一种基于拓展栅晶体管的非接触式实时静电监测方法

    公开(公告)号:CN111443270A

    公开(公告)日:2020-07-24

    申请号:CN202010153268.4

    申请日:2020-03-07

    Applicant: 复旦大学

    Inventor: 朱国栋 刘蔚林

    Abstract: 本发明属于电子技术领域,具体为一种基于拓展栅晶体管的非接触式实时静电监测方法。本发明以场效应晶体管为主体,用导体将场效应晶体管的栅极拓展作为监测端;在场效应晶体管的源极和漏极之间加上恒定的电压,将栅极引出的监测端以非接触的方式靠近带静电的物体,通过监测源极与漏极之间的电流,以及监测端与被测物体间的距离,可以得到静电的电位。本方法可用于环境或物体的实时静电监测。本发明方法主要解决现有技术中设计复杂、成本较高的问题。

    一种强度可电调节的表面倏逝波场的产生装置

    公开(公告)号:CN110780466A

    公开(公告)日:2020-02-11

    申请号:CN201910974554.4

    申请日:2019-10-14

    Applicant: 复旦大学

    Abstract: 本发明属于导波光学技术领域,具体为一种强度可电调节的表面倏逝波场装置。本发明装置包括:耦合棱镜,电控双折射液晶盒,交流电信号驱动器,以及准直激光光源;电控双折射液晶盒由上、下两块基板对合封装组成;上、下基板的表面镀制有功能薄膜:透明ITO导电膜层、液晶定向层,液晶灌注于两液晶定向层之间;耦合棱镜与液晶盒的下基板处贴合;交流电信号驱动器与液晶盒中的上下两透明ITO导电膜层连接;所述准直激光光源发出的准直激光束从耦合棱镜的一个斜边入射,在液晶盒的上基板外层产生可电调节的表面倏逝波场。倏逝场的强度最高增强范围可达到多个数量级。本装置在表面显微测量,生物学,表面化学,显微光谱等领域有重要应用前景。

    一种基于拓展栅晶体管结构的表面电位测量方法

    公开(公告)号:CN110556305A

    公开(公告)日:2019-12-10

    申请号:CN201910733844.X

    申请日:2019-08-09

    Applicant: 复旦大学

    Inventor: 朱国栋

    Abstract: 本发明属于仪器仪表技术领域,具体为一种基于拓展栅晶体管结构的表面电位测量方法。本发明的表面电位测量方法,采用如下部件构成的测试系统:电压源、电流表、晶体管、测试端;电压源用于给晶体管施加源漏偏压;电流表用于测试晶体管源漏偏压下的沟道电流;测试端与晶体管栅极电连接构成拓展栅晶体管结构,用于与待测物间产生静电感应;测试时,对晶体管施加恒定的源漏偏压,将待测物在垂直方向上靠近测试端;测量特定源漏偏压下测试端与待测物不同间距下晶体管源漏电流,经过数据拟合,即获得待测物的表面电位值。本发明方法操作简单,计算方便,精度可靠,可用于各类导体、半导体、绝缘体表面电位的测量。

    溶剂蒸气处理铁电聚合物薄膜的方法

    公开(公告)号:CN104194024B

    公开(公告)日:2017-12-19

    申请号:CN201410403031.1

    申请日:2014-08-16

    Applicant: 复旦大学

    Inventor: 朱国栋

    Abstract: 本发明属于聚合物薄膜技术领域,具体为一种溶剂蒸气处理铁电聚合物薄膜的方法。本发明方法是把偏二氟乙烯‑三氟乙烯共聚物(简称(P(VDF‑TrFE)))薄膜置于充满丁酮饱和蒸气的密封玻璃腔中,在室温下静置4‑6小时,即可获得具有优良结晶特性和铁电性能的P(VDF‑TrFE)薄膜。

    一种高电学稳定性的铁电/半导体/PMMA三元复合阻变薄膜及其制备方法

    公开(公告)号:CN105514273A

    公开(公告)日:2016-04-20

    申请号:CN201510950012.5

    申请日:2015-12-18

    Applicant: 复旦大学

    Inventor: 朱国栋

    CPC classification number: H01L51/0591 H01L51/0003 H01L51/0032

    Abstract: 本发明属于阻变存储器技术领域,具体为一种高电学稳定性的铁电/半导体/PMMA三元复合阻变薄膜及其制备方法。本发明的三元复合阻变薄膜是对铁电/半导体复合薄膜进行聚甲基丙烯酸甲脂(PMMA)掺杂而得到,PMMA的掺杂量与铁电聚合物的质量比为0.1:10-0.3:10。该三元复合薄膜的表面粗糙度、抗电疲劳特性和阻态保持性能都得到明显改善。由于PMMA与铁电聚合物P(VDF-TrFE)互溶性佳,可有效降低铁电相的漏电特性;而PMMA与有机半导体,如P3HT,形成层状相分离结构,可有效抑制半导体相的漏电,降低半导体相电击穿的风险。

