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公开(公告)号:CN106876390B
公开(公告)日:2021-11-16
申请号:CN201610561758.1
申请日:2016-07-15
Applicant: 现代自动车株式会社
IPC: H01L27/06 , H01L21/8222
Abstract: 本发明提供一种半导体器件。该器件包括具有设置在n+型碳化硅衬底的第一表面中的沟槽的n‑型层。n+型区和第一p型区设置在n‑型层和沟槽的侧面处。多个第二p型区设置在n‑型层处并与第一p型区隔开。栅极包括分别设置在沟槽处的第一栅极和从第一栅极延伸的多个第二栅极。源极设置在栅极上并与其绝缘。漏极设置在n+型碳化硅衬底的第二表面上。源极接触彼此隔开的多个第二p型区,在第二p型区中设置有n‑型层。
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公开(公告)号:CN107579121B
公开(公告)日:2021-05-28
申请号:CN201611149881.9
申请日:2016-12-13
Applicant: 现代自动车株式会社
IPC: H01L29/872 , H01L29/06 , H01L21/329
Abstract: 本公开提供了肖特基势垒二极管及其制造方法。根据本公开示范性实施方式的肖特基势垒二极管包括:设置在n+型碳化硅基底的第一表面上的n‑型层;设置在n‑型层上的p+型区域和p型区域,p+型区域和p型区域相互分离;设置在n‑型层、p+型区域和p型区域上的阳极;以及设置在n+型碳化硅基底的第二表面上的阴极,其中p型区域有多个,在平面上具有六角形形状,并且以矩阵形状设置,以及设置在p+型区域和p型区域之间的n‑型层在平面上具有六角形形状而且围绕p型区域。
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公开(公告)号:CN107026203B
公开(公告)日:2021-05-04
申请号:CN201610983600.3
申请日:2016-11-09
Applicant: 现代自动车株式会社
Abstract: 本公开涉及半导体器件及其制造方法。一种半导体器件包括:第一n‑型层和第二n‑型层,顺次布置在n+型碳化硅基板的第一表面上;第一沟槽和第二沟槽,布置在第二n‑型层处并且彼此分隔开;p型区域,围绕第一沟槽的侧表面和下表面;n+型区域,布置在p型区域和第二n‑型层上;栅极绝缘层,布置在第二沟槽中;栅电极,布置在栅极绝缘层上;氧化层,布置在栅电极上;源电极,布置在氧化层和n+型区域上且布置在第一沟槽中;以及漏极,布置在n+型碳化硅基板的第二表面处。
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公开(公告)号:CN103872147B
公开(公告)日:2018-05-11
申请号:CN201310661032.1
申请日:2013-12-09
Applicant: 现代自动车株式会社
IPC: H01L29/872 , H01L29/06 , H01L21/329
CPC classification number: H01L29/872 , H01L29/1608 , H01L29/66143 , H01L29/8611
Abstract: 本发明涉及一种肖特基势垒二极管及其制造方法,该肖特基势垒二极管包括n‑型外延层,设置在n+型碳化硅基板的第一表面,多个n型支柱区域,设置在n+型碳化硅基板的第一表面的第一部分的n‑型外延层中,多个p+区域,设置在n‑型外延层的表面且与n型支柱区域分离,肖特基电极,设置在n‑型外延层和p+区域上,以及欧姆电极,设置在n+型碳化硅基板的第二表面。n型支柱区域的掺杂密度大于n‑型外延层的掺杂密度。
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公开(公告)号:CN107579109A
公开(公告)日:2018-01-12
申请号:CN201611031572.1
申请日:2016-11-22
Applicant: 现代自动车株式会社
CPC classification number: H01L29/7813 , H01L21/047 , H01L21/26586 , H01L29/1608 , H01L29/45 , H01L29/4916 , H01L29/66068
Abstract: 本发明公开了半导体器件及其制造方法。一种半导体器件,包含:n-型层,布置在n+型碳化硅衬底的第一表面上;第一沟槽和第二沟槽,形成在n-型层中并且彼此分离;n+型区,布置在第一沟槽的侧面与第二沟槽的侧面之间并且布置在n-型层上;栅极绝缘层,布置在第一沟槽内;源极绝缘层,布置在第二沟槽内;栅极,布置在栅极绝缘层上;氧化层,布置在栅极上;源极,布置在氧化层、n+型区、及源极绝缘层上;以及漏极,布置在n+型碳化硅衬底的第二表面上。
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公开(公告)号:CN104465339B
公开(公告)日:2017-07-11
申请号:CN201310757104.2
申请日:2013-12-27
Applicant: 现代自动车株式会社
IPC: H01L21/04
CPC classification number: H01L29/66666 , H01L21/02104 , H01L21/0475 , H01L29/1608 , H01L29/41766 , H01L29/66068 , H01L29/7813
Abstract: 本发明提供一种半导体器件的制造方法,包括:在n+型碳化硅衬底的第一表面上顺序地形成n‑型外延层、p‑型外延层、以及n+区域;在n+区域形成缓冲层;在缓冲层的一部分上形成光敏薄膜图案;利用光敏薄膜图案作为掩模对缓冲层蚀刻以形成缓冲层图案,缓冲层图案布置在光敏薄膜图案下方并露出n+区域的一部分;在n+区域的露出部分和光敏薄膜图案上顺序地形成第一金属层和第二金属层;去除缓冲层图案、光敏薄膜图案、第一金属层的第二部分、以及第二金属层的第二部分;利用第一金属层的第一部分和第二金属层的第一部分作为掩模对n+区域的露出部分蚀刻以形成沟槽,其中沟槽穿过n+区域和p‑型外延层,形成在n‑型外延层上。
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公开(公告)号:CN106876461A
公开(公告)日:2017-06-20
申请号:CN201610474194.8
申请日:2016-06-24
Applicant: 现代自动车株式会社
