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公开(公告)号：CN113505560B
公开(公告)日：2023-10-03
申请号：CN202110691125.3
申请日：2021-06-22
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G06F30/394 , G06F30/398
Abstract: 本发明涉及一种FPGA布线拥塞预测方法及系统，包括：首先将FPGA布线拥塞预测问题建模为图像转换问题；根据所述图像转换问题，提取出所需要的特征信息参数；定义循环一致性生成对抗网络模型对所述图像转换问题进行求解，得到布线拥塞预测的结果。通过本发明所设计的FPGA布线拥塞预测方法及系统，可以在布局阶段根据一系列的中间及结果文件，对布线拥塞的结果进行精准预测，从而降低布线迭代所需耗费的时间，进一步提升FPGA EDA工具的工作效率，为FPGA的健康可持续发展提供有力支撑。
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公开(公告)号：CN109656870B
公开(公告)日：2023-07-04
申请号：CN201811378251.8
申请日：2018-11-19
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 一种SRAM型FPGA在轨动态重构管理的系统及方法，支持最多四通道、六种型号SRAM型FPGA，具备上电配置、动态配置、定时刷新、回读刷新、定时回读、动态重构、轮询校验的能力，多项工作任务在动态重构管理芯片的统一调度下进行切换，通过硬控制信号或串口控制指令进行工作模式调整，并且通过串口控制指令能够获取内部工作状态信息。
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公开(公告)号：CN114879957A
公开(公告)日：2022-08-09
申请号：CN202210302675.6
申请日：2022-03-24
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 一种利用可扩展标签语言编辑Eclipse界面及调用工具的方法，利用编写好的XML文件对Eclipse界面进行设计开发，生成一个菜单界面，包括：菜单中的层次关系，每个菜单项的图标以及功能函数调用；或在Eclipse中调用外部工具，并为每个工具创建和传递参数，将配置参数以及外部工具调用指令以命令行的形式输出，完成后将生成结果在Eclipse中显示；或指定输入文件及文件类型，调用Eclipse的插件开发接口，完成对界面工具的使用。本方法中限定了Eclipse界面的布局，只需要利用XML文件创建或编辑界面中的不同元素并指定元素类型及属性，无需再进行排版设计、界面布局，从而减轻了界面设计的复杂程度；通过XML代码调用外部工具或使用Eclipse插件来完成功能设计，简化了代码设计过程，提高开发效率。
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公开(公告)号：CN105702296A
公开(公告)日：2016-06-22
申请号：CN201610127480.7
申请日：2016-03-07
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 一种单粒子加固FPGA的用户寄存器状态捕获电路，包括用户寄存器、晶体管M3、晶体管M4、SRAM存储单元、捕获信号产生电路，晶体管M3、晶体管M4放置在用户寄存器、SRAM存储单元之间，捕获信号产生电路产生输出信号CAPTURE，控制导通晶体管M3、晶体管M4导通，实现数据捕获回读。本发明状态捕获电路与现有技术相比，通过进行捕获回读操作，如果发现配置存储器阵列中存储的配置码流发生单粒子翻转，可以进行动态部分重配，如果配置存储器阵列中存储捕获用户寄存器状态的SRAM存储单元状态出现错误，可以对相应的逻辑进行复位处理，显著降低了FPGA芯片的单粒子翻转累积效应。
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公开(公告)号：CN103293468A
公开(公告)日：2013-09-11
申请号：CN201310121467.7
申请日：2013-04-09
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G01R31/3185
Abstract: 一种便于器件故障敏感度测试的故障注入系统及方法，注入系统包括控制芯片、待测器件和对比器件，待测器件与对比器件为相同的FPGA芯片且均与控制芯片连接，控制芯片包括待测器件故障注入模块、运行激励模块、结果比较模块和错误信息上传模块。控制芯片通过翻转配置码流的方式将故障注入进待测芯片中，同时运行待测器件和对比芯片，之后对比两者的运行结果，如果结果相同，证明待测器件没有发生错误，对该位错误不敏感，反之，证明待测器件发生错误，该位为错误敏感位。本发明可以方便的检测可编程逻辑器件的故障敏感度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119849392A
公开(公告)日：2025-04-18
申请号：CN202411812271.7
