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公开(公告)号:CN119180983A
公开(公告)日:2024-12-24
申请号:CN202411206298.1
申请日:2024-08-29
Applicant: 哈尔滨理工大学
IPC: G06V10/764 , G06V10/774 , G06V10/82 , G06V20/10 , G06N3/0464 , G06N20/20
Abstract: 本发明提出基于XGBoost和域自适应的高光谱图像农作物跨场景分类方法,属于图像分类技术领域。首先,将不同场景的高光谱图像数据集输入深度嵌入模型,将高光谱数据嵌入低维空间以捕捉其内在结构和分布,使相似光谱的表示更加接近。然后,引入置信域自适应技术,通过判别器模型减少不同场景特征分布的差异,去除噪声样本,加强特征分布对齐。最后,本发明通过投票组合策略集成多个基分类器,减少单个分类器的偏差,提升泛化能力和鲁棒性。在Houston数据集上,该方法优于传统方法和主流域自适应模型,尤其在经济作物的Grass healthy和Grass stressed类别上效果显著提升。
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公开(公告)号:CN119142765A
公开(公告)日:2024-12-17
申请号:CN202411514307.3
申请日:2024-10-29
Applicant: 哈尔滨理工大学
IPC: B65G45/26 , B65G45/10 , B65G47/248 , B08B5/04
Abstract: 本申请公开了一种光学元件表面检测输送装置,包括输送机构的顶部设置有高度位置可调的活动板,且活动板沿竖向滑动安装至输送槽的内部;活动板的板面上等间距安装有若干个吸尘罩,吸尘罩的吸尘端口朝向输送机构上方的输送载面。本申请的有益之处在于可适用于不同厚度光学元件输送通过的除尘处理,具体通过高度位置可调的活动板以及等间距安装至活动板上的多个吸尘罩的设计,在进行不同厚度光学元件的输送过程中,通过调节活动板的高度位置,保障了吸尘罩底端的吸尘端口可靠近、贴靠至不同厚度的光学元件顶部,避免吸尘罩底端与光学元件之间的间距过大,影响吸尘效果,保障了进行不同厚度光学元件输送过程中的吸尘效果。
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公开(公告)号:CN118682680A
公开(公告)日:2024-09-24
申请号:CN202410984870.0
申请日:2024-07-22
Applicant: 哈尔滨理工大学
IPC: B25B11/00
Abstract: 本发明一种可适应调节的光电器件夹持器涉及精密机械技术领域;该光电器件夹持器包括捆绑链条、驱动结构和间距调节机构,并依次执行以下步骤:间距调节、高度调节、初步夹持、充气夹持和解除夹持;本发明的有益之处在于:采用两个捆绑链条进行光电器件中光学元件的捆绑,利用捆绑链条的柔性特性,使捆绑形状能够随光学元件形状适应调节,满足不同形状光学元件捆绑夹持的需求,提高了夹持器的适用范围;通过多个气囊多位置压紧光学元件周面,提高了夹持效果;此外,将两个捆绑链条设置在不同高度,实现在光学元件不同高度位置同时进行捆绑夹持,确保夹持效果。
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公开(公告)号:CN115508108B
公开(公告)日:2024-05-28
申请号:CN202211235862.3
申请日:2022-10-10
Applicant: 哈尔滨理工大学
IPC: G01M17/007 , B07C5/34 , B07C5/36 , B07C5/38
Abstract: 本发明属于回力车测试技术领域,尤其涉及一种回力车连续测试装置及测试方法,所述的测试装置,包括:测试台、入口车道、螺旋车道、出口车道、转筒、无动力传送带、翻板和测试区,入口车道从螺旋车道的一端接入,螺旋车道的另一端设置有翻板,所述翻板在翻转后能够接入出口车道的一端,出口车道的另一端接入测试区,回力车进入螺旋车道,回力车底部的车轮在螺旋车道上滑动蓄力,在回力车滑动至螺旋车道末端的翻板处后,翻板转动带着回力车接入出口车道,回力车驶入测试区进行测试;避免了手动抓取、拖动蓄力、释放和观察行驶状态的过程,实现回力车的自动质量检测,减小了工作量,提高了质检效率。
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公开(公告)号:CN118071715A
公开(公告)日:2024-05-24
申请号:CN202410266752.6
申请日:2024-03-08
Applicant: 哈尔滨理工大学
IPC: G06T7/00 , G06V10/44 , G06V10/764 , G06V10/82
Abstract: 本发明基于改进YOLOv7的PCB表面缺陷检测方法属于深度学习和质量检测技术领域;该方法针对YOLOv7算法在特征提取阶段无法有效捕捉图像中关键特征的问题,引入了CBAM注意力机制,提升了0.93%的mAP指标;针对损失函数在处理目标位置误差和大小误差时不够准确的问题,引入了Focal‑EIOU损失函数,提升了0.19%的mAP指标;针对传统的ReLU激活函数无法很好处理空间特征信息的敏感性问题,引入了FReLU激活函数,提升了1.31%的mAP指标。改进后的YOLOv7算法的mAP指标提高了3.96个百分点,达到了94.79%。其中检测漏孔、毛刺、鼠咬、短路、断路和余铜缺陷的平均精确率分别达到98.01%、90.20%、93.26%、98.23%、92.60%和96.41%。
