一种基于压缩光学的空间光学实验室系统

    公开(公告)号:CN103471628A

    公开(公告)日:2013-12-25

    申请号:CN201310372830.2

    申请日:2013-08-23

    Abstract: 一种基于压缩光学的空间光学实验室系统,包括望远装置、光束控制装置、二维跟踪机构、窗口、密封舱载荷适配器、非密封舱载荷适配器、综合管理模块、载荷模块;二维跟踪机构驱动望远装置对准观测区域,由望远装置接收目标信号;望远装置将目标信号大口径的平行光压缩成小口径的平行光后送至光束控制装置;光束控制装置将接收到的平行光束送至非密封舱载荷适配器,同时平行光束还通过窗口送至密封舱载荷适配器;将非密封舱载荷适配器以及密封舱载荷适配器与载荷模块相连,完成实验任务。本发明采用该总体设计理念,能够充分体现系统的扩展性与通用性,真正体现了未来“空间光学技术实验室”的顶层定位要求。

    一种用于CMOS图像传感器的高速高精度斜坡生成模块

    公开(公告)号:CN115955613B

    公开(公告)日:2025-03-07

    申请号:CN202211436544.3

    申请日:2022-11-16

    Abstract: 本发明涉及一种用于CMOS图像传感器的高速高精度斜坡生成模块,属于CMOS图像传感器领域;包括2N+2M个电流舵单元、单向斜坡控制模块、电阻Rload、电阻Rdummy、电容Cfilter;其中,单向斜坡控制模块设置有2N+2M控制信号输出端,每个输出端分别连接在对应1个电流舵单元的2个输入端;每个电流舵单元的一个输出端连接电阻Rdummy后接地,另一个输出端与斜坡参考电压输出点Vout连接;斜坡参考电压输出点Vout分别与电阻Rload和电容Cfilter并联;实现台阶形式的信号经过滤波生成斜坡;本发明可消除输出点的毛刺glitch电压,进而提升整体读出电路的噪声、微分非线性、积分非线性性能,并可降低不同芯片之间的斜坡偏差。

    一种提高干法刻蚀精度的薄膜辅助方法和干法刻蚀产品

    公开(公告)号:CN118983300A

    公开(公告)日:2024-11-19

    申请号:CN202410966953.7

    申请日:2024-07-18

    Abstract: 本发明公开一种提高干法刻蚀精度的薄膜辅助方法和干法刻蚀产品。在待刻材料表面设计一刻蚀监控区A,通过监控A区的材料刻蚀情况来得到器件刻蚀区域B的材料刻蚀情况。通常在材料刻蚀前,会在待刻蚀材料的表面生长一层介质层,用来作为材料刻蚀的掩膜层。将A区掩膜层设计为具有周期性图案的介质薄膜。在材料刻蚀过程中,通过该具有周期性图案的薄膜对EPD信号进行调制和放大,从而加强EPD信号的强度和可分析性。通过监控区的材料刻蚀情况来得到器件区的材料刻蚀情况。周期性图案覆盖区域与从待刻蚀材料区域反射回的光发生干涉叠加,不仅改善了EPD监控曲线的形态,还提高了其强度,使得原本难以监控的薄膜厚度变化变得可实时精确监控。

    一种基于角镜阵列的星载望远镜外杂光在轨抑制方法

    公开(公告)号:CN118502097A

    公开(公告)日:2024-08-16

    申请号:CN202410522708.7

    申请日:2024-04-28

    Abstract: 本发明提供一种基于角镜阵列的星载望远镜杂散光在轨抑制方法,属于星载望远镜杂散光抑制技术领域。首先对遮光罩内壁靠近入光口的位置用锐角三角形网格进行划分;接着以每一个锐角三角形为底、确定每个角镜的顶点到其对应的底边锐角三角形的三个顶点的距离;确定每个角镜的顶点在其对应的底边锐角三角形的投影点;确定角镜顶点的投影点到底边锐角三角形三个顶点的距离;基于上述方法确定角镜阵列的每个角镜的形状及位置;最后在角镜阵列表面镀具备宽谱段高反射率的膜层。本发明实现望远镜遮光罩抑制高杂散光的效果,避免了遮光罩温度的剧烈波动。

    一种多通道温度传感器本底噪声测量系统及方法

    公开(公告)号:CN118067275A

    公开(公告)日:2024-05-24

    申请号:CN202410153434.9

    申请日:2024-02-02

    Abstract: 一种多通道温度传感器本底噪声测量系统及方法,利用热接触装置将多通道温度传感器充分热接触,使它们达到同一热平衡态,具有相同的温度;利用加热制冷装置对其进行温度调制,进一步增加个通道间信号的相关性;最后相关性分析理论构建通道间的虚拟传函,从而将传感器测量信号建立相关性联系,然后基于功率谱分析思想,解出各个温度传感器的本底噪声,达到对温度传感器各通道非相关噪声的测量目的。该方法的优点是无需构建低温度噪声环境来排除对温度传感器本底噪声测量的干扰,可以有效降低测量成本,增加测量的便捷性。

    一种红外单图像暗角非均匀性校正方法

    公开(公告)号:CN117392029A

    公开(公告)日:2024-01-12

    申请号:CN202311275113.8

    申请日:2023-09-28

    Abstract: 本发明涉及一种红外单图像暗角非均匀性校正方法,属于红外图像处理领域;对m行n列像素的红外图像Z进行亮度均匀化处理,得到亮度均匀化红外图像X;根据亮度均匀化红外图像X计算视场中心初值(s0,t0)和权重初值r0;构建红外单图像暗角非均匀性目标函数H(r,s,t);基于初值(r0,s0,t0),采用无约束极小化优化方法对非均匀性目标函数H(r,s,t)进行优化计算获得最优解利用最优的权重和视场中心值 对输入的红外图像Z进行暗角校正计算得到结果图Y,完成校正;本发明能够在有效保持条带非均匀性噪声的前提下进行暗角非均匀性校正,校正原理更合理,能够进一步保证后期红外图像条带非均匀性校正的准确性。

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