IPC: H01L29/78 , H01L29/06 , H01L21/336
CPC classification number: H01L29/7806 , H01L21/047 , H01L21/0495 , H01L29/1608 , H01L29/66068 , H01L29/7813 , H01L29/7827 , H01L29/0603 , H01L29/0684 , H01L29/66666
Abstract: 本申请公开了半导体器件及半导体器件的制造方法,该半导体器件包括设置在n+型碳化硅基板的第一表面上的n‑型层,设置在所述n‑型层上且彼此隔开的第一沟槽和第二沟槽,包围所述第一沟槽的侧面和拐角的p型区域,设置在所述p型区域和所述第一沟槽和所述第二沟槽之间的所述n‑型层上的n+型区域,设置在所述第二沟槽内的栅绝缘层,设置在所述栅绝缘层上的栅电极,设置在所述栅电极上的氧化层,设置在所述氧化层和所述n+型区域上且设置在所述第一沟槽内的源电极以及设置在所述n+型碳化硅基板的第二表面上的漏电极,其中所述源电极与所述n‑型层接触。
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公开(公告)号:CN105632950A
公开(公告)日:2016-06-01
申请号:CN201510600204.3
申请日:2015-09-18
Applicant: 现代自动车株式会社
IPC: H01L21/60
CPC classification number: H01L24/83 , B23K1/19 , B23K20/02 , B23K20/026 , B23K35/025 , B23K35/3006 , B23K2103/08 , B23K2103/18 , B23K2103/52 , B23K2103/56 , H01L24/27 , H01L24/29 , H01L24/32 , H01L2224/27332 , H01L2224/2741 , H01L2224/27848 , H01L2224/29109 , H01L2224/29139 , H01L2224/29309 , H01L2224/29339 , H01L2224/29499 , H01L2224/32225 , H01L2224/32507 , H01L2224/83097 , H01L2224/832 , H01L2224/83825 , H01L2224/8384 , H01L2224/83906
Abstract: 一种利用银膏进行粘结的方法,包括:将银膏涂覆在半导体器件或者基板上。该银膏包含银和铟。将半导体放置在基板上。对银膏进行加热以形成粘结层。半导体器件与基板通过粘结层彼此粘结。铟以40摩尔%或者更少的摩尔%被包含在银膏中。
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公开(公告)号:CN105609432A
公开(公告)日:2016-05-25
申请号:CN201510530833.3
申请日:2015-08-26
Applicant: 现代自动车株式会社
IPC: H01L21/60
CPC classification number: H01L24/83 , B23K20/026 , B23K20/16 , B23K20/233 , B23K35/025 , B23K35/264 , B23K35/3006 , B23K2101/42 , B23K2103/166 , H01L24/13 , H01L24/16 , H01L24/29 , H01L24/32 , H01L24/81 , H01L2224/13294 , H01L2224/13313 , H01L2224/13339 , H01L2224/16227 , H01L2224/16505 , H01L2224/29294 , H01L2224/29313 , H01L2224/29339 , H01L2224/32227 , H01L2224/32505 , H01L2224/81191 , H01L2224/81192 , H01L2224/81825 , H01L2224/8184 , H01L2224/83191 , H01L2224/83192 , H01L2224/83825 , H01L2224/8384 , H01L2924/00015 , H01L2924/10272 , H01L2924/201 , H01L2924/2075 , H01L2924/20751 , H05K3/341 , H05K3/3463 , H05K2201/10166 , H05K2203/1131 , H01L2224/29388 , H01L2924/00014 , H01L2224/13388 , H01L2924/00012 , H01L2224/29113 , H01L2224/29139
Abstract: 本申请公开一种使用银浆料进行结合的方法,该方法包括使用银浆料涂覆半导体器件或基板。该银浆料包含多个银颗粒和多个铋颗粒。该方法还包括将半导体器件布置在基板上以及通过加热银浆料来形成结合层,其中半导体器件和基板通过结合层相互结合。
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公开(公告)号:CN104752505A
公开(公告)日:2015-07-01
申请号:CN201410415577.9
申请日:2014-08-21
Applicant: 现代自动车株式会社
IPC: H01L29/78 , H01L29/06 , H01L21/336
CPC classification number: H01L29/7811 , H01L29/0619 , H01L29/0661 , H01L29/086 , H01L29/1608 , H01L29/4238 , H01L29/66068 , H01L29/7813 , H01L29/78 , H01L29/06 , H01L29/0603 , H01L29/0684 , H01L29/66477 , H01L29/7825
Abstract: 一种半导体器件,包括:布置在包括载流区和位于载流区两侧的终端区的n+型碳化硅衬底的第一表面上的第一n-型外延层;布置在第一n-型外延层上的p型外延层;布置在p型外延层上的第二n-型外延层;布置在载流区中的第一沟槽;布置在各个终端区中的第二沟槽;布置在第一沟槽中的栅极绝缘层;布置在栅极绝缘层上的栅电极;以及布置在第二沟槽中的终端绝缘层,其中终端绝缘层的一侧接触p型外延层和第二n-型外延层。
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