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公开(公告)号:CN117781922A
公开(公告)日:2024-03-29
申请号:CN202311818173.X
申请日:2023-12-26
Applicant: 哈尔滨理工大学
IPC: G01B11/22
Abstract: 一种结构光深度成像仪结构参数校正方法属于结构光三维测量技术领域。该方法包括以下步骤:先构建结构光深度成像仪的解析成像模型;再构建结构光深度成像仪的深度成像误差模型;第三,在结构参数附加不同误差时获取标准平面最大深度测量值;第四,获取结构参数附加不同误差时标准平板最大深度的测量误差平均值;第五,获取最大深度下的深度成像误差模型参数;第六,获取结构参数无附加误差时标准平板最大深度的测量误差平均值;第六,获取结构参数自身误差;最后,得到结构参数校正后的解析成像模型和深度测量值。本发明有益效果在于:相比现有结构光深度成像仪,本发明方法得到了更准确的结构参数,显著减小了结构参数误差所导致的深度测量误差。
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公开(公告)号:CN117682310A
公开(公告)日:2024-03-12
申请号:CN202311798086.2
申请日:2023-12-26
Applicant: 哈尔滨理工大学
IPC: B65G47/90
Abstract: 本发明一种可调节高稳定性的光学元件上料器涉及工业机械设备技术领域;所述光学元件上料器包括:用于夹持光学元件的夹持固定结构,所述夹持固定结构固定设置在保护结构处,所述夹持固定结构对光学元件进行防滑夹持;所述保护结构与移动结构之间连接,所述移动结构与支撑调节结构之间连接,所述支撑调节结构固定设置在调节底座上,所述保护结构对抓取移动过程中的光学元件进行防污染保护,本发明通过夹持固定结构对光学元件进行抓取夹持,通过调节底座和支撑调节结构带动光学元件移动,实现上料;此外,夹持固定结构能够夹持不同形状的光学元件,充分保持光学元件的稳定性。
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公开(公告)号:CN117204858A
公开(公告)日:2023-12-12
申请号:CN202311154779.8
申请日:2023-09-08
Applicant: 哈尔滨理工大学
Abstract: 本发明脑电图电极固定装置及其电极固定、推送和头部限位结构涉及脑电检测医疗器械技术领域;通过支撑结构和横梁结构的配合使用,能够方便调节电极固定结构的位置,便于覆盖在患者的头部,与传统电极固定帽相比,不需要医护人员手动佩戴;通过电极固定结构和推送结构的配合,能够使电极紧密贴合在患者头部,以适应不同头型和不同头部大小的患者,解决了现有技术无法紧密贴合头部的问题;头部限位结构能够对患者头部起到定位限位作用,避免检查时头部偏移造成的误差,并且检查时自动对头部限位,起身时自动松开,解决了现有技术需要医护人员手动固定患者头部的麻烦问题,使用更加方便。
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公开(公告)号:CN117180052A
公开(公告)日:2023-12-08
申请号:CN202311263614.4
申请日:2023-09-27
Applicant: 哈尔滨理工大学
Abstract: 本发明一种脑电检查躺床的调节方法涉及脑电检查及医疗器械技术领域;该调节方法采用可旋转的调节板进行角度调节,提高患者躺卧舒适性;通过设置侧板和弧形板对患者的腿部和腰部进行限位固定,通过采用气囊对患者肢体进行固定,并提高患者舒适性,避免患者出现负面情绪而影响检查,且调节操作简单,能够针对不同患者进行快速调节;通过设置颈托和头托实现患者颈部和头部支撑,并具有缓冲功能,提高使用舒适性,通过设置托板可调节位置,方便患者在躺卧后调节至适当位置,并通过限位垫对颈部和头部进行固定,避免头部晃动。
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公开(公告)号:CN116699522A
公开(公告)日:2023-09-05
申请号:CN202310596117.X
申请日:2023-05-24
Applicant: 哈尔滨理工大学
IPC: G01S5/22
Abstract: 本发明一种基准时间优化的手机声波到达时间差测量方法属于室内定位技术领域;该方法包括以下步骤:首先,设置系统和设定系统参数;然后,设计、生成和发射啁啾信号;第三,麦克风接收得到啁啾信号;第四,进行互相关运算,得到相对于基准时间初值的到达时间差;第五,针对基准时间进行优化,得到基准时间优化值;最后,进行互相关运算,得到相对于基准时间优化值的到达时间差。本发明相比到达时间差测量法,有益效果在于能够始终保持基准时间最短,明显地减小了到达时间差的测量误差。
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