半导体器件及其制造方法
    21.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107026203B

    公开(公告)日:2021-05-04

    申请号:CN201610983600.3

    申请日:2016-11-09

    Abstract: 本公开涉及半导体器件及其制造方法。一种半导体器件包括:第一n‑型层和第二n‑型层,顺次布置在n+型碳化硅基板的第一表面上;第一沟槽和第二沟槽,布置在第二n‑型层处并且彼此分隔开;p型区域,围绕第一沟槽的侧表面和下表面;n+型区域,布置在p型区域和第二n‑型层上;栅极绝缘层,布置在第二沟槽中;栅电极,布置在栅极绝缘层上;氧化层,布置在栅电极上;源电极,布置在氧化层和n+型区域上且布置在第一沟槽中;以及漏极,布置在n+型碳化硅基板的第二表面处。

Patent Agency Ranking