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公开(公告)号:CN107026203B
公开(公告)日:2021-05-04
申请号:CN201610983600.3
申请日:2016-11-09
Applicant: 现代自动车株式会社
Abstract: 本公开涉及半导体器件及其制造方法。一种半导体器件包括:第一n‑型层和第二n‑型层,顺次布置在n+型碳化硅基板的第一表面上;第一沟槽和第二沟槽,布置在第二n‑型层处并且彼此分隔开;p型区域,围绕第一沟槽的侧表面和下表面;n+型区域,布置在p型区域和第二n‑型层上;栅极绝缘层,布置在第二沟槽中;栅电极,布置在栅极绝缘层上;氧化层,布置在栅电极上;源电极,布置在氧化层和n+型区域上且布置在第一沟槽中;以及漏极,布置在n+型碳化硅基板的第二表面处。
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公开(公告)号:CN110444605A
公开(公告)日:2019-11-12
申请号:CN201811320109.8
申请日:2018-11-07
IPC: H01L29/872 , H01L21/04
Abstract: 本发明涉及半导体装置及其制造方法。一种半导体装置可以包括设置在衬底的第一表面处的n-型层;设置在n-型层顶部处的p-型区域和p+型区域;设置在p-型区域和p+型区域上的第一电极;以及设置在衬底的第二表面处的第二电极,其中,第一电极包括设置在p-型区域上的第一金属层和设置在第一金属层上的第二金属层,并且所述第一金属层与p-型区域连续接触。
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公开(公告)号:CN108615730A
公开(公告)日:2018-10-02
申请号:CN201710755153.0
申请日:2017-08-29
CPC classification number: H01L29/1608 , H01L21/0445 , H01L29/1095 , H01L29/41766 , H01L29/4236 , H01L29/66068 , H01L29/7802 , H01L29/7806 , H01L29/7813 , H01L29/7827 , H01L29/7839 , H01L29/872 , H01L51/105 , H01L27/0727 , H01L21/8213
Abstract: 一种半导体器件及其制造方法。一种半导体器件可以包括:n-型层,其设置在n+型碳化硅衬底的第一表面处;p-型区域、p型区域、n+型区域和p+型区域,各设置在n-型层的上部;栅电极和源电极,各设置在n-型层上并彼此绝缘;以及漏电极,其设置在n+型碳化硅衬底的第二表面处,其中,源电极与p-型区域、n+型区域和p+型区域接触,并且源电极可以包括欧姆结区域和肖特基结区域,所述欧姆结区域设置在源电极与n+型区域的接触部分处以及源极区域与p+型区域的接触部分处,而所述肖特基结区域设置在源电极与p-型区域的接触部分处。
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公开(公告)号:CN107579109A
公开(公告)日:2018-01-12
申请号:CN201611031572.1
申请日:2016-11-22
Applicant: 现代自动车株式会社
CPC classification number: H01L29/7813 , H01L21/047 , H01L21/26586 , H01L29/1608 , H01L29/45 , H01L29/4916 , H01L29/66068
Abstract: 本发明公开了半导体器件及其制造方法。一种半导体器件,包含:n-型层,布置在n+型碳化硅衬底的第一表面上;第一沟槽和第二沟槽,形成在n-型层中并且彼此分离;n+型区,布置在第一沟槽的侧面与第二沟槽的侧面之间并且布置在n-型层上;栅极绝缘层,布置在第一沟槽内;源极绝缘层,布置在第二沟槽内;栅极,布置在栅极绝缘层上;氧化层,布置在栅极上;源极,布置在氧化层、n+型区、及源极绝缘层上;以及漏极,布置在n+型碳化硅衬底的第二表面上。
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公开(公告)号:CN106876461A
公开(公告)日:2017-06-20
申请号:CN201610474194.8
申请日:2016-06-24
Applicant: 现代自动车株式会社
IPC: H01L29/78 , H01L29/06 , H01L21/336
CPC classification number: H01L29/7806 , H01L21/047 , H01L21/0495 , H01L29/1608 , H01L29/66068 , H01L29/7813 , H01L29/7827 , H01L29/0603 , H01L29/0684 , H01L29/66666
Abstract: 本申请公开了半导体器件及半导体器件的制造方法,该半导体器件包括设置在n+型碳化硅基板的第一表面上的n‑型层,设置在所述n‑型层上且彼此隔开的第一沟槽和第二沟槽,包围所述第一沟槽的侧面和拐角的p型区域,设置在所述p型区域和所述第一沟槽和所述第二沟槽之间的所述n‑型层上的n+型区域,设置在所述第二沟槽内的栅绝缘层,设置在所述栅绝缘层上的栅电极,设置在所述栅电极上的氧化层,设置在所述氧化层和所述n+型区域上且设置在所述第一沟槽内的源电极以及设置在所述n+型碳化硅基板的第二表面上的漏电极,其中所述源电极与所述n‑型层接触。
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