申请日：2024-12-10
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G06F30/327 , G06N3/006 , G06N5/04
Abstract: 本发明提供了一种基于遗传算法的调试信号选择方法，包括：解析目标电路门级网表，将网表中所有寄存器按顺序进行二进制编码，一个二进制编码作为一个基因，形成基因库；根据拟选择调试信号数量、基因库和种群规模，随机初始化种群，并确定初始化种群中每个个体的恢复率；对初始化种群中的个体进行选择、交叉、变异以生成新种群；确定新种群中每个个体的恢复率，判断是否满足停止条件；若满足停止条件，选择恢复率最高个体的基因组合作为拟选择调试信号，若不满足停止条件，则重复初始化种群及种群中个体选择、交叉、变异过程，至满足停止条件。本发明解决了现有调试信号选择方法中存在的选择出的调试信号组可恢复程度不高以及运行速度慢的问题。
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公开(公告)号：CN117873614A
公开(公告)日：2024-04-12
申请号：CN202311747138.3
申请日：2023-12-18
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 一种FPGA芯片内部资源可视化方法，包括获取FPGA芯片内部的资源信息，然后将获取到的资源信息进行编码，并在开始资源图形绘制时进行解码，然后对资源信息分类，依次设置绘制信息，并转化为同一类型数据，最后对这些数据进行统一渲染，得到芯片资源图像。该方法通过编码和解码的方式降低了在绘制时所使用的数据量，并采用转化为同一类型数据后统一渲染的方式实现所有图形的统一绘制，最终较为精确的绘制了芯片内部各个物理资源的位置和区别，以便于开发人员可以更好的优化电路。
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公开(公告)号：CN117729106A
公开(公告)日：2024-03-19
申请号：CN202311578712.7
申请日：2023-11-23
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: H04L41/0803 , H04L41/0823 , H04L69/08
Abstract: 本发明涉及一种针对硬件链路的通用型JTAG下载系统以及方法，属于集成电路设计领域。上位机根据接口配置文件配置下载器，向下载器发送扫描指令；下载器扫描待下载硬件链路，获得待下载目标芯片的个数及每个待下载目标片对应的IDCODE，反馈给上位机；上位机根据收到的IDCODE信息，索引待下载目标芯片的名称、器件类型，根据待下载目标芯片的个数及器件类型，自动化生成目标芯片配置文件和下载函数，根据目标芯片配置文件配置待下载目标芯片，调用下载函数将待下载目标芯片的码流传输至下载器；下载器将待下载目标芯片的码流转换为JTAG形式，通过JTAG接口传输至待下载目标芯片。
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公开(公告)号：CN113886158A
公开(公告)日：2022-01-04
申请号：CN202111145489.8
申请日：2021-09-28
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G06F11/22 , G06F11/263
Abstract: 本发明涉及一种自动化的FPGA故障注入测试系统以及方法，该方法包括通过上位机软件读取待测电路文件；提取其中的输入输出信号等用户设计相关的信息；根据提取的信息自动生成用户设计控制电路，并与预定义的故障注入控制电路进行互连结合，自动生成完整的故障注入系统文件；通过Tcl脚本自动执行下位机硬件的综合实现过程；从而实现故障注入系统的自动化生成。本发明降低了故障注入系统的开发难度和使用门槛，节省了手工搭建故障注入系统的繁琐，使得设计人员无需深入研究复杂的FPGA设计方法，无需具备电路设计基础，即可方便进行故障注入系统的开发与搭建，提升了故障注入系统的使用范围，设计人员可以快速便捷地评估FPGA电路的可靠性。
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公开(公告)号：CN113505560A
公开(公告)日：2021-10-15
申请号：CN202110691125.3
申请日：2021-06-22
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G06F30/394 , G06F30/398
Abstract: 本发明涉及一种FPGA布线拥塞预测方法及系统，包括：首先将FPGA布线拥塞预测问题建模为图像转换问题；根据所述图像转换问题，提取出所需要的特征信息参数；定义循环一致性生成对抗网络模型对所述图像转换问题进行求解，得到布线拥塞预测的结果。通过本发明所设计的FPGA布线拥塞预测方法及系统，可以在布局阶段根据一系列的中间及结果文件，对布线拥塞的结果进行精准预测，从而降低布线迭代所需耗费的时间，进一步提升FPGA EDA工具的工作效率，为FPGA的健康可持续发展提供有力支撑。
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