轴设于分隔壳内,第一卷轴、第三卷轴设置于分隔壳外。分隔壳上设置有第一分离口、第二分离口,分隔壳内位于第二卷轴下方两侧设置有第一压轮组、第二压轮组。把卷盘装在拆带机的第二卷轴上,从卷盘上取出尾带,并剥离出面带和载带,将剥离的面带放入第一压轮组,将剥离的载带放入第二压轮组,再将面带和载带分别穿过第一分离口、第二分离口并分别固定于第一卷轴、第三卷轴,通过卷轴、压轮的转动,并使得载带通过分离口,使得芯片从载带上被剥离下来,解决了现有拆带过程中由于人工拆带的作业方式在手法及速度上动作不一,造成产品散落遗失的问题。

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