三维半导体器件
    52.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109309095A

    公开(公告)日:2019-02-05

    申请号:CN201810386727.6

    申请日:2018-04-26

    Inventor: 朴玄睦

    Abstract: 一种三维半导体器件包括:衬底,具有单元阵列区域和接触区域;堆叠结构,包括在垂直方向上交替地堆叠在衬底上的多个电极和多个电极隔离绝缘层并在接触区域上具有阶梯式结构;垂直结构,在单元阵列区域中穿透堆叠结构,垂直结构的每个构成单元串;以及字线接触插塞,每个字线接触插塞在具有阶梯式结构的堆叠结构的梯面部分的每个的区域中穿透所述多个电极当中最上面的电极、连接到所穿透的最上面的电极下方的另一电极、并与所述穿透的最上面的电极电绝缘。

    三维半导体存储器件
    54.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108461502A

    公开(公告)日:2018-08-28

    申请号:CN201810153746.4

    申请日:2018-02-22

    Abstract: 本公开提供了三维半导体存储器件。一种三维半导体存储器件可以包括垂直地穿过三维半导体存储器件的单元阵列区域中的堆叠结构的上结构和下结构的垂直沟道结构。垂直沟道结构可以具有在垂直沟道结构中的上结构与下结构相遇的水平面处具有台阶轮廓的侧壁。垂直虚设结构可以在该三维半导体存储器件的连接区域中垂直地穿过由上结构和下结构限定的阶梯结构,并且垂直虚设结构可以具有在上结构与下结构相遇的水平面处具有平坦轮廓的侧壁。

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