包括具有交叉耦合结构的锁存器的集成电路器件

    公开(公告)号:CN110783333A

    公开(公告)日:2020-02-11

    申请号:CN201910669988.3

    申请日:2019-07-23

    Inventor: 都桢湖

    Abstract: 提供了集成电路器件。所述器件可以包括衬底,所述衬底包括第一区域、第二区域以及位于所述第一区域与所述第二区域之间的边界区域。所述第一区域和所述第二区域可以在第一水平方向上彼此间隔开。所述器件还可以包括位于所述第一区域上的第一锁存器、位于所述第二区域上的第二锁存器以及在所述第一水平方向上延伸并跨过所述边界区域的导电层。所述第一锁存器可以包括第一垂直场效应晶体管(VFET)、第二VFET、第三VFET和第四VFET。所述第二锁存器可以包括第五VFET、第六VFET、第七VFET和第八VFET。所述第一VFET和所述第七VFET可以沿着所述第一水平方向布置。所述导电层的部分可以分别包括所述第一VFET的栅电极和所述第七VFET的栅电极。

    包括马蹄足结构导电图案的集成电路

    公开(公告)号:CN110518009A

    公开(公告)日:2019-11-29

    申请号:CN201910383239.4

    申请日:2019-05-09

    Abstract: 本公开提供了包括马蹄足结构导电图案的集成电路。该集成电路包括标准单元。标准单元可以包括多条栅线和多个第一布线。所述多个第一布线可以包括马蹄足结构导电图案,该马蹄足结构导电图案包括彼此间隔开的第一导电图案和第二导电图案。第一导电图案和第二导电图案中的每个可以包括在第一方向上延伸的第一线图案和在垂直于第一方向的方向上从第一线图案的一端突出的第二线图案。所述多条栅线可以在第一方向上彼此间隔开第一节距,并且所述多个第二布线可以在第一方向上彼此间隔开第二节距。第一节距可以大于第二节距。

    半导体器件
    57.
    发明公开
    半导体器件 审中-实审

    公开(公告)号:CN119698067A

    公开(公告)日:2025-03-25

    申请号:CN202411693670.6

    申请日:2019-02-21

    Abstract: 提供了一种半导体器件。半导体器件包括在衬底上彼此相邻的第一逻辑单元和第二逻辑单元、以及在第一逻辑单元与第二逻辑单元之间在第一方向上延伸的混合分离结构。每个逻辑单元包括:第一有源图案和第二有源图案,第一有源图案和第二有源图案在与第一方向相交的第二方向上延伸,并且在第一方向上彼此间隔开;以及栅电极,在第一方向上延伸并跨越第一有源图案和第二有源图案,并且所述多个栅电极以栅极间距间隔开。混合分离结构包括将第一逻辑单元的第一有源图案与第二逻辑单元的第一有源图案分离的第一分离结构;以及第一分离结构上的第二分离结构。第一分离结构的宽度大于栅极间距。

    半导体器件
    58.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110211955B

    公开(公告)日:2024-12-13

    申请号:CN201910135780.3

    申请日:2019-02-21

    Abstract: 提供了一种半导体器件。半导体器件包括在衬底上彼此相邻的第一逻辑单元和第二逻辑单元、以及在第一逻辑单元与第二逻辑单元之间在第一方向上延伸的混合分离结构。每个逻辑单元包括:第一有源图案和第二有源图案,第一有源图案和第二有源图案在与第一方向相交的第二方向上延伸,并且在第一方向上彼此间隔开;以及栅电极,在第一方向上延伸并跨越第一有源图案和第二有源图案,并且所述多个栅电极以栅极间距间隔开。混合分离结构包括将第一逻辑单元的第一有源图案与第二逻辑单元的第一有源图案分离的第一分离结构;以及第一分离结构上的第二分离结构。第一分离结构的宽度大于栅极间距。

    标准单元及包括其的集成电路
    59.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118507481A

    公开(公告)日:2024-08-16

    申请号:CN202410548964.3

    申请日:2018-04-11

    Abstract: 提供了标准单元及包括其的集成电路。该集成电路包括:多个标准单元,每个标准单元包括在第一方向上延伸的至少一个有源区域、在第二方向上延伸的至少一个栅线以及形成在第一导电层中的至少一个图案;以及多个电源轨,沿着所述多个标准单元的边界在第一方向上延伸。所述多个电源轨中的第一电源轨包括第一图案,第一图案形成在比第一导电层高的第二导电层中并沿着所述多个标准单元中的第一标准单元的边界在第一方向上延伸。第一图案在第一方向上的长度小于第一标准单元在第一方向上的长度。

    半导体器件
    60.
    发明公开
    半导体器件 审中-公开

    公开(公告)号:CN118368880A

    公开(公告)日:2024-07-19

    申请号:CN202410011020.2

    申请日:2024-01-03

    Abstract: 一种半导体器件,包括:衬底上的第一晶体管和第二晶体管;在第一晶体管与第二晶体管之间提供的隔离晶体管;衬底的下部中的下电源线;和背侧栅极接触件,其穿透衬底并连接到下电源线和隔离晶体管的虚设栅电极。

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