    一种微纳尺寸有机铁电颗粒的制备方法

    公开(公告)号:CN103483746A

    公开(公告)日:2014-01-01

    申请号:CN201310429297.9

    申请日:2013-09-22

    Applicant: 复旦大学

    Inventor: 朱国栋

    Abstract: 本发明涉及一种微纳尺寸有机铁电颗粒的制备方法。在铁电聚合物的丁酮溶液中添加适量的第二种溶剂(水、丙酮、乙醇)并均匀混合,混合溶液涂布于干净基片表面,待溶剂挥发后即可获得微纳尺寸的铁电聚合物颗粒。通过铁电聚合物溶液质量浓度的调节以及第二种溶剂的选取,可以获得不同粒径的铁电颗粒。本发明制备工艺简单,通过两种溶剂的混合即可实现微纳尺寸铁电聚合物颗粒的制备,且通过对两种溶剂体积比以及铁电聚合物质量浓度的调节可实现铁电聚合物颗粒粒径的调控。

    一种无损的测定原子力显微镜探针形状参数的方法

    公开(公告)号:CN101256070A

    公开(公告)日:2008-09-03

    申请号:CN200810036160.6

    申请日:2008-04-17

    Applicant: 复旦大学

    Abstract: 本发明属于测量技术领域,具体为一种无损伤的测定原子力显微镜探针形态参数的方法。通过用待测探针分别扫描分散状聚苯乙烯微球和密排状聚苯乙烯微球,获取一定参数后,用扫描时探针和微球的几何关系所确定的方程式来计算即可求得待测探针的针尖曲率半径r和锥角θ。本发明还阐述了微球样品的制备方法。本发明操作简单,花费的成本与时间少,测试精度高,结果可靠。

    一种基于叉指电极拓展栅结构的晶体管接近传感器

    公开(公告)号:CN116953799A

    公开(公告)日:2023-10-27

    申请号:CN202310867855.3

    申请日:2023-07-16

    Applicant: 复旦大学

    Inventor: 朱国栋 许珈玮

    Abstract: 本发明属于仪器仪表技术领域,具体为一种基于叉指电极拓展栅结构的晶体管接近传感器。本发明的接近传感器由电压源、电流表、晶体管、叉指电极等部分组成。电压源用于给晶体管漏极和叉指电极远栅端供电,叉指电极近栅端经由导电引线与晶体管栅极电连接。本发明的接近传感器的工作机制依赖于目标物与叉指电极间的静电感应、目标物对叉指电极电容的调控作用以及目标物对叉指电极近栅端分压的调制作用三者间的协同增强作用。带电目标物或是不带电目标物靠近叉指电极拓展栅端时,均可导致晶体管源漏电流改变,从而实现接近传感功能。

    一种具有不同偏振带宽的光学带通滤波器

    公开(公告)号:CN114265145A

    公开(公告)日:2022-04-01

    申请号:CN202111626565.7

    申请日:2021-12-28

    Applicant: 复旦大学

    Abstract: 本发明属于导波光学技术领域,具体为一种具有不同偏振带宽的光学带通滤波器。该光学滤波器,可同时通过横电波和横磁波两种偏振波,其通带的中心波长重合,但通带宽度各不相同,从而对两个偏振波分别形成宽带和窄带的带通滤波作用;具体包括:一个柱体(圆柱或方柱)与平面光波导的复合透明体;将柱体沿纵轴成一定角度切开,在一个切面上根据透射中心波长,制备平面光波导;平面光波导由不同折射率及厚度的薄膜构成,再将两个切割体沿切面帖合、密封,构成复合体;复合体两端面镀制相应的宽带增透膜。本带通滤波器透过率可达100%,其中窄带宽的通带带宽可达到亚纳米量级,在光通讯、激光技术、精密光谱技术等方面有重要应用价值。

    一种高结晶度半导体膜转移制造方法

    公开(公告)号:CN112687799A

    公开(公告)日:2021-04-20

    申请号:CN202011510746.9

    申请日:2020-12-19

    Applicant: 复旦大学

    Abstract: 本发明属于半导体器件制造技术领域,具体一种高结晶度半导体膜转移制造方法。本发明方法利用具有粘度调节特性的热剥离胶带,将在诱导结晶模板上制备的半导体薄膜转移到目标衬底上,实现半导体内高度结晶区域与载流子传输区域的重合,并控制半导体膜分子链的取向排列,优化载流子传输效率,以便获得高电性能的半导体器件,从而实现高电学性能半导体器件的可靠制